数控系统自适应加速寿命试验优化.pdf

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1、第11期组合机床与自动化加工技术No.112014年11月ModularMachineTool&AutomaticManufacturingTechniqueNOV.2014文章编号:1001—2265(2014)11—0026—03DOI:10.13462/j.cnki.mmtamt.2014.11.007数控系统自适应加速寿命试验优化乾凡,游达章,张业鹏(湖北工业大学机械工程学院湖北省现代制造质量工程重点实验室,武汉430068)摘要:将温度作为唯一的应力应用于自适应加速寿命的试验方法中进行试验,在应用改进的遗传算法的情况下,最小精度由试验

2、而得,自适应最佳的加速寿命试验方案优化设计的方法由此设计得到,该优化方案的目标是正常工作应力水平下产品的可靠性评估精度和试验的截尾数量,即试验的成本,在这种情况下,自适应加速寿命试验方案的优化设计的数学模型依据温度应力而建立。试验以数控系统HNC一21M为样本,其优化设计的结果显示,优化后的试验在试验数据的评估精度提高的同时也减少了试验的次数,并且试验的样本量和试验时间不同程度的减少和缩短。关键词:适应加速寿命;优化方案;改进的遗传算法;评估精度中图分类号:TH166:TG659文献标识码:AIIheOptimizationofAdaptive

3、AcceleratedLifeTestinNumericalControlSystemQIANFan,YOUDa-zhang,ZHANGYe—peng(MechanicalEngineeringDepartment,KeyLabofModernManufactureQualityEngineeringHubeiUniversityOfTechnology,Wuhan430068,China)Abstract:Aimingattheproblemoftemperaturestressacceleratedlifetestdesign,adapti

4、veacceleratedlifetestmethod,Weestablishedthemathematicalmodelofadaptiveacceleratedlifetestofoptimizationdesignunderthetemperaturestress,whichaccordingtothemethodofadaptiveacceleratedlifetestingschemeopti—mizationdesignisproposedandthegoalofproductsinthereliabilityevaluationp

5、recisionduringnormalworkingstressleveltesttruncatednumber(testcost),Intheapplicationoftheimprovedgeneticalgorithmtheoryestablishedtheexperimentonthebasisofthetemperatureatwhichtheminimumaccuracy.OnHNC一21MofCNCsystemoftemperaturestressacceleratedlifetestoptimizationdesignresu

6、ltsshowthat.Itisnotonlycanimprovetheestimationprecisionoftestdata,reducetesttimes,butalsocanreducethesamplesizerequiredforthetest,andcanshortenthetesttimeafteroptimizationoftestingscheme.Keywords:adaptiveacceleratedlife;optimization;improvedgeneticalgorithm;accuracyofevaluat

7、ion试验相比,效率可更加得以提高。O引言近年来由于遗传算法、模拟退火算法等采用了随数控系统一直是研究者们进行自适应加速寿机搜索的方法,因良好的全局优化性能和稳定性而发命试验优化的研究重点,因为样本的寿命指标的评展迅速,但遗传算法也有某些缺陷,如收敛速度慢、过估精度和试验的效率、成本根据试验的优化方案而早的进入收敛和搜索在后期表现不活跃等。这些问题定,所以对数控系统的自适应加速寿命的优化方法的存在将在本文给出了新的改进遗传算法的方法中得进行研究,其意义非常重大。在各种性质的加速寿到解决。命中,自适应加速寿命试验相比于其他寿命试验像文献[1]给出

8、了从3个方向对遗传算法的改进,步进和步降,它具有:①由前期试验信息或摸底试其主要是将前期的最优个体保存下来、定时地对现存验可知,试验的起始应力定在样品

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