双参数加权的低信噪比面目标检测方法-论文.pdf

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1、第3O卷第2期光电技术应用Ve1．30．No．22015年4月ELECTRO—OPTICTECHNOLOGYAPPLICATIONApril，2015信号与信息处理·双参数加权的低信噪比面目标检测方法刘俊杰，刘哲(中国电子科技集团公司光电研究院，天津300000)摘要：针对传统恒虚警检测低信噪比情况下面目标性能下降问题，提出了基于均值和方差双参数检测的新方案。首先采用了目标与背景统计特性差异最大化准则，估计出待检测单元的均值和方差，并通过互乘待检测单元的均值和方差获得最终的检测图像，得到了最优均值和最优方差统计特性

2、，再利用全局cFAR检测检测出目标，从而在保证一定检测概率的同时降低虚警概率。仿真结果表明，该方法对低信噪比面目标的检测性能优于传统的恒虚警检测。关键词：面目标检测；恒虚警率；全局CFAR中图分类号：TP274文献标识码：A文章编号：1673．1255(2015)一02—0052—05LowSignalNoiseRatioSurfaceTargetInspectionMethodofWeightedTwo—parameterLIUJun-jie，LIUZhe(AcademyofOpto。electronics，Ch

3、inaElectronicsTechnologyGroupCorporation(AOECETC)，Tianjin300000，China)Abstract：AccordingtotheproblemofsuFfaeetargetsperformancesdebasingundertheconditi0n0ftraditi0n—alconstantfalsealarmrate(CFAR)inspectionandlowsignalnoiseratio，anewinspeeti0nmethodbasedonmeanv

4、alueandvariancetwo—parameterisproposed．Firstly，targetandbackgroundstatisticalcharacteristicdifrencemaximumruleisusedtoestimatethemeanvalueandvarianceoftheinspectedunit．Andthefinalinspeetionimageisobtainedthroughmultiplicationonthemeanvalueandvarianceoftheinspe

5、ctedunitto0btainthestatistica1char—acteristicsofthebestmeanvalueandvariancestatisticalcharacteristic．Andthen，globalCFARinspectionisusedtoinspecttargetstoguaranteeacertaininspectionprobabilityandreducefalsealarmprobability．SimulationresuItsshowthattheinspection

6、characteristicsofthemethodforlowsignalnoiseratiosurfacetargetisbetterthanthatoftraditionalCFARinspection．Keywords：surfacetargetinspection；constantfalsealarmrate(CFAR)；globalCFAR检测是雷达信号处理器的主要功能，恒虚警检回波是时变的，随着积累时间的增加，回波信号不测技术在高分辨率的雷达图像应用非常广泛。在再满足相干条件，所以在距离高分辨应用情况

7、下，低信噪比时(6dB以下)，文献『1]给出OS—CFAR、这种积累方法不但不能提高检测性能，甚至会导致CA—CFAR、MACCA-CFAR等几种CFAR检测方法在检测性能的下降。均匀背景下的检测概率均在0．1以下，因此低信噪为了克服以上检测算法的缺点，提出了一种新比是制约信号检测性能的主要因素。为了达到高型的针对低信噪比面目标的检测算法。文中根据的目标发现概率及低的虚警率，常规的方法是多周均值与方差的统计特性，给出了面目标检测平滑窗期积累以提高信噪比-z-。但由于雷达接收到的目标尺寸的估计方法。基于平滑窗得出原图

8、像的均值收稿日期：2015．02—12作者简介：刘俊杰(1986一)，男，山东人，硕士研究生，主要从事电子工程方面的研究第2期刘俊杰等：双参数加权的低信噪比面目标检测方法53图及方差图，并将均值图与方差图加权乘积得到最测出来，同时将亮点的噪声像素有效抑制，文中根终的检测图像，从而达到了最优均值和最优方差统据目标信号幅值的方差和背景幅值的方差存在差计特性，因而