退火温度对电铸Ni-W合金组织与硬度的影响.pdf

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1、第34卷第1期河南科技大学学报:自然科学版Vo1.34No.12013年2月JournalofHenanUniversityofScienceandTechnology:NaturalScienceFeb.20l3文章编号:1672—6871(2013)01—0001—04退火温度对电铸N--W合金组织与硬度的影响成生伟,田文怀,周杰(北京科技大学材料科学与工程学院,北京100083)摘要:采用电铸法制得—w合金,对合金样品在400~700℃进行退火处理,随后进行显微硬度测试和显微组织分析。研究结果表明

2、:随着合金中w含量(质量分数)的增加,电铸合金从晶态过渡到非晶态;随着退火温度的升高,低w含量合金的硬度逐渐降低,晶体结构不变;高W含量合金((W)>35.00%)的硬度先升后降,其中(w)=35.35%的合金是由于Niw相的析出;含(W)=45.52%的合金则是由于非晶晶化及后续的NiW相的析出。关键词:电铸;Ni—W合金;显微硬度;微观结构中图分类号:TG146.15文献标志码:A0引言电铸作为一种现代加工技术,在许多领域都有着非常重要的用途。目前,电铸法制备的药型罩材料在晶粒的大小、形态和取向诸方

3、面具有可控性,使得电铸药型罩技术得到了国内外相关行业的高度重视¨I3,利用电铸技术成功地制备了纯cu和纯Ni药型罩¨]。镍及其合金由于具有优良的塑性、冲击韧性和耐腐蚀等特点,成为制备药型罩的首选材料之一“。w具有高熔点、高密度,Ni具有高声速、优良的动态变形性能,两者的结合使得Ni—W合金成为一种有前景的药型罩合金材料,但相关的研究还未见报道。本文用电铸法制备了不同成分的Ni.w合金,研究了退火温度对电铸合金的微观组织和硬度的影响,为后续的药型罩制备提供试验依据。1试验方法以氨基磺酸镍和钨酸钠为主盐,柠

4、檬酸为络合剂,用直流电铸法制备3种Ni—w合金。表1列出了3种镀液的组成及工艺条件。用氨水调节电铸液pH为4~6,阳极采用质量分数为99.98%的镍板,阴极为单面用过氯乙烯胶绝缘的不锈钢薄片,工作面积为0.50on×0.85on。电铸液用磁力搅拌器中速搅拌,转速为900r/rain,电铸温度设定为70cC,阴极电流密度为10A/dm,电铸时间设定为3h。对制备的3种合金分别在400oC、500℃、表1电铸Ni_w合金溶液成分600oC和700oC到温入炉,保温2h,然后空冷。Ni.w合金的晶体结构利用日

5、本理学(Rigaku)D/MAX。RB型x射线衍射仪(XRD)进行解析确定,化学成分利用LEO一1450扫描电子显微镜能谱分析技术(SEM.EDS)进行测定。合金热处理前后的显微硬度变化利用MVX—A显微硬度计进行测定,载荷为1N,作用时间15s。合金的显微组织利用OLYMPUS—BX51M型金相显微镜进行观察。2试验结果与讨论2.1电铸Ni-W合金的化学成分与晶体结构改变电铸液中w、Ni的含量制备了3种不同w含量的Ni—w合金。表2列出了3种试样的化学成基金项目:国家自然科学基金项目(50671012

6、)作者简介:成生伟(1979一),男,山西运城人,博士生,主要从事金属材料的研究收稿日期:2012—04—23·2·河南科技大学学报:自然科学版分分析结果(试样编号对应表1中的3种电铸方案)。从表2可以看出:随着电铸液中NaWO·2H0与Ni(NHSO):·4H:0比值的增大,所制备的Ni—w合金中w含量也增大。对3种电铸Ni.w合金的X射线衍射分析表23种试样的SEM·EDS化学成分分析结果结果,如图1所示。由图1可以看出:随着试样中w元素含量的增加,电铸合金从最开始的晶态逐渐过渡到非晶态。当W(w)

7、=2.61%时,合金在44.43。、51.84。、76.12。处都出现较强的衍射峰,且峰非常尖锐,这表明电铸合金呈晶态且为Ni(W)固溶体。因为w原子半径(r=0.1370nm)大于Ni原子半径(r=0.1243nm),w的固溶会引起Ni晶格的膨胀,从而导致Ni衍射峰的左移。随着w含量增加(W(w)=35.35%),Ni衍射峰进一步向低角方向移动,同时衍射峰宽化,峰强降低。当W(w)=45.52%时,电铸Ni—w合金的x射线衍射谱图呈现为漫散射包,表明合金为非晶态结构。这与文献[9—10]所得结果相一致

8、。Ni—w合金非晶态结构形成的缘由,主要是由于铸层中w元素含量的增加,造成Ni晶格的畸变,从而引起体系自由能的升高。随着镀层中w元素含量的不断增加,体系自由能也不断升高。当w元素含量增加到一定程度时,体系的自由能上升到能够跃迁过晶态转变为非晶态的“势垒”,就转变到“亚稳态”的非晶态结构。2.2电铸Ni-W合金的硬度和组织为了进一步了解电铸Ni—w合金的结构,本文进行了热处理试验,并测量了显微硬度。图2为电铸合金越憩靛经不同温度(t)热处理后

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