集成电路测试资料课件.ppt

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1、集成电路测试集成电路的复杂度要求计算机技术的发展9/6/20211测试介绍测试：就是检测出生产过程中的缺陷，并挑出废品的过程。测试的基本情况：封装前后都需要进行测试。测试与验证的区别：目的、方法和条件测试的难点：复杂度和约束。可测性设计：有利于测试的设计。9/6/20212简单的测试例子A=1,B=1=>Z=1A=0,B=1=>Z=0A=1,B=0=>Z=0A=0,B=0=>Z=09/6/20213可测性设计举例可控性：可观性：9/6/20214基本概念1：故障和故障模型故障：集成电路不能正常工作。故障模型：物理缺陷的逻辑等效。9/6/20215故障举例物理缺陷逻辑等效9/6/

2、20216逻辑门故障模型固定值逻辑：所有缺陷都表现为逻辑门层次上线网的逻辑值被固定为0或者1。表示：s-a-1,s-a-0。桥接逻辑门故障模型的局限性9/6/20217故障的等效和从属故障等效故障从属故障类型与测试码测试码故障ABCZ1110A/0,B/0,C/0,Z/10111A/1,Z/01011B/1,Z/01101C/1,Z/09/6/20218基本概念2：测试向量和测试图形测试向量：加载到集成电路的输入信号称为测试向量（或测试矢量）。测试图形：测试向量以及集成电路对这些输入信号的响应合在一起成为集成电路的测试图形。9/6/20219测试仪测试仪是测试集成电路的仪器。

3、它负责按照测试向量对集成电路加入激励，同时观测响应。目前，测试仪一般都是同步的，按照时钟节拍从存储器中调入测试向量。9/6/202110测试仪参数ParameterSentrySTSSTSEVMTektronixTester_channels120256256512Tester_Min_Cycles(ns)50505020Tester_Min_Pulse(ns)101055Tester_SB_Deadzone(ns)2015153Tester_Timesets66612Tester_Strobe22269/6/202111测试仪特点同步时序激励的波形有限响应的测试时刻有限支持c

4、lockburst9/6/202112测试仪的规定波形举例break管脚信号图9/6/202113测试仪的规定波形举例测试码规定图1：9/6/202114测试仪的规定波形举例测试码规定图2：9/6/202115测试向量的生成人工法程序自动生成自测试9/6/202116手工生成故障建立故障传播决策及测试码生成9/6/202117故障图9/6/202118手工测试码9/6/202119组合逻辑测试法1：差分法差分法(Booleandifferencemethod)是一种测试向量的生成方法。它不依赖路径传播等技巧，而是依靠布尔代数的关系，通过运算来确定测试向量。9/6/202120差

5、分法定义如果那么在xi上的固定逻辑值就可以被检测到，否则就不能。9/6/202121差分法的性质9/6/202122差分法如果g(X)与xi无关，则可以简化为：如果要检测s-a-0的故障，则使用：如果要检测s-a-1的故障，则使用：9/6/202123差分法的例子对于x1的错误，推导如下：9/6/202124测试法2：D算法激活传播决策9/6/202125D算法9/6/202126故障例子9/6/202127SoC测试中的几个常用技术静态电源电流测试(Iddq)扫描路径法BISTBoundaryScan9/6/202128IddqIddq:静态电流测试。测试时使电流越小越好。一

6、般设置：没有三态。内部RAM关闭。上下拉电阻设置为合适电平。9/6/202129扫描路径法扫描路径法是一种规则的可测试性设计方法，适用于时序电路。其设计思想是把电路中的关键节点连接到一个移位寄存器上，当作为扫描路径的移位寄存器处于串入/并出状态时，可以用来预置电路的状态。当作为扫描路径的移位寄存器处于并入/串出状态时，可以把内部节点的状态依次移出寄存器链。9/6/202130扫描路径法9/6/202131扫描路径法测试扫描路径本身移入测试序列，电路进入正常工作，测试与扫描路径相连的部分电路移出扫描路径，检查状态的正确性9/6/202132扫描路径法注意事项尽量使得扫描路径像一个

7、标准的扫描链。AvoidgatedclocksormakethempredictablewhenintestmodeAvoidlatchesormakethemtransparentwhenintestmodeControllableasynchronousset/resetduringtestmodeAvoidtri-statelogicifpossibleConfigureASICbi-directpinsasoutputonlyduringtestmode(makealloutpute