数字电子部分.ppt

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1、数字电子部分实验1基本逻辑门逻辑功能测试及使用实验2TTL74系列与非门器件参数测试实验3中小规模集成电路组合逻辑设计实验4触发器、锁存器功能测试及应用实验5集成计数器及应用实验6555定时电路及应用返回实验内容实验1基本逻辑门逻辑功能测试及使用一、实验目的熟悉数字电路实验系统的正确使用。掌握各种常用门电路的逻辑符号及逻辑功能。了解TTL、CMOS集成电路外引线排列。了解TTL、CMOS集成电路的标示识别。了解TTL、CMOS集成电路正确的使用方法。通过验证掌握常用的TTL、CMOS集成门电路的逻辑功能。熟悉并掌握OC门、三态门的典型应用。数字电子部分

2、返回实验内容实验1基本逻辑门逻辑功能测试及使用二、实验器材数字实验系统一台。TTL集成门电路74LS00二输入端四与非门，74LS32二输入端四或门，74LS08二输入端四与门，74LS04六反相器，74LS125四三态门。74LS86四异或门，CMOS集成门电路CD4002四输入端二或非门各1块。数字万用表1块。三、预习要求认真复习知识要点所述内容。查找书后附录，画好进行实验用各芯片管脚图及实验接线图。画好实验用记录表格。数字电子部分返回实验内容实验1基本逻辑门逻辑功能测试及使用四、实验内容及要求在实验系统（箱）上找到相应的门电路。并把输入端接实验箱

3、的逻辑开关，输出接发光二极管，接线见图2-23a。验证与门，或门，与或非门，异或门及反相器的逻辑功能。若实验系统（箱）上无门电路集成元件，可把相应型号的集成电路插入实验箱集成块空插座上。注意必须再接上电源正，负极，输入端接逻辑开关，输出端接发光二极管LED，即可进行验证。见图2-23b。按门电路逻辑功能表2-16中“与门”一栏输入A,B（0，1）信号，观察输出结果（看发光二极管，如灯亮为1，灯灭为0）填入表2-16中。按同样方法验证“或门”74LS32，“与非门”74LS20，“异或门”74LS86，反相器74LS04的逻辑功能，并把结果填入表2-16

4、中。数字电子部分返回实验内容实验1基本逻辑门逻辑功能测试及使用验证CMOS或非门CD4002逻辑功能:CD4002逻辑图见图2-24a，接线图见图2-24b。记录测试数据并填入自己设计的记录表格。三态门74LS125应用测试：74LS125三态门外引脚排列见图2-25。利用74LS125三态门“线与”连接，实验电路见图2-26。三个三态门的输入分别接高电平、地、连续脉冲。根据三个开关不同状态观察指示灯的变化，体会三态门的功能。自行设计记录表格进行记录。数字电子部分返回实验内容实验1基本逻辑门逻辑功能测试及使用五、实验报告要求画出实验用逻辑门的逻辑符号，

5、并写出逻辑表达式。整理实验表格和结果。总结三态门功能及正确的使用方法。通过本次实验总结TTL及CMOS器件的特点及使用的收获和体会。回答思考题。六、思考题欲使1只异或门实现非逻辑，电路将如何连接，为什么说异或门是可控反相器?对于TTL电路为什么说悬空相当于高电平?而CMOS集成门电路多余端为什么不能悬空？数字电子部分返回实验内容实验2TTL74系列与非门器件参数测试一、实验目的掌握TTL集成与非门的主要参数的测试方法。掌握TTL器件的使用规则。进一步熟悉数字电路实验箱的结构、基本功能和使用方法。加深对与非门逻辑功能的认识。二、实验器材数字实验系统。数字

6、万用表。74LS00集成电路、1kΩ电位器、200Ω电阻各1个。数字电子部分返回实验内容实验2TTL74系列与非门器件参数测试三、预习要求复习TTL与非门各参数定义、意义与测试方法。熟悉与非门静态传输特性及测试方法。四、实验内容及要求74LS00技术参数的测试Iil测试线路见图2-29a，Iih测试线路见图2-29b,UOH、UOL测试线路见图2-29c。将测试结果记入表2-17中。电压传输特性的测试按图2-29d接线，调节电位器Rw，使Ui从0V向高电平变化，逐点测量Ui和对应于Ui的Uo值，记入表2-18中。数字电子部分返回实验内容实验2TTL74

7、系列与非门器件参数测试五、实验报告要求记录、整理实验结果，并对结果进行分析。画出实测的电压传输特性曲线，并从中读出有关参数值。六、思考题TTL与非门输入端悬空相当于输入何种逻辑？为什么？如何处理各种门电路的多余输入端？数字电子部分返回实验内容实验3中小规模集成电路组合逻辑设计一、实验目的掌握用SSI及MSI实现组合电路的设计方法。掌握实现组合电路的连接及调试方法。通过功能验证锻炼解决实际问题的能力。二、实验器材数字实验系统。TTL型集成电路与非门74LS00、或非门74LS02、异或门74LS86、4-16线译码器74LS154，其他自选或相应CMOS

8、器件皆可。数字电子部分返回实验内容实验3中小规模集成电路组合逻辑设计三、预习要求根据所指定的设