组件几项常规实验介绍.pptx

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1、组件几项常规可靠性实验介绍许理东—2014.1.8目录TC200TC50+HF10PID测试LIDDH1000TC200TC200：冷热循环实验目的：要求：组件在-40℃～85℃之间循环200次，在温度超过25℃对组件通入Ipm，并对组件的电流连续性和温度进行监控标准：组件测试后外观完好、最大功率衰减＜5%，湿漏电及绝缘性>40MΩ·㎡（溶液要求表面张力＜0.03N/m，电阻率＜3500Ω·cm，温度为22±3℃）DH1000DH1000：组件双85实验，组件在85℃、85％RH条件下进行测试目的：要求：组件在温度85℃±2℃

2、、湿度85％±5％的条件下，测试1000h标准：组件测试后外观完好、最大功率衰减＜5%，湿漏电及绝缘性>40MΩ·㎡（溶液要求表面张力＜0.03N/m，电阻率＜3500Ω·cm，温度为22±3℃）TH50+HF10TH50+HF10：目的：要求：组件在-40℃～85℃之间循环50圈，最高和最低之间的温度变化速率不超过100℃/h，每个极端条件下应保持稳定至少10min，一次循环不超过6h，然后直接却换-40℃～85℃之间循环10圈,85℃下应保持稳定至少20h，低温-40℃最少保持0.5h一次循环不超过24h。在高温阶段加85

3、％RH，并对组件的电流连续性和温度进行监控标准：组件测试后外观完好、最大功率衰减＜5%，湿漏电及绝缘性>40MΩ·㎡（溶液要求表面张力＜0.03N/m，电阻率＜3500Ω·cm，温度为22±3℃）PID测试PID测试：潜在的电势诱导衰减目的：要求：组件在85℃、85％RH通入反向1000V电压，持续96H标准：功率衰减值＜5%，EL无异常LID测试LID测试：目的：要求：标准：功率衰减值＜5%，EL无异常