表面粗糙度测量.doc

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1、Ra轮廓算术平均偏差：在取样长度内，轮廓偏距绝对值的算术平均值；Rz微观不平度十点高度：在取样长度内最大的轮廓峰高的平均值与五个最大的轮廓谷深的平均值之和；Ry轮廓最大高度：在取样长度内，轮廓峰顶线和轮廓谷底线之间的距离；3种都是用来表示表面粗糙度的。具体关系不好说明...Ra是最主要的评定参数，Rz一般只用来表示比较短小的表面。Ry基本不单独使用，算是一个极限偏差值吧。3．2．5表面粗糙度的评定    国家标准《表面粗糙度参数及其数值》GB1031－83对表面粗糙度的合理评定作了规定。    （1）基本术语及定义

2、    1）取样长度取样长度是指用以判别具有表面粗糙度特征的一段基准长度，如图3－43所示。在取样长度范围内，一般应包括5个以上的轮廓峰和轮廓谷。规定取样长度是为了限制和减弱表面波度对表面粗糙度测量结果的影响。图3－43取样长度、评定长度    2）评定长度评定长度是指评定轮廓所必需的一段长度。它包括一个或几个取样长度如上图。    3）轮廓偏距轮廓偏距是指在测量方向上，轮廓线上的点与基准线之间的距离。    4）基准线:    ①轮廓的最小二乘中线（m）轮廓中线是测量和评定表面粗糙度的基准线。轮廓的最小二乘中线是

3、指具有几何轮廓形状并划分轮廓的基准线，在取样长度内，使轮廓线上各点的轮廓偏距的平方和为最小，如图3－44。    图3－44轮廓偏距、轮廓最小二乘中线图3－45轮廓的算术平均中线    ②轮廓的算术平均中线轮廓的算术平均中线是指具有几何轮廓形状，在取样长度内，与轮廓走向一致的基准线，如图3－45。    5）轮廓峰、轮廓谷轮廓峰顶线是指在取样长度内，平行于基准线并通过轮廓最高点的线；轮廓谷底线是指在取样长度内，平行于基准线并通过轮廓最低点的线。如图3－46。图3－46轮廓峰、轮廓谷    （2）评定参数    1）

4、与微观不平度高度特性有关的评定参数:    ①轮廓的算术平均偏差（Ra）轮廓的算术平均偏差是指在取样长度内，轮廓偏距绝对值的算术平均值。用公式表示如下：                        或                式中Y(x)――轮廓偏距值；    l――取样长度；    Yi――第i点的轮廓偏距值。    ②微观不平度十点高度微观不平度十点高度是指在取样长度内，5个最大的轮廓峰高的平均值与5个最小的轮廓谷深的平均值。如图3－51a47。    ③轮廓最大高度轮廓最大高度是指在取样长度内，轮廓峰

5、顶线和轮廓谷低线之间的距离。如图3－48。    2）与微观不平度间距特性有关的参数:    ①轮廓微观不平度的平均间距轮廓微观不平度的平均间距是指在取样长度内，轮廓微观不平度的间距的平均值。轮廓微观不平度的间距是指含有一个轮廓峰和相邻轮廓谷的一段中线长度。如图3－49。图3－47十点高度图3－48轮廓最大高度图3－49不平度平均间距图3－50单峰平均间距    ②轮廓单峰平均间距轮廓单峰平均间距是指在取样长度内，轮廓的单峰间距的平均值。轮廓的单峰间距是指两相邻单蜂的最高点之间的距离在中线上的投影长度。如3－50。

6、3．2．6表面粗糙度的测量    常用的表面粗糙度的测量方法有比较法，光切法，光波干涉法和接触法，这些方法基本上是测量表面粗糙度的高度参数。    （1）比较法    比较法是把被测零件的表面与标准块的表面粗糙度进行对比的一种方法。它可以通过触觉，视觉或借助比较显微镜进行比较，最后加以评判。虽然比较法不能精确地测得表面粗糙度的参数值，但比较样块结构简单，使用方便，适用于一般的生产要求。    （2）光切法    光切法是利用“光切原理”，即光的反射原理测量表面粗糙度的一种方法，如图3－51。按这种原理设计的仪器叫光

7、切显微镜，如图3－52。图3－51光切法原理图图3－52光切显微镜原理    （3）干涉法    干涉法是利用光波干涉原理测量表面粗糙度的一种方法。使用的仪器为干涉显微镜，干涉法主要用来测量粗糙度参数Rz，也可测Ra、Sm和S等参数。    （4）接触法    接触法是通过仪器的测针与被测表面相接触而测量的。当触针以一定的速度沿着被测表面移动时，由于被测表面的微观不平，使触点产生微小的上下移动，将其移动量转换成电量，并经放大，从仪器的指示表中直接读出表面粗糙度的参数值，或经过记录装置将实际轮廓描绘下来。如图3－53

8、。