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时间:2020-04-22
《基于空间频域算法的三维微观形貌的测量-论文.pdf》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在应用文档-天天文库。
1、第41卷第8期光电工程Vo1.41,No.820l4年8月Opto—ElectronicEngineeringAugust,2014文章编号:1003—501X(2014)08—0016—06基于空间频域算法的三维微观形貌的测量徐永祥,张乾方,刘松松,刘义(南京理工大学物理系,南京210094)摘要:白光干涉术测量表面形貌,解决了单色光干涉测量中的相位不确定困扰。基于扫描白光干涉术的空间频域算法,具有受噪声影响小计算精度高的优点运用这一算法通过Mirau扫描干涉昱微镜对台阶状样品表面进行了两次白光扫描测试,得出了台阶表面形
2、貌结果,且两次测量的台阶高度相差不超过1nm。同时,利用ZygoNewview7200白光形貌仪对同一样品表面进行了测试对比,结果表明:两者得到的样品表面形貌一致,台阶高度相差0.9am。此外,实验数据处理的结果还表明:运用空间频域算法进行分析时二阶以上的色散完全可以忽略。关键词:白光干涉;空间频域算法;三维形貌;干涉显微镜中图分类号:TH741;TN249文献标志码:Adoi:10.3969/j.issn.1003—501X.2014.08.0033DMicroTopographyMeasurementBasedonSp
3、atialFrequencyDomainAlgorithmXUYongxiang,ZHANGQianfang,LIUSongsong,LIUYi(Departmentofics,NanjingUniversityofScienceandTechnology,Nanjing210094,China)Abstract:Whitelightinterferometryfortopographymeasurementcanavoidphaseuncertaintytroublewhichexistsinlaserinterfero
4、metry.SpatialFrequencyDomainAlgorithm(FDA),basedonwhite—lightscaninterferometry,hastheadvantageofinsensitivitytonoiseandhighercalculationaccuracycomparedwithothermethods.ApplyingFDA,twowhitelightscanningtestsOilthes~Nceofastep—likesamplearecarriedonwithaMirautyped
5、scaninterferencemicroscope.Thustwosteppedprofileresultsareobtained,theirstepheightsdiferencenotexceeding1nm.Meantime,thesamesampleisalsotestedwithaZygoNewview7200profiler,bothtopographyresultsagreeingwitheachotherandstepheightsdiferingby0.9nm.Besides,dataprocessin
6、gresultsalsoshowthatthechromaticdispersionhigherthan2“orderiscompletelynegligiblewhenapplyingFDA.Keywords:whitelightinterferometry;frequencydomainalgorithm;threedimensionaltopography;interferometricmicroscope0引言机械制造、电子工业、二元光学、机器人视觉等领域的快速发展,对三维形貌的测试技术提出了越来越高的要求。因此对
7、表面微观形貌测试技术展开研究,有着十分重要的意义和广阔的应用前景。目前对三维形貌的测量可分为两大类:接触式和非接触式。前者主要包括触针式测量法和原子力显微镜(AtomicForceMicroscope,AFM)~i]量法。其中,AFM测量法的特点是三维均具有高精度。非接触式测量通常采用的是基于光学测量的方法,如光学探针法】、莫尔条纹法[5]、三维全息测量术及移相干涉法等。其中,光学探针法原理上类似于机械触针式,只是其探针为聚焦光束,它的测量分辨力受机械扫描机构运动误差和电路噪声的影响,同时难以控制探针焦点使其始终落在被测面
8、上,此外因测量属于逐点收稿日期:2013-1卜15;收到修改稿日期:201401—26基金项目:2012年江苏省“百千万计划”资助项目作者简介:徐永祥(1962。),男(汉族),江苏扬扑IA。副教授,tg~,主要从事光电检测技术的研究。EIllail:yx_xu@sina_c(】m。http://www
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