涂层测厚仪说明书.pdf

《涂层测厚仪说明书.pdf》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在应用文档-天天文库。

1、涂层测厚仪说明书1概述本仪器是一种便携式测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。通过使用不同的测量头，还可满足多种测量的需要。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业必备的仪器。本仪器符合以下标准：GB/T4956─1985磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量磁性方法GB/T4957─1985非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量涡流方法JB/T8393─1996磁性和涡流式覆层厚度测量仪JJG889─95《磁阻法测厚仪》JJG818─93《电涡流式测厚仪》特点：采

2、用了磁性和涡流两种测厚方法，即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度；可采用单点校准和两点校准两种方法对仪器进行校准，并可用基本校准法对测量头的系统误差进行修正，保证仪器在测量过程中仪器的准确性；能快速自动识别铁基体与非铁基体具有电源欠压指示功能操作过程有蜂鸣声提示；设有两种关机方式：手动关机方式和自动关机方式；有负数显示功能，保证仪器在零位点的校准准确性；[*]有显示平均值、最大值、最小值功能；1.1测量原理本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢

3、等)上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。a)磁性法(F型测量头)当测量头与覆盖层接触时，测量头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可导出覆盖层的厚度。b)涡流法(N型测量头)利用高频交变电流在线圈中产生一个电磁场，当测量头与覆盖层接触时，金属基体上产生电涡流，并对测量头中的线圈产生反馈作用，通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的厚度。图1-1磁性法基本工作原理图1-2涡流法基本工作原理1.2配置

4、清单名称数量主机1台标准片5片[***][****]基体1块/2块7号干电池2个产品包装箱1个使用说明书1本1.3技术参数[*][**]●测量范围：0-1250um0-1500um●工作电源：两节5号电池●测量精度误差：零点校准±（1+3%H）；二点校准±【（1%～3%H）】H+1.5●环境温度0-40℃●相对湿度≤85%●最小基体10*10mm●最小曲率凸5mm;凹5mm●最薄基体：0.4mm●重量：99克（含电池）●尺寸102mm*66mm*24mm1.3.1电源2×1.5VAA(5号)2显示说明●按键显示屏幕的背光开光按键●显示屏幕的清除按键●

5、开机按键●归零按键●单位切换按键●加键、减键基础版增强版●mm(mil）测量单位●CAL校准提示●Fe表示磁性基体测量状态NFe表示非磁性基体测量状态●1000测量厚度显示区●T010表示第10次测量，AVG表示10次测量的平均值，MAX表示10次测量里面的最大值，MIN表示10次测量里面的最小值；平均测量最大可以是999次；●电源欠电压提示3使用说明1）开机按下ON键后仪器听到一声鸣响，自动恢复上次关机前的参数设置后，将显示0.0μm，仪器进入待测状态。可测量工件了。经过一段时间不使用仪器将自动关机。2）关机在无任何操作的情况下，大约3分钟后仪器自

6、动关机。按一下“ON”键，立即关机。3）单位制式转换（公制与英制转换）在待测状态下，按μm/mil可转换其测量单位。4）测量a)准备好待测试件b)是否需要校准仪器，如果需要，选择适当的校准方法进行(参照4仪器校准)c)迅速将测量头与测试面垂直地接触并轻压测量头定位套，随着一声鸣响，屏幕显示测量值，仪器会自动感应被测基体：感应到是磁性基体时仪器显示Fe；感应到是非磁性金属时仪器显示NFe。测量时请始终保持仪器处于垂直状态！提起测量头可进行下次测量；4仪器的校准为使测量准确，应在测量场所对仪器进行校准。4.1校准标准片（包括箔和基体）已知厚度的箔或已知覆

7、盖层厚度的试样均可作为校准标准片。简称标准片。a)校准箔对于磁性方法，“箔”是指非磁性金属或非金属的箔或垫片。对于涡流方法，通常采用塑料箔。“箔”有利于曲面上的校准，而且比用有覆盖层的标准片更合适。b)有覆盖层的标准片采用已知厚度的、均匀的、并与基体牢固结合的覆盖层作为标准片。对于磁性方法，覆盖层是非磁性的。对于涡流方法，覆盖层是非导电的。4.2基体a)对于磁性方法，标准片基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与待测试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与待测试件基体金属的电性质相似。为了证实标准片的适用性，可用标准

8、片的基体金属与待测试件基体金属上所测得的读数进行比较。b)如果待测试件的金属基体厚度没有超过表一中所规定的临