万用表检测IC芯片的几种简易方法.doc

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1、重庆市开县职业教育中心用万用表检测IC芯片的几种简易方法电子电器应用与维修专业项目组一、离线检测  测出IC芯片各引脚对地之间的正，反电阻值。以此与好的IC芯片进行比较，从而找到故障点。二、在线检测  （一）直流电阻的检测法    同离线检测。但要注意:    1．要断开待测电路板上的电源；2.万能表内部电压不得大于6V; 3.测量时，要注意外围的影响。如与IC芯片相连的电位器等。  （二）直流工作电压的测量法    测得IC芯片各脚直流电压与正常值相比即可。但也要注意：   1.万能表要有足够大的内阻，数字表为首选;   2.各电位器旋到中间位置；3.表笔或探头

2、要采取防滑措施，自行车气门芯套在笔头上，并应长出笔尖约5mm；   4.当测量值与正常值不相符时,应根据该引脚电压，对IC芯片正常值有无影响以及其它引脚电压的相应变化进行分析;   5.IC芯片引脚电压会受外围元器件的影响。当外围有漏电,短路,开路或变质等;   6.IC芯片部分引脚异常时，则从偏离大的入手。先查外围元器件，若无故障，则IC芯片损坏;   7.对工作时有动态信号的电路板，有无信号IC芯片引脚电压是同的。但若变化不正常则IC芯片可能已坏；   8.对多种工作方式的设备，在不同工作方式时IC脚的电压是不同的。 （三）交流工作电压测试法    用带有dB

3、档的万能表，对IC进行交流电压近似值的测量。若没有dB档，则可在正表笔串入一只0.1-0.5μF隔离直流电容。该方法适于工作频率比较低的IC。但要注意这些信号将受固有频率，波形不同而不同，所以所测数据为近似值，仅供参考。 （四）总电流测量法    通过测IC电源的总电流，来判别IC的好坏。由于IC内部大多数为直流耦合，IC损坏时(如PN结击穿或开路)会引起后级饱和与截止,，使总电流发生变化。所以测总电流可判断IC的好坏。在线测得回路电阻上的电压，即可算出电流值来。以上检测方法，各有利弊.。在实际应用中最好将这些方法结合来运用。