origin 直接处理XPS数据说明

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(1)数据输入:将得到的ASIIcode文档在excell中打开,将里面的bindingenergy和intensity两列数据拷贝到origin中作图。注意:其峰位是未经过荷电校正的不能用来判断价态。(2)荷电校正:将你的横坐标加上或减去所给的C1s校准值后,在origin中连线得到的谱图就是正确的谱图。(3)谱图分峰拟合:在origin中,经过平滑,得到下图:1、去本底:选择toolsàbaseline 3、出现下面的窗口,选择baseline,将numberofpoints后的参数改小一些,比如2,点击createbaseline4、出现下图:选择小窗口中的modify: 5、拖动每一点到合适的位置(点住鼠标左键不放一直拖到合适的位置):如图6、然后选择substract得到 7、分别点击X轴、Y轴将坐标更换为原来顺序和数值同时关闭baseresult:8、如图:选择analysisàFitmulti-peaksàgaussian 9、出现下面的窗口:按需要拟合的子峰个数输入10、点击ok,得到:11、点击OK默认选择,根据谱图的形状双击选择子峰位置(红十字代表峰顶):如图 12、刚才设置为两个子峰,所以双击两个位置,这时电脑自动计算出相关数据:如果想要看拟合后的曲线,需激活(调出)谱图窗口。然后,选择analysisànonlinercurvefit如图:13、得到: 14、上图不合理,两子峰半峰宽相差太大,需要加入新的子峰进行调整。点击下图中more按钮15、出现下图:更改为2增加一个子峰,依次类推点击此按钮出现此图界面16、选择basicmodeàstartfitting回到原界面,点击1lter和10lter 知道出现新的子峰峰位置、半峰宽和面积17、上图明显也不合理,调节小窗口中各个子峰的数值18、然后点击下图中done按钮,再次激活谱图窗口,选择analysisànon-linearcurvefit,反复修改直到得到满意的谱图 谱峰分析注意事项:l不能一味的平滑,有时不平滑反而能更准确的反映样品的性质l校正要有理有据,不能随意更改。解谱注意事项:Ø各个子峰的半峰宽要尽量接近。Ø如果所解谱图不是1S,就会出现谱峰分裂(比如:2p1/2和2p3/2)此时,一定要根据谱图手册,按谱峰间距解谱。(见附属文件:各元素结合能与峰间距)Ø对于裂分峰峰面积不能随意拟合,要按谱图手册的比例进行,一般情况面积比:2p1/2:2p3/2=1:2,3d3/2:3d5/2=2:3,4f5/2:4f7/2=3:4。注意:以上方法得出的数据,仅供参考。

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