材料测试方法选择判断填空题库

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1、第一章一、选择题1.川来进行晶体结构分析的X射线学分支足（）A.X射线透射学；B.X射线衍射学；C.X射线光谱学；D.其它2.M层电子回迁到K层后，多余的能S放出的特征X射线称（）A.Ka；B.KP；C.KY;D.La。3.当X射线发生装置是Cu靶，滤波片应选（）A.Cu；B.Fe；C.Ni；D.Mo。4.当电了•把所冇能fi都转换为X射线时，该X射线波长称（）A.短波限入0;B.激发限Ak;C.吸收限；D.特征X射线5.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能景将另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生（）（多

2、选题）A光电子；B.二次災光；C.俄歇电：hD.（A+C）二、正误题1.随X射线管的电压升高，都随之减小。（）2.激发限与吸收限是一回事，只足从不同灼度看问题。（）3.经滤波后的X射线是相对的单色光。（）4.产生特征X射线的前提足原子内层电子被打出核外，原子处于激发状态。（）5.选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料，而不需要考虑厚度。（）三、填空题1.当X射线管电压超过临界电压就可以产生X射线和X射线。2.X射线与物质相互作用可以产生、、、、、、、O3.经过厚度为H的物质后，X射线的强度为。4.X射线的本质既是也是，具冇性。5.fe:波长

3、的X射线称，常用于；L<:波松的X射线称，常川于。第二章一、选择题1.冇一倒易矢fi为g*=h,与仑对应的正空Ikl晶面是（）。A.（210）；B.（220）；C.（221）；D.（110）;。2.有一体心立方品体的品格常数是0.286nm,川铁靶1C（XKa=0.194nm）照射该品体能产生（）衍射线。A.三条；B.四条；C.五条；D.六条。3.—朿X射线照射到晶体上能否产生衍射収决于（）。A.是否满见布拉格条件；B.是许術射强度l#0；C.A+B;D.紐体形状。4.面心立方晶体（111）晶面族的多重性因素是（）。A.4；B.8；C.

4、6；D.12o二、正误题1.倒易矢量能唯一地代表对应的正空间晶面。（）2.X射线衍射与光的反射一样，只要满足入射角等于反射角就行。（）3.干涉晶面与实际晶Iftf的区别在于:干涉晶Ifti是虚拟的，指数间存迕公约数n，（）4.布拉格方程只涉及X射线衍射方向，不能反映衍射强度。（）5.结构因子F与形状因子G都是品体结构对衍射强度的影响因素。（）三、填空题1.倒易矢s的方向是对应正空问晶側的；倒易矢a的长度等于对应。2.只要倒易阵点落在尼瓦尔德球面上，就表示该满足条件，能产生。3.影响衍射强度的因素除结构因素、品体形状外还有，，，。4.考虑

5、所奋因素后的衍射强度公式为，对于粉末多晶的相对强度为。5.结构振幅用表示，结构因素用表示，结构因素=0时没右衍射我们称或。对于有序固溶体，原本消光的地方会出现。四、名词解释倒易点阵——系统消光——衍射矢暈——形状因子——相对强度——第三章五、选择题1.最常用的X射线衍射方法是（）。A.劳厄法；B.粉末多法；C.周转品体法；D.德拜法。2.徳拜法屮科利于提商测餅精度的底片安装方法是（）。A.正装法；B.反装法；C.偏装法；D.A+B。3.德拜法中对试样的要求除了无应力外，粉末粒度应为（）。A.<325目;B.>250目；C.在250-32

6、5目之间；D.任意大小。4.测角仪屮，探测器的转速与试样的转速关系是（）。A.保持同步1:1;B.2：1；C.1：2；D.1:0。5.衍射仪法中的试样形状是（）。A.丝状粉末多晶：B.块状粉末多晶；C.块状单晶；D.任意形状。六、正误题1.大直径德拜相机可以提高衍射线接受分辨率，缩短暴光吋间。（）2.在衍射仪法中，衍射儿何包括二个圆。一个是测角仪圆，另一个是辐射源、探测器与试样三者还必须位于同一聚焦阒。（）3.选择小的接受光栏狭缝宽度，可以提商接受分辨率，但会降低接受强度。（）4.德拜法比衍射仪法测fi衍射强度更精确。（）5.衍射仪法和

7、徳拜法一样，对试样粉末的嬰求是粒度均匀、大小适屮，没有应力。（）七、填空题1.在粉末多晶衍射的照相法中包括、和。2.徳拜相机有两种，直径分别是和m.no测量0角时，底片上每毫米对和_3.衍射仪的核心是测角仪圆，它由、和共同纟II成。4.可以用作X射线探测器的科、和等。5.影响衍射仪实验结果的参数冇、和等。第四章八、选择题1.测定钢中的奥氏体含量，若采用定量X射线物相分析，常用方法是（）。A.外标法；B.内标法；C.直接比较法；D.K值法。1.X射线物相定性分析吋，若已知材料的物相可以查（）进行核对。A.Hanawalt索引；B.Fenk

8、索引；C.Davey索引；D.AMKB。2.德拜法中精确测定点阵常数其系统误差來源于（）。A.相机尺寸误差；B.底片仲缩；C.试样偏心；D.A+B+C。3.材料的内应力分为三类，X射线衍射方法可以测定（）。