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时间:2020-06-05
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1、LED固晶破裂的解决办法单电极芯片在封装行业对固晶的要求非常高,例如在LED生产过程中,固晶质量的好坏影响着LED成品的质量。造成LED固晶破裂的因素有很多,我们仅从材料、机器、人为三方面因素,探讨LED固晶破裂的解决方法。 一、芯片材料本身破裂现象 芯片破损大于单边芯片宽度的1/5或破损处于斜角时,各单边长大于2/5芯片或破损到铝垫,此类芯片都不可接受(这个是芯片检验标准中的一个项目)。产生不良现象的原因主要有: 1.芯片厂商作业不当 2.芯片来料检验未抽检到 3.联机操作时未挑出 解决方法: 1.通知芯片厂商加以改善 2加强进料检验,破损比例过多
2、的芯片拒收。 3.联机操作Q检时,破损芯片应挑出,再补上好的芯片。 二、LED固晶机器使用不当 1、机台吸固参数不当 机台的吸嘴高度和固晶高度直接受机台计算机内参数控制。参数大,吸固高度小;参数小,吸固高度大,而芯片的破损与否,直接受机台吸固高度参数影响。产生不良现象的原因主要是:机台参数大,吸固高度低,芯片受力过大,导致芯片破损。 解决方法: 调整机台参数,适当提高警惕吸嘴高度或固晶高度,在机台“SETUP”模式中的“Bondheadmenu”内的第一项“PickLevel”调节吸嘴高度,再在第二项“BondLevel”调节固晶高度。 2、吸嘴大小不符
3、 大小不同的芯片要用不同的吸嘴固晶。大的芯片用小的吸嘴、芯片吸不起来容易漏固;小的芯片用大的吸嘴、芯片容易打破,因此选用适当的吸咀,是固好芯片的前提。产生不良现象的原因是:吸咀太大,打破芯片。 解决方法:选用适当的吸咀。 三、人为不当操作造成破裂 A、作业不当 未按规定操作,以致碰破芯片。产生不良现象的原因主要有: 1.材料未拿好,掉落到地上。 2.进烤箱时碰到芯片 解决方法:拿材料时候,手要拿稳。进烤箱时,材料要平着,轻轻的放进去,不可倾斜或用力过猛。 B、重物压伤 芯片受到外力过大而破裂。产生这种不良现象的原因主要有: 1.显微镜掉落
4、到材料上,以致打破芯片 2.机台零件掉落到材料上。 3.铁盘子压到材料 解决方法: 1.显微镜螺丝要锁紧 2.定期检查机台零件有无松脱。 3.材料上不能有铁盘子等任何物体经过。 大功率固晶机调机方法 三点一线----抓固晶高度---建立晶片视像---固晶设置 一、三点一线: (1)吸咀孔与十字线重合 机台系统设定---设定动件工作---切换镜头---下一页---顶针座聚焦位置---转至---移一个晶片到十字线中间---固晶臂抓晶位---转至---打开吸咀帽---调镜头(将十字线移到吸咀孔中间)---将吸咀帽拧紧---固晶臂复位---取下晶
5、片膜 (2)顶针与十字线重合 顶针聚焦位置---转至---顶针推晶等待高度---转至顶针顶出位---转至最后一页(顶针座X、Y归位位置)---调节顶针到十字线中间---顶针复位---看吸咀是否漏气(诊断功能)---电磁螺线管---吸头吹气---放上晶片膜 二、抓固晶高度: (1)抓晶高度和顶针高度 机台系统设定---设定工作位---切换图像,找一个晶片移到十字线中间---顶针座聚焦位置---固晶臂抓晶位顶针座顶上位---转至---在显微镜下观察吸咀与晶片接触---开真空---下一页---顶针顶出位---转至---在显微镜下观察顶针是否将晶片顶起1/2个晶片高度-
6、--顶针复位---晶片臂复位 (2)固晶高度 固晶参数---固晶头固晶高度 机台系统设定---设定动件工作台---固晶头接触(先固一颗晶片再探测高度) 三、建立晶片影像 建立样本---定义中心区域---设定晶片尺寸---晶片X步间---定义晶片距---晶片Y步间---定义晶片间距---寻找样本---搜寻后移动 四、定义晶片界限 在晶片膜上(晶片边缘)找三个点为位置1、2、3---设定区域 五、固晶位置: 首先将WH校准测试---点3(320/240)---PR角度计算---PR校正测试---点3---调三条线(对准支架三条边)---校正线---固
7、晶位置(点1和点2) 固晶机视像调校: 开始校准(顶针同一颗晶片同一个位置)---校准1---校准2--校准3—结束校准 胶量调整: 顺时针减胶逆时针加较 左侧四个按钮: 电源开关马达开关螺旋管开关紧急开关 左侧四个指示灯: “1”点胶臂传感器“2”漏固感应器“3”漏固感应器“4”固晶传感器 机台左侧的黑色按钮: “1”切换移动晶片的速度“2”切换图像“3”没有“4”没有“5”马达复位 红色健为停止健;绿色健为确认健 机
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