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时间：2020-09-06
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1、失效样品分析文件编号:SN-WI-3505版本:A0发行章:会签单位签名会签单位签名□芯片制造部□咨询部□封装制造部□工程技术部□应用制造部□设备部□研发部□采购部□品保部□资材部□业务部□行政管理部□稽核室□总务部□财务部□总经办□贸易部核准审核拟案失效样品分析文件编号SN-WI-3505版次A0页次/总页次1/1拟案/修订人修改内容摘要版本修订页次修订日期钱骐新制定文件A0题目：样品失效分析文件号：SN-WI-3505版本号：A0页号：1/1修订状态：0发布日期：保密等级□保密□机密□绝密编制：钱骐审核：批准：
2、失效样品测试确认168H老化老化结果良品不良品打磨分析观察现象腐蚀分析分析报告结束异常拍照分析报告结束观察现象异常拍照分析报告结束重封实验测试分析报告结束无异常无异常
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