《粒度测量方法》PPT课件.ppt

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1、颗粒形状表征方法和粒度测量方法颗粒的形状对粉体的物理性能、化学性能、输运性能和工艺性能有很大的影响。例如,球形颗粒粉体的流动性、填形性好,粉末结合后材料的均匀性高。涂料中所用的粉末则希望是片状颗粒,这样粉末的覆盖性就会较其他形状的好。科学地描述颗粒的形状对粉体的应用会有很大的帮助。同颗粒大小相比,描述颗粒形状更加困难些。为方便和归一化起见,人们规定了某种方法,使形状的描述量化,并且是无量纲的量。这些形状表征量可统称为形状因子,主要有以下几种:颗粒大小和形状表征颗粒的形状若以Q表示颗粒的几何特征,如面积、体积,则Q与颗粒粒径d的关系可表示为:式中,k即为形状系数。对于颗粒的面积和体积描述

2、,k有两种主要形式,分别为:颗粒大小和形状表征形状系数颗粒形状表面形状因子(j表示征对于该种粒径的规定)与π的差别表示颗粒形状对于球形的偏离颗粒大小和形状表征形状系数颗粒形状与的差别表示颗粒形状对于球形的偏离颗粒大小和形状表征体积形状因子形状系数颗粒形状表面形状因子与体积形状因子的比值颗粒大小和形状表征比表面积形状系数形状系数颗粒形状一些规则几何体的形状因子颗粒大小和形状表征颗粒形状与颗粒等体积的球的表面积与颗粒的表面积之比颗粒大小和形状表征球形度可以看出:1.;2.颗粒为球形时,达最大值。颗粒形状一些规则形状体的球形度:颗粒大小和形状表征颗粒形状一个任意形状的颗粒,测得该颗粒的长、宽

3、、高为l、b、h,定义方法与前面讨论颗粒大小的三轴径规定相同,则:扁平度延伸度颗粒大小和形状表征扁平度m与延伸度n颗粒形状1.筛分析法(>40μm)颗粒粒度测量方法国际标准筛制:Tyler(泰勒)标准单位:目目数为筛网上1英(25.4mm)寸长度内的网孔数(a,d单位mm)25.4ad得到比200目粗的筛孔尺寸得到比200目细的筛孔尺寸主模系列:标准规则:以200目的筛孔尺寸0.074mm为基准,乘或除模(或),则得到副模系列:得到比200目粗的筛孔尺寸得到比200目细的筛孔尺寸标准筛系列:324248606580100115150170200270325400其中最细的是400目,孔

4、径是38μm。筛分的优缺点优点统计量大,代表性强便宜重量分布缺点下限38微米人为因素影响大重复性差非规则形状粒子误差速度慢2.显微镜采用定向径方法测量光学显微镜0.25——250μm电子显微镜0.001——5μm显微镜测定粒度要求统计颗粒的总数:粒度范围宽的粉末———10000以上粒度范围窄的粉末———1000左右显微镜方法的优缺点优点可直接观察粒子形状可直接观察粒子团聚光学显微镜便宜缺点代表性差重复性差测量投影面积直径速度慢原理图激光器激光束透镜样品池透镜衍射光束未衍射光束光传感器列阵中心传感器粉末3.光衍射法粒度测试从He-Ne激光器发出的激光束经扩束镜后会聚在针孔,针孔将滤掉所有

5、的高阶散射光,只让空间低频的激光通过。然后,激光束成为发散的光束,该光束遇到傅立叶透镜后被聚焦。当光入射到颗粒时,会产生衍射,小颗粒衍射角大,而大颗粒衍射角小,某一衍射角的光强度与相应粒度的颗粒多少有关。当样品池内没有颗粒时,光束将被聚焦在环形光电探测器的中心;当样品池内有颗粒样品时,会聚的光束会有一部分被颗粒散射到环形探测器的各探测单元以及大角探测器上,形成“靶芯”状的衍射光环,此光环的半径与颗粒的大小有关,衍射光环的强度与相关粒径颗粒的多少有关,通过环形光电接受器阵列就可以接受到这些光能信号,光能信号通过光电探测器转换成了相应的电流信号,送给数据采集卡,该卡将电信号放大,再进行A/

6、D转换后送入计算机,计算机用Mie散射理论对这些信号进行处理,即得样品的粒度分布。测量原理示意图激光衍射0.05—500μmX光小角衍射0.002—0.1μm测量方法目前的激光法粒度仪基本上都同时应用了夫琅霍夫(Fraunhofer)衍射理论和米氏(Mie)衍射理论,前者适用于颗粒直径远大于入射波长的情况,即用于几个微米至几百微米的测量;后者用于几个微米以下的测量。激光衍射性能特点测量的动态范围大,动态范围越大越方便,目前先进的激光粒度可以超过1:1000;测量速度快,从进样至输出测试报告,只需1min,是目前最快的仪器之一;重复性好,由于取样量多,对同一次取样进行超过100次的光电采

7、样,故测量的重复精度很高,达1%以内;操作方便,不受环境温度影响(相对于沉降仪),不存在堵孔问题(相对库尔特计数器)分辨率较低,不宜测粒度分布过窄又需要定量测量其宽度的样品如磨料微粉。电阻法颗粒计数器电阻法(库尔特)颗粒计数工作原理:采用小孔电阻原理,即库尔特法测量颗粒的大小。如图,小孔管浸泡在电解液中。小孔管内外各有一个电极,电流可以通过孔管壁上的小圆孔从阳极流到阴极。小孔管内部处于负压状态,因此管外的液体将流动到管内。测量时将颗粒分散到液体

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