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时间:2020-09-22
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1、微电子器件与工艺课程设计设计一个均匀掺杂的pnp型双极晶体管,使T=300K时,β=100。VCEO=15V,VCBO=70V.晶体管工作于小注入条件下,最大集电极电流为IC=5mA。设计时应尽量减小基区宽度调制效应的影响。设计任务具体要求:1、制造目标:发射区、基区、集电区的掺杂浓度;发射结及集电结的结深;基区宽度;集电结及发射结的面积。2、工艺参数设计:设计的基本原理,基本公式,工艺过程;发射区和基区的扩散温度、扩散时间及相应的氧化层厚度,氧化温度及时间。3、晶体管的结构图及版图:版图标准尺寸为15cmX15cm,版图
2、上有功能区及定位孔,包括基区版图、发射区版图,接触孔版图(发射极和基极)及3张版图重合的投影图。4、总体制造方案:清洗→氧化→光刻(光刻基区)→硼预扩散→硼再扩散(基区扩散)→去氧化膜→氧化工艺→光刻(光刻发射区)→磷预扩散→磷再扩散(发射区扩散)→去氧化膜→沉积保护层→光刻(光刻接触孔)→金属化→光刻(光刻接触电极)→参数检测设计要求1.了解晶体管设计的一般步骤和设计原则2.根据设计指标选取材料,确定材料参数,如发射区掺杂浓度NE,基区掺杂浓度NB,集电区掺杂浓度NC,根据各区的掺杂浓度确定少子的扩散系数,迁移率,扩散长
3、度和寿命等。3.根据主要参数的设计指标确定器件的纵向结构参数,如集电区厚度Wc,基本宽度Wb,发射极宽度We和扩散结深Xjc,发射结结深Xje等。设计要求4.根据扩散结深Xjc,发射结结深Xje等确定基区和发射区预扩散和再扩散的扩散温度和扩散时间;由扩散时间确定氧化层的氧化温度、氧化厚度和氧化时间。5.根据设计指标确定器件的图形结构,设计器件的图形尺寸,绘制出基区、发射区和金属接触孔的光刻版图。6.根据现有工艺条件,制定详细的工艺实施方案。7.撰写设计报告晶体管设计过程,实际上就是根据现有的工艺水平,材料水平,设计水平和手
4、段以及所掌握的晶体管的有关基本理论,将用户提出的或预期要得到的技术指标或功能要求,变成一个可实施的具体方案的过程。确定基区、发射区、集电区的杂质浓度确定基区宽度验证值是否符合设计要求,不合要求重新确定以上参数计算扩散结深Xjc,Xje以及基区、发射区面积计算基区和发射区分别所需的扩散时间,氧化层厚度、氧化时间全面验证各种参数是否符合要求确定各区的少子寿命,扩散系数,扩散长度1.材料结构常数设计确定材料参数,如发射区掺杂浓度NE,基区掺杂浓度NB,集电区掺杂浓度NC,根据各区的掺杂浓度确定少子的扩散系数,迁移率,扩散长度和
5、寿命等。(根据寿命-掺杂浓度图,扩散长度-掺杂浓度图迁移率-掺杂浓度图)查由击穿电压VCBO确定NC,也可根据公式计算,考虑穿通电压:教材297页三极管的击穿电压是雪崩击穿电压和穿通电压中较小的一个2.晶体管的纵向设计双极晶体管是由发射结和集电结两个PN结组成的,晶体管的纵向结构就是指在垂直于两个PN结面上的结构,如图1所示。因此,纵向结构设计的任务有两个:首先是选取纵向尺寸,即决定衬底厚度Wt、集电区厚度WC、基区厚度WB、扩散结深Xje和Xjc等;其次是确定纵向杂质浓度和杂质分布,即确定集电区杂质浓度NC、衬底杂质浓度
6、Nsub、表面浓度NES,NBS以及基区杂质浓度分布NB()等,并将上述参数转换成生产中的工艺控制参数。采用硅平面工艺制备PN结的主要工艺过程(a)抛光处理后的N型硅晶片(b)采用干法或湿法氧化工艺的晶片氧化层制作(c)光刻胶层匀胶及坚膜(d)图形掩膜、曝光(e)曝光后去掉扩散窗口膜的晶片(f)腐蚀SiO2后的晶片(g)完成光刻后去胶的晶片(h)通过扩散(或离子注入)形成P-N结(i)蒸发/溅射金属(j)P-N结制作完成采用硅平面工艺制备结的主要工艺过程三、晶体管的横向设计重点:设计光刻基区和光刻发射区和光刻金属化接触孔
7、的掩模版4。工艺步骤设计硅片清洗氧化光刻(光刻基区)磷预扩散磷再扩散(基区扩散)刻蚀二氧化硅硅片氧化光刻发射区硼预扩散硼再扩散(发射区扩散)光刻(光刻接触孔)金属化光刻(光刻接触电极)参数检测写出每一步的操作方法和工艺参数WBP+NPECWEBCEBC硅片清洗→氧化→光刻基区→磷预扩散→磷再扩散(基区扩散)→去氧化膜→氧化工艺→光刻发射区→硼预扩散→硼再扩散(发射区扩散)→去氧化膜→沉积保护层→光刻接触孔→金属化→光刻接触电极→参数检测定位孔定位孔发射区AE=3umX3um定位孔基区AB=5umX5um定位孔定位孔定位孔基
8、区引线孔发射区引线孔集电区引线孔EBC定位孔定位孔接触孔AB=5umX5umAC=3umX3umAE=8umX8um1、硅片清洗2、氧化选用晶向<111>P型硅氧化薄层二氧化硅,作掩蔽膜用氧化层厚度测量可以通过比色法或者椭圆偏振法3、光刻基区在掩蔽膜上光刻出基区窗口涂光刻胶1-2um,950到450转/
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