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1、2002年12月 强度与环境Dec.2002第29卷第4期STRUCTURE&ENVIRONMENTENGINEERINGVol.29,No.4高加速寿命试验(HALT)与高加速应力筛选(HASS)褚卫华 陈 循 陶俊勇 张春华 蒋 培(国防科技大学机电工程与自动化学院,长沙410073)摘要:本文简要介绍了HALT/HASS试验技术的产生、发展及在国外的应用情况,在深入分析HALT/HASS试验技术基本原理和环境应力与诱发的故障模式之间关系的基础上,阐述了HALT/HASS试验技术的核心———
2、试验剖面图的建立方法,并对HALT/HASS试验技术的特点、所需资源和其它的相关内容作了说明。关键词:高加速寿命试验; 高加速应力筛选; 高加速应力鉴定; 环境应力筛选; 筛选强度中图分类号:O346.2文献标识码:A文章编号:100623919(2002)0420023215HighlyAcceleratedLifeTest(HALT)AndHighlyAcceleratedStressScreen(HASS)CHUWe2HuaCHENXunTAOJun2YongZHANGChun2HuaJIANGPe
3、i(CollegeofMechatronicsEngineeringandAutomation,NationalUniversityofDefenseTechnology,ChangSha410073)Abstract:Inthispaper,theproducing,developmentandapplicationoftheHALT/HASStechniquearebrieflyintroduced.Basedonthedeeplyanalyzingthefundamentalprincipleoft
4、heHALT/HASStechniqueandtherela2tionsbetweentheappliedenvironmentalstressesandthefailuremodesexcitedbythesestresses,themethodthatisusedtodesigntheHALT/HASSprofileisdescribed.Moreover,theHALT/HASScharacteristicsareparticular2lyexplained,andtheneedingresourc
5、einHALT/HASSandothermattersarepresentedindetail.Keywords:Highlyacceleratedlifetest(HATL);Highlyacceleratedstressscreen(HASS);Highlyacceler2atedstressaudit(HASA);Environmentalstressscreen(ESS);Screeningstrength1 引言随着科学技术的发展,现代电子设备的复杂程度越来越高,而且发展速度也很快,可靠性问题也
6、越来越尖锐,传统的可靠性环境模拟试验已经远远不能赶上现代电子设备发展的步伐。激发试验就是在克服环境模拟试验试验周期长、试验效率低、试验耗费大等缺点的基础上发展起来的一种新的可靠性试验技术。激发试验与环境模拟试验思路不同,它不是模拟真实环境,而是对试件施加比产品实际使用条件残 收稿日期:2002204210 作者简介:褚卫华(19682),男,博士生,主要从事可靠性试验技术、机械设备状态监测与故障诊断等研究。©1995-2003TsinghuaTongfangOpticalDiscCo.,Ltd.Allri
7、ghtsreserved.24强度与环境 2002年酷的多的环境和工作应力,快速激发并排除产品潜在的缺陷来达到提高产品可靠性和缩短高质量产品研制周期的目的。激发试验可实现在不足原来1/5～1/10的试验费用的情况下,获得的可靠性水平是传统试验的数百倍。美国G.K.Hobbs、K.A.Gray和L.W.Condra等人最早开始从事研究如何采用强化应力激发缺陷[1]的方法快速有效地暴露设计薄弱环节和剔除制造工艺缺陷的试验技术,并把他们所研究的试验方法称为高加速寿命试验(HAL
8、T,HighlyAcceleratedLifeTest)和高加速应力筛选(HASS,HighlyAccelerat2edStressScreen),前者是针对设计的,后者是针对生产过程的。这种方法的核心是对产品施加大大超过设计规范的极限应力,一步一步地加,逐渐排除缺陷,故又称步进应力试验方法。图1说明了HALT和HASS是如何融进产品设计、研制和生产过程的。图1HALT和HASS与产品设计及生产周期的关系2HALT和HASS试
