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时间:2020-09-10
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1、第一章一、选择题1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是( )A.X射线透射学;B.X射线衍射学;C.X射线光谱学;D.其它2.M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称()A.Kα;B.Kβ;C.Kγ;D.Lα。3.当X射线发生装置是Cu靶,滤波片应选()A.Cu;B.Fe;C.Ni;D.Mo。4.当电子把所有能量都转换为X射线时,该X射线波长称()A.短波限λ0;B.激发限λk;C.吸收限;D.特征X射线5.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,
2、这整个过程将产生()(多选题)A光电子;B.二次荧光;C.俄歇电子;D.(A+C)二、正误题1.随X射线管的电压升高,λ0和λk都随之减小。()2.激发限与吸收限是一回事,只是从不同角度看问题。()3.经滤波后的X射线是相对的单色光。()4.产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态。()5.选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料,而不需要考虑厚度。()三、填空题1.当X射线管电压超过临界电压就可以产生X射线和X射线。2.X射线与物质相互作用可以产生、、、、、、、。3.经过厚度为H的物质后,X射线
3、的强度为。4.X射线的本质既是也是,具有性。5.短波长的X射线称,常用于;长波长的X射线称,常用于。第二章一、选择题1.有一倒易矢量为,与它对应的正空间晶面是()。A.(210);B.(220);C.(221);D.(110);。2.有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm,用铁靶Kα(λKα=0.194nm)照射该晶体能产生()衍射线。A.三条;B.四条;C.五条;D.六条。3.一束X射线照射到晶体上能否产生衍射取决于()。A.是否满足布拉格条件;B.是否衍射强度I≠0;C.A+B;D.晶体形状。4.面心立方
4、晶体(111)晶面族的多重性因素是()。A.4;B.8;C.6;D.12。一、正误题1.倒易矢量能唯一地代表对应的正空间晶面。()2.X射线衍射与光的反射一样,只要满足入射角等于反射角就行。()3.干涉晶面与实际晶面的区别在于:干涉晶面是虚拟的,指数间存在公约数n。()4.布拉格方程只涉及X射线衍射方向,不能反映衍射强度。()5.结构因子F与形状因子G都是晶体结构对衍射强度的影响因素。()二、填空题1.倒易矢量的方向是对应正空间晶面的;倒易矢量的长度等于对应。2.只要倒易阵点落在厄瓦尔德球面上,就表示该满足条件,
5、能产生。3.影响衍射强度的因素除结构因素、晶体形状外还有,,,。4.考虑所有因素后的衍射强度公式为,对于粉末多晶的相对强度为。5.结构振幅用表示,结构因素用表示,结构因素=0时没有衍射我们称或。对于有序固溶体,原本消光的地方会出现。三、名词解释倒易点阵——系统消光——衍射矢量——形状因子——相对强度——第三章四、选择题1.最常用的X射线衍射方法是()。A.劳厄法;B.粉末多法;C.周转晶体法;D.德拜法。2.德拜法中有利于提高测量精度的底片安装方法是()。A.正装法;B.反装法;C.偏装法;D.A+B。3.德拜法
6、中对试样的要求除了无应力外,粉末粒度应为()。A.<325目;B.>250目;C.在250-325目之间;D.任意大小。4.测角仪中,探测器的转速与试样的转速关系是()。A.保持同步1﹕1;B.2﹕1;C.1﹕2;D.1﹕0。5.衍射仪法中的试样形状是()。A.丝状粉末多晶;B.块状粉末多晶;C.块状单晶;D.任意形状。一、正误题1.大直径德拜相机可以提高衍射线接受分辨率,缩短暴光时间。()2.在衍射仪法中,衍射几何包括二个圆。一个是测角仪圆,另一个是辐射源、探测器与试样三者还必须位于同一聚焦圆。()3.选择小的
7、接受光栏狭缝宽度,可以提高接受分辨率,但会降低接受强度。()4.德拜法比衍射仪法测量衍射强度更精确。()5.衍射仪法和德拜法一样,对试样粉末的要求是粒度均匀、大小适中,没有应力。()二、填空题1.在粉末多晶衍射的照相法中包括、和。2.德拜相机有两种,直径分别是和Φmm。测量θ角时,底片上每毫米对应º和º。3.衍射仪的核心是测角仪圆,它由、和共同组成。4.可以用作X射线探测器的有、和等。5.影响衍射仪实验结果的参数有、和等。第四章三、选择题1.测定钢中的奥氏体含量,若采用定量X射线物相分析,常用方法是()。A.外标
8、法;B.内标法;C.直接比较法;D.K值法。2.X射线物相定性分析时,若已知材料的物相可以查()进行核对。A.Hanawalt索引;B.Fenk索引;C.Davey索引;D.A或B。3.德拜法中精确测定点阵常数其系统误差来源于()。A.相机尺寸误差;B.底片伸缩;C.试样偏心;D.A+B+C。4.材料的内应力分为三类,X射线衍射方法可以测定()。A.第一类应力(宏观应力)
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