是德科技全新 ADS PCI Express、USB 一致性测试台解决仿真测量关联挑战.pdf

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1、是德科技全新ADSPCIExpress、USB一致性测试台解决仿真测量关联挑战独有解决方案帮助客户深入分析PCIExpress和USB２０１５年５月２０日，北京———是德科技公司（NYSE：是德科技高性能示波器营销经理BrigAsay表示：“应KEYS）日前发布先进设计系统（ADS）PCIExpress和USB用业经验证的示波器一致性测试软件，KeysightEEsofEDA一致性测试台。新款解决方案可以帮助SerDes设计工程师致力于简化客户的设计流程。是德科技拥有行业领先的软完成对各种候选设计进行仿真到原型产品测量的完整工作件和硬件部件，能够独立提供完整的解决方案，避免整合多流程。

2、这种解决方案非常适合进行SerDesI／O模块开发的家厂商产品的风险。我们拥有出色的硬件和软件组合，配合半导体厂商以及需要将这些SerDes芯片集成在系统PCB专业技术人员，将帮助客户开拓PCIExpress和USB测量中的原始设备制造商。新视野。”两款一致性测试台可以作为附加组件添加至KeysightPCIExpress和USB一致性测试台将作为ADS２０１５．０１EEsofEDA的先进设计系统２０１５．０１通道仿真器软件中。平台的选件于８月份上市。借助新的测试台，工程师可以通过仿真确保候选设计符合相如需了解更多关于测试台的信息，请访问www．key‐瞮sight．com／find／

3、eesof‐pcie‐ctb和www．keysight．com／find／应的PCI特殊兴趣小组（PCI‐SIG）和USB应用厂商论坛eesof‐usb‐ctb。（USB‐IF）标准要求，从而进行下一步原型制造。此方案解浏览产品图片，请访问www．keysight．com／find／ADS‐决了之前因缺乏适合工具而无法关联仿真与硬件原型／测试test‐benches＿images。台一致性测试的问题。ADSPCIExpress和USB一致性测试台提供可定制测关于KeysightEEsofEDA软件试装置，支持客户仿真自有专利。测试台也可以提供后期处KeysightEEsofEDA软件是

4、业界领先的电子设计自理脚本编写功能（即波形桥功能‐导出仿真波形数据，并应用动化软件，适用于微波、射频、高频、高速数字、射频系统、于KeysightInfiniium示波器之上相同的一致性测试软件进电子系统级、电路、三维电磁场、物理设计和器件建模等行分析）。新版Infiniium软件可以使用示波器输出的实时应用。如需了解更多信息，请访问www．keysight．com／数据，也可以通过离线模式使用示波器或ADS软件的存储find／eesof。数据。此外，软件不仅可以在示波器的嵌入式PC上运行，是德科技数字测试标准计划也可以在独立的WindowsPC上运行（离线／远程模式）。全是德科技专家

5、积极参与国际标准委员会的工作，并推动新的离线／远程模式支持工程师在同一台PC上同时运行和支持是德科技开发数字应用解决方案。是德科技专家参ADS和一致性测试软件。与的标准组织包括电子器件工程联合会（JEDEC）、PCI特殊KeysightEEsofEDA高速数字设计产品经理Colin瞮兴趣小组（PCI‐SIG）、视频电子标准协会（VESA）、串行Warwick表示：“创新方法允许工程师在全部三类应用场景ATA国际组织（SATA‐IO）、USB应用厂商论坛（USB‐IF）、中使用相同的一致性测试套件：实时／示波器中、离线／示波TM移动行业处理器接口（MIPI）联盟、以太网标准（IEEE器中

6、、离线／远程。更重要的是，仿真设计和产品原型可以提８０２．３）、光互联网络论坛（OIF）和其他多个组织。是德科技供相同的一致性报告。”踊跃参与国际标准组织及其相关的研讨会和活动，以便是德新产品提供从仿真到硬件原型测试的完整解决方案，并科技能够适时推出恰当的测试解决方案，满足客户持续演进且源于一家公司，意味着工程师无需整合来自不同厂商可能的需求。差异极大的解决方案。Frost&Sullivan表彰罗德与施瓦茨公司通过技术创新和提升产品附加值在示波器市场脱颖而出日前，基于对最新示波器市场的分析，Frost&Sullivan公示波器系列产品，帮助公司扩展了在全球的业务覆盖范围。司授予罗德与施

7、瓦茨公司２０１５年Frost&Sullivan全球示波罗德与施瓦茨公司从一开始就认识到进入示波器市场将会是器竞争策略创新和领导力最佳实践奖。在进入示波器市场仅一个挑战，因此公司专注于通过技术创新来增加产品附加值，仅５年的时间里，罗德与施瓦茨公司推出了令人印象深刻的为示波器提供新的测试能力并增强现有的解决方案。—84—国外电子测量技术中国科技核心期刊是德科技全新ADSPCIExpress、USB一致性测试台解决仿真测量关联挑战刊名：国外电子测量技