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1、开路一.开路和短路测试一.开路一.开路和短路测试(OpensandShortsTest)5U&{#x1R*t5_3A+g"Y5a$D2f:e1目的:验证所有的信号引脚是否都接触良好以及信号引脚与信号引脚或者power/groundpin之间有无短路.&?#}.i+h,C#i&^*i5d)K3Q2原理:device的每个引脚上都有一对保护二极管,在测试过程中观察保护二极管是否起到钳制电位的作用,来判断引脚的好坏.,r4o"Y"U7t5W3方法:串行/静态法和功能测试法7f1t4r A2n4h:t1)串行/静态法(OpenandShortsSerialStaticMethod) }9
2、w)A C%e-v7所有devicepins包括power和groundpins都接地.8{7y0e*w5s*i9u%G/o9q用PMU连接单个引脚,灌入一定值电流(100uA-500uA,接VDD二极管导通),测电压.*e.I5v-u%D9d6P&q如果测得电压在二极管导通电压(0.2-1.5v)范围内,则pass,该pin为良.)j:m6S6P*如果测得电压大于保护二极管导通电压(>1.5v),则fail,该pin断路.7x$p%W:h7T如果测得电压<0.2v,则fail.该pin短路.6]1K'T4y,h4
3、.y0U'e1A&I0h#^,{或者,用PMU连接单个引脚,拉出一
4、定值电流(接地二极管导通),测电压.+Z5}9q;} H'C+w情况与上面相似.#t1X+S9I*T如果测得电压在二极管导通电压(-0.2--1.5v)范围内,则pass,该pin为良.&r:~8c6s:o!e!
5、'I.x(T,D;m如果测得电压大于保护二极管导通电压(<-1.5v),则fail,该pin断路./E&k9m9G-f如果测得电压>-0.2v,则fail.该pin短路. r;k*e(B3G.c4D3m2^9]:@重复以上步骤,直到每个signalpin都被测好,一般我们使用拉出电流的方法(即接地二极管电流)6A$F9y,M0g(Z7k4[.F*j2)功能测试法(Ope
6、nandShortsFunctionalMethod)&v q9l;},x%R.I.E;~ vVDD和ground接地.D7n/x-p1u/W"C"Y"b(s用Drive驱动每个信号引脚至0v.+d&T G4P0P-d/W+b,H b断开一个pin的Drive,用动态负载灌入一定值电流,由comparator判断pin输出电压,确定是否符合要求(Z态)8o"k5X%J0~'l测完这个pin就恢复这个pin的驱动,然后重复以上步骤测试下一个pin.7m#@ n33)两种方法的比较"N*g+[&k3Y2X串行/静态法:结果清晰,但耗时&a3R.l,i$J/T功能测试法:速度快,
7、但是结果不好分析.P8Y(~,e/[6v.k可以先用功能测试法测,如果出现错误,则用串行/静态法测试分析具体情况individually 测试的设备主要分成上个DUT(deviceundertest),PMU(ParametricMeasurementUnit)和PinElectronics组成。被测试的硅片或芯片放在DUT上,PMU提供需要的电压和电流,并且还量测输出电压和电流,PinElectronics起到连接DUT和PMU的作用。针对不同的测试的器件和参数,需要编写不同的程序去控制测量PE就是channel的接口单元,一般tester除了独立于PE的资源(比如DPS,PMU,
8、TMU,APG,Digitizer,FG等)以外,还要针对每个channel配置单独的测量模块,以便进行Open/short,function的测试.&B-d/z(C ~7r!n0d2U$[8iPEcard在tester的成本中占有很大比例,以致于大多数tester都是以channel数目来定价格的.!e