涂层测厚仪说明书(三).doc

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1、CTG260覆层测厚仪使用说明书1概述11.1测量原理11.2配置清单21.3仪器视图31.3.1测头视图及名称31.3.2主机视图及各部分名称31.3.3屏幕显示41.4技术参数51.4.1测量范围及测量误差（见附录1）51.4.2使用环境51.4.3电源51.4.4外型尺寸和重量52仪器的使用52.1基本测量步骤52.2各项功能及操作方法72.2.1测量方式（单次测量Û连续测量）82.2.2工作方式（直接方式Û成组方式）82.2.3单位制式转换（公制<=>英制）92.2.4统计计算92.2.5存贮92.2.6删除92.2.7设置限界102.2.8操作一览表1

2、12.2.9关于测量和误差的说明113仪器的校准123.1校准标准片（包括箔和基体）123.2基体123.3校准方法123.3.1零点校准123.3.2二点校准133.3.3修改组FX中的校准值143.4基本校准的修正154影响测量精度的因素154.1影响因素相关表154.2影响因素的有关说明164.3使用仪器时应当遵守的规定175保养与维修185.1环境要求185.2更换电池185.3故障排除186用户须知197附表201概述本仪器是一种便携式测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。通过使用不同的测头，还可满足

3、多种测量的需要。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业必备的仪器。本仪器符合以下标准：GB/T4956─1985磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量磁性方法GB/T4957─1985非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量涡流方法JB/T8393─1996磁性和涡流式覆层厚度测量仪JJG889─95《磁阻法测厚仪》JJG818─93《电涡流式测厚仪》特点：l采用了磁性和涡流两种测厚方法，即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度；l可使用10种测头(F400、F1、F1/90°、F5、F1

4、0、N400、N1、N1/90°、CN02、N10)；l具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）；l具有两种工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(A-B)；l设有五个统计量：平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）；l可采用单点校准和两点校准两种方法对仪器进行校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正；l具有存贮功能：可存贮495个测量值；l具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量；l可设置限界：对限

5、界外的测量值能自动报警；l具有电源欠压指示功能；l操作过程有蜂鸣声提示；l具有错误提示功能，通过屏显或蜂鸣声进行错误提示；l设有两种关机方式：手动关机方式和自动关机方式；1.1测量原理本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。a)磁性法(F型测头)当测头与覆盖层接触时，测头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可导出覆盖层的

6、厚度。b)涡流法(N型测头)利用高频交变电流在线圈中产生一个电磁场，当测头与覆盖层接触时，金属基体上产生电涡流，并对测头中的线圈产生反馈作用，通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的厚度。图1-1磁性法基本工作原理图1-2涡流法基本工作原理1.2配置清单名称数量备注主机1台标准配置F1测头1只标准片5片基体1块产品包装箱1个使用说明书1本其他用途的测头可选件仪器视图1.1.1测头视图及名称1.定位套2.V型口3.加载套4.连线5.插头6.锁母1.1.2主机视图及各部分名称1.仪器主机2.显示屏3.键盘4.测头插座5.仪器测头1.1.1屏幕显示1.数据显示2测量方式3

7、.测头类型指标4.存储记录计数指示5.测量单位6.电池电量指示.1.2技术参数1.1.1测量范围及测量误差（见附录1）1.1.2使用环境温度：-10℃~40℃湿度：20%～90%RH无强磁场环境1.1.3电源2×1.5VAA(5号)1.1.4外型尺寸和重量外型尺寸：1250mm×67mm×31mm重量：约400g2仪器的使用使用本仪器前，请务必仔细阅读第3章(校准)和第4章(影响测量精度的因素)2.1基本测量步骤a)准备好待测试件（参见第4章）；b)将测头插头插入主机的测头插座中，旋紧锁母；c)将测头置于开放空间，按一下“”键，开机；d)仪器自检显示所装测头类型

8、，界面如下：a)检查电池