XPS数据分析基本过程知识讲解.doc

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1、…………………………………………………………最新精品资料推荐……………………………………………………XPS数据分析基本过程定性分析首先扫描全谱，由于荷电存在使结合能升高，因此要通过C结合能284.6eV对全谱进行荷电校正，然后对感兴趣的元素扫描高分辨谱，将所得结果与标准图谱对照，由结合能确定元素种类，由化学位移确定元素得化学状态，为了是结果准确在每一次扫描得结果分别进行荷电校正。XPS谱图中化学位移的分析一般规律为：1、原子失去价电子或因与电负性高的原子成键而显正电时，内层电子结合能升高。2、原子获得

2、电子而荷负电时，内层电子结合能减小。3、氧化态越高，结合能越大。4、价层发生某种变化时，所有内层电子化学位移相同。5、对于XPS峰主量子数n小的壳层比n大的峰强，n相同的角量子数l大的峰强，n，l相同的j大的峰强。定量分析选取最强峰的面积或强度作为定量计算的基础，多采用灵敏度因子法，因为各元素产生光电子时的含量强度和含量不一定成正比，从而利用灵敏度因子对强度进行修正，其做法为：以峰边、背景的切线交点为准扣除背景，计算峰面积或峰强，然后分别除以相应元素的灵敏度因子法，就可得到各元素的相对含量，这个相对含

3、量是原子个数相对含量即摩尔相对含量。XPS图谱的分峰处理由于在制备过程中外界条件不可能完全均匀一致，因而对于同一元素可能存在不同的化学态，而各化学态产生的峰又有可能相互重叠，这样就对定性、定量分析带来了不便，因而在进行数据分析时需要对可能存在重叠的峰进行分峰处理，目前有很多数据处理软件可以进行分峰运算，其原理都是利用高斯－洛沦兹函数，其中XPSpeak为一位台湾学者编写的程序，其采用图形用户界面（GUI），用于XPS分峰处理操作方便，简单易学。XPSpeak运行后其界面为：              

4、 …………………………………………………………最新精品资料推荐……………………………………………………4…………………………………………………………最新精品资料推荐……………………………………………………                        上面的窗口主要用于图形显示，即原始数据图谱、分离的峰、拟和的峰都将在此窗口中显示，在主菜单栏中Data中选择打开的数据类型，由于不同的设备输出的数据格式不同，所以一般需要将原始数据转换成Ascii格式；在进行分峰处理前需要扣除背景，在Background

5、菜单中选择扣除背景的参数；在AddPeak菜单中选择增加峰的参数如峰位、峰面积、半峰宽等。设置扣除背景，增加峰的参数的窗口如下：…………………………………………………………最新精品资料推荐……………………………………………………4…………………………………………………………最新精品资料推荐……………………………………………………全等三角形边角边判定的基本练习1.如图3，已知AD∥BC，AD＝CB，要用边角边公理证明△ABC≌△CDA，需要三个条件，这三个条件中，已具有两个条件，一是AD＝CB(已知)，

6、二是___________；还需要一个条件_____________(这个条件可以证得吗？)。2.如图4，已知AB＝AC，AD＝AE，∠1＝∠2，要用边角边公理证明△ABD≌ACE，需要满足的三个条件中，已具有两个条件：一是___________,二是____________还需要一个条件________________(这个条件可以证得吗？)。3.已知：AD∥BC，AD＝CB(图3)。求证：△ADC≌△CBA．…………………………………………………………最新精品资料推荐………………………………………

7、……………4…………………………………………………………最新精品资料推荐……………………………………………………4.已知：AB＝AC、AD＝AE、∠1＝∠2(图4)。求证：△ABD≌△ACE。5.已知：如图，AB＝AC，F、E分别是AB、AC的中点。求证：△ABE≌△ACF。…………………………………………………………最新精品资料推荐……………………………………………………4