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时间:2020-05-18
《论文线缆组测试仪的设计说明.doc》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在行业资料-天天文库。
1、线缆组测试仪的设计院系:电子信息学院专业:电气工程及其自动化班级:学号:、:指导老师:2011年5月摘要:目录一概述..............................................................1(一)线缆组测试仪的设计背景.................................................1(二)MCU与CPLD配合在现代电路设计中的应用...................................2(三)本设计的主要工作......................................
2、.................2二线缆组测试仪的宏观设计............................................2(一)测试仪的工作原理及系统分析.............................................2(二)测试仪的宏观结构.......................................................2(三)MCU的选型.............................................................3(四)PLD的选型..........
3、....................................................5(五)AVR与CPLD通信协议的选择..............................................6(一)系统软硬件的协同设计..................................................9(二)外观结构设计.........................................................19四系统调试与测试....................................
4、...............22(一)调试中的问题和解决....................................................22(二)实验结果分析..........................................................22五系统下一步工作...................................................22致词...............................................................22参考文献..........
5、...................................................23附录.................................................................24(一)系统原理图...........................................................24(二)毕业设计过程中所涉及的软件...........................................25(三)英文论文...................................
6、..........................25(四)中文翻译.............................................................30摘要:本文简介了线缆组测试仪设计背景和意义,以及单片机与复杂可编程逻辑器件配合在现代电路设计中的应用及趋势。介绍了单片机、CPLD、键盘、LCD等电路和器件的选择,并提到了AVR单片机的功能特点。还介绍了串行外设接口SPI的特点,以及AVR与CPLD采用SPI通信的优点。并详细介绍了以AVR单片机为核心、CPLD为辅助接口制作线缆组测试仪的过程。具体实现了整个系统硬件和软件系统的设计、制作
7、和调试。最后给出了系统功能可以进一步完善的基本思路。系统在实验室环境下实际运行和相关测试,结果表明:该系统稳定性好、使用简单方便,达到了预期的性能和要求。关键词:线缆组测试仪AVR单片机复杂可编程逻辑器件串行外设接口ThetechonologyresearchofTestingApparatusForFormcableYangXiaodongAbstractThethesisintroducesdesignbackgroundandmeaningoftestingap
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