实验二 箱类零件位置误差的测量.doc

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时间:2020-05-15

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1、实验二 箱体类零件位置误差的测量一、测量原理与特点形状和位置误差因测量项目较多,且受零件结构与精度要求的不同等多种因素的限制,其测量方法也千差万别。本次实验的被测件为一箱体类零件,根据其结构及精度要求可选择“平台测量法”进行测量。所谓的“平台测量法”是以精密测量平板为基本的测量器件,并辅以百分表、千分表、高度尺、直角尺等通用量具,通过不同的组合完成测量。该测量方法具有以下主要特点:1.对测量条件要求不高,容易实现;2.适用面广,一般的中等精度零件均可测量;3.受测量器具精度限制,该方法不适合测量较高精度的零件;4.该方法的测量效率不高,一般不适合大批量的检验与测

2、量。二、器具:        1、百分表    2、杠杆百分表    3、内径百分表    4、外径千分尺     5、宽坐直角尺    6、游标高度尺”    7、其它辅助检具  图2-1位置度误差测量三、测量步骤 1、位置度误差的测量: ⑴将被测零件的基面A放在平板上(见图2一1)。 ⑵测量孔径:按孔径基本尺寸选好测量头,装在内径百分表上,用外径千分尺对零位,测出孔径D ⑶用高度游标尺分别测出孔壁到基准面A的距离La. ⑷再将被测件的基准面B放在平板上,用高度游标尺测出孔壁到基准面B的距离Lb ⑸将La、Lb.分别加上实际孔的半径,求出孔中心到基准面A、B的

3、距离X实、Y实。                 ⑹将实测值与相应的理论正确尺寸比较,得出偏差fX、fY,则孔的位置度误差为: ⑺进行合格性评定。当实测值小于给定的公差值时该项目合格,若被测孔径偏离MMC状态时则应考虑补偿值。2、垂直度误差的测量 ⑴用一长心轴模拟被测孔的公共轴心线。用一短心轴模拟基准孔的轴心线 ⑵将被测零件的B平面放在三个可调支承上(见图2-2)。⑶用宽坐直角尺分别在任意方向上检查基准孔的心轴与平板的垂直度(用光隙法),若不垂直可通过调整可调支承使基准轴心线与平板平行。⑷用百分表分别在被测孔靠近箱体壁的左右两侧读取最高点的读数。两读数之差即为被

4、测孔与基准孔轴线的垂直度误差。               图2-2 垂直度误差测量                          ⑸进行合格性评定。当实测值小于给定的公差值时该项目合格。。  3、平行度误差的测量⑴孔轴线与基准平面平行度误差的测量①将被测零件的基准面F直接置于平板上.如图2-3, 图2-3 平行度误差测量被测孔中放入模拟心轴.②用百分表分别靠近箱体壁的左右两侧在心轴最高点处读取读数,二读数之差即为被测轴线对基准平面的平行度误差。⑵被测平面与基准于面平行度误差的图           测量用百分表测量被测平面上各点的读数,读数的最大值与最小值

5、之差即为该被测平面对基准平面的平行度误差。         图2-4同轴度误差测量 ⑶进行合格性评定。当实测值小于给定的公差值时该项目合格4、同轴度误差的测量  ⑴用心轴分别模拟基准孔与被测孔的轴心线,将被测零件的A平面置于三个可调支承上(见图2-4). ⑵将基准孔的模似心轴,调整到与平板平行(可用百分表在该孔两端的两点进行测量,调整到与两端最高点读数相等,即表示心轴与平板平行),记下此时的读数,则该点至平板的距离为:  L+(φD/2)  ⑶用百分表在靠近被测孔模似心轴的两端A、B两点处分别测出最高点读数,并计算与高度L+(φD/2)的差值fAX、fBX。⑷将

6、被测件翻转90度上述方法测出fAX、fBX(由于测量空间较小,要改用杠杆百分表)。                                    ⑸计算被测孔两端的同轴度误差。  A点处的同轴度误差为:      B点处的同轴度误差为:   取其中较大者作为该被孔的圆度误差。⑹进行合格性评定。当实测值小于给定的公差值时该项目合格。四、填写测量报告单按要求将被测件的相关信息、测量结果及测量条件填入测量报告单(4)中。测量报告单(4)被测件名称 图号 送检单位 送检数量 测量结果(毫米)测量项目测量值误差值公差值合格性位置度误差左    右  基准孔与被测孔

7、的垂直度误差      平行度误差孔轴线对平面    平面对平面    同轴度误差第一位置    转90°后  测量方法 结论 测量日期年月日测量者 五、实验小结 1、填空:  ⑴在“平台测量法”中精密测量平板被用作 _____。  ⑵在实验中当实测孔径为30.02mm,则可获得位置度误差的补偿值为 _____mm。  ⑶测量平面与孔的平行度误差时,其数据采集方式与测量垂直度误差相似,而测量项目却根本不同,这是因为_____发生了改变。 2、选择:  ⑴用“平台测量法”测量同轴度误差时实际误差值需经计算才能得到,故属 _____。    A、直接测量 B、间接测

8、量; C、非接触测量; 

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