锁定检测电路分析实现毕业论文

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1、锁定检测电路分析实现毕业论文目录摘要IAbstractII1引言122.5GHzPLL锁定检测电路工作原理分析22.1锁相环结构简介22.2锁相环的作用简介22.3锁定检测332.5GHzPLL锁定检测电路总体设计方案53.1概述53.2设计目标63.3顶层设计方案73.4验证与测试1142.5GHzPLL锁定检测电路反向提取分析124.1锁定检测电路外部引脚124.2锁定检测电路内部结构134.3锁定检测电路的实现154.4反向提取的锁定检测电路图1652.5GHzPLL锁定检测电路SMIC0.18工艺下重新设计175.1反相器设计175.2D触发器设计185.3计数器设计185.4

2、十八输入或非门设计195.5与非门设计205.6时钟设计215.7锁定检测电路设计小结2162.5GHzPLL锁定检测电路HSPICE下晶体管级仿真22II6.1触发器模块仿真测试226.2异或门仿真测试236.3十八输入或非门仿真测试246.4与非门仿真测试256.5锁定检测电路整体仿真测试2672.5GHzPLL锁定检测电路verilogHDL语言描述307.1基本模块的描述307.2锁定检测电路的整体描述328结论33致谢84参考文献84附录：锁定检测电路的Verilog硬件语言描述84II2.5GHzPLL锁定检测电路分析实现摘要在集成电路设计中，需要使芯片上内部时钟和外部时钟

3、同步，希望在外部时钟输入的高频率下使用芯片的内部时钟。基于以上两点，锁相环常常用于产生芯片上的内时钟。但是随着处理器频率的提高，传统的数字锁相环已经不能满足要求。在本文中，我们将展现一个新的锁相环锁定检测方法。锁定检测的功能是检测锁相环是否达到锁定。2.5GHzPLL锁定检测电路分析实现，就是要完成锁定检测电路的正向总体设计方案，锁定检测电路的反向提取，再在反向提取电路的基础上在SMIC0.18um工艺下进行重新设计，并完成HSPICE下的晶体管级仿真。2.5GHzPLL锁定检测电路分析实现的难点与重点是反向电路的提取和SMIC0.18工艺下的重新设计。本文所讨论的锁相环能够锁定更高频

4、率的时钟。该锁定检测电路采用比较成熟的SMIC0.18um工艺。锁相环的压控震荡器的输出频率可以高达2.5GHZ。另外，该锁相环能够锁定高达到2.5GHZ的输出频率。我们采用模拟电路来代替以往的数字的锁定检测电路。在SMIC0.18um工艺下，采用本文所讨论的锁定检测电路而设计的锁相环相对其他的锁相环而言，具有更大的优越性。关键词：锁相环锁定检测SMIC0.18um工艺集成电路332.5GHzPLL锁定检测电路分析实现AbstractInintegratedcircuitdesign,weneedtomaketheinternalclockandtheexteriorclockofth

5、echipsynchronous,wealsohopetousetheinternalclockofthechipunderthehighfrequencyclockoftheexterior.Accordingtotheabove,Phase-lockedloops(PLLs)areusuallyusedtocreateinsideclockofthechip.Butalongwiththeexaltationoftheprocessorfrequency,thetraditionaldigitalPLLhasalreadycan'tsatisfytherequest.Inthisp

6、aper,anewmethodofPLLlockdetectorwillbepresented.ThefunctionofthePLLlockdetectoristotestPLLwhetherattaintotargetornot.Theanalysisandrealizationofthe2.5GHzPLLlockdetectoristocompletetotaldesignproject,tocompletetheanti-todistillofcircuit,baseontheanti-todistillofthecircuitandcarryonre-designingint

7、heprocessofSMIC0.18um,andcompletetheHSPICEsimulationofthetransistorclass.Thedifficultyandimportanceofanalysisandrealizationofcircuitof2.5GHzPLLlockdetectoristheanti-todistillofthecircuitandre-designundertheprocessofSMIC0.18u