SPC过程品质测量方式的演进--EDWIN888.pdf

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1、过程品质测量方式的演进正态分布控制图(%)Ca／Cp／Cpk(ppm)6σ1850192419601980高斯W.AShewhart日本Motorola美国1992TI1994AlliedSignal95GE98Sony1概　述◎统计方法的定义：资料的收集、整理与解释，并导出结论或加以推广。◎资料种类：计数值（间断资料，DiscreteData）计量值（连续资料，ContinuousData）◎资料来源：原材料过程（过程参考）检验（产品特性）2群体与样本nＮxμsσ3数字数据处理的步骤1.原始资料审核：保

2、存资料的真实性。2.分类的决定：分成几类，避免重复及遗漏。3.分类后整理：进行归类。4.列表：根据结果编成适用的表式。5.绘图：绘成统计图。4统计技术之应用1.市场分析2.产品设计3.相依性规格、寿命及耐用性预测4.过程控制及过程能力研究5.过程改善6.安全评估／风险分析7.验收抽样8.数据分析，绩效评估及不良分析5SPC使用之统计技术1.柏拉图（决定管制重点）2.统计检定3.控制图4.抽样计划5.变差分析／回归分析6制程管制系统过程中对策绩效报告成品改善过程中对策人员设备材料成品方法环境7过程管制系统1

3、.过程：过程乃指人员、设备、材料、方法及环境的输入，经由一定的整理程序而得到输出的结果，一般称之成品。成品经观察、测量或测试可衡量其绩效。SPC所控制的过程必须符合连续性原则。2.绩效报告：从衡量成品得到有关制程绩效的资料，由此提供过程的控制对策或改善成品。3.过程中对策：是防患于未然的一种措施，用以预防制造出不合规格的成品。4.成品改善：对已经制造出来的不良品加以选别，进行全数检查并修理或报废。8正态分配μ±Kσ在内之或然率在外之或然率μ±0.67σ50.00%50.00%μ±1σ68.26%31.74

4、%μ±1.96σ95.00%5.00%μ±2σ95.45%4.55%μ±2.58σ99.00%1.00%μ±3σ99.73%0.27%9正态分配10控制界限的构成11共同原因与特殊原因之变差ú共同原因：过程中变差因素是在统计的控制状态下，其产品之特性有固定的分配。ú特殊原因：过程中变差因素不在统计的控制状态下，其产品之特性没有固定的分配。12过程中只有共同原因的变差13过程中有特殊原因的变差14第一种错误与第二种错误(αrisk;βrisk)15第一种错误与第二种错误(αrisk;βrisk)控制界限α值

5、平均值移动β值1-β值±1σ31.74%±1σ97.72%2.28%±2σ4.56%±2σ84.13%15.87%±3σ0.27%±3σ50.00%50.00%6±4σ%±4σ15.87%84.13%31016共同原因与特殊原因之对策1.特殊原因之对策（局部面）ò通常会牵涉到消除产生变差的特殊原因ò可以由过程人员直接加以改善ò大约能够解决15%之制程上之问题2.共同原因之对策（系统面）ò通常必须改善造成变差的共同问题ò经常需要管理阶层的努力与对策ò大约85%的问题是属于此类系统17SPC导入流程建立可解决

6、问题之系统确认关键过程及特性导入ＳＰＣ进行关键过程及特性之控制检讨过程能力提报及执行符合规格程序不过程改进计划足够足持续进行过程改进计划18控制图的应用决定控制项目决定控制标准决定抽样方法选用控制图的格式记入控制界限绘点、实施NGOK处置措施控制图判读OK重新检讨控制图19控制图的选择控制图的选择计量值计数值数据性质？n≧2样本大小n=1不良数数据系不良数缺点数n=？或缺点数~XX不是是不是是CL性质?n是否相等？单位大小是否相关n=2~5n≧10n=？n=3或5~PPNUCX−RX−RX−σX−Rm控控

7、控控控控控控制制制制制制制制图图图图图图图图20计量值／计数值控制图公式汇总控制图CLUCLLCL附注n=2～5最适当-Rμ，σ未XX=∑X/kX+A2RX−A2RX知Rn<10以下计R=∑R/kD4RD3R-σμ，σ未XX=∑X/kX+A3SX−A3S10≦n≦25量X知SX=∑S/kB4SB3S〜~~~N=3or5较佳值〜-RXX=∑X/kX+m3A2RX−m3A2RX与之R图相同RR=∑R/kD4RD3RXk：组数X-RmX=∑R/kX+E2RmX-E2Rmn：样本大小RmRm=∑Rm/(k-n+1

8、)D4RmD3Rm计P+3P(1−P)/nP−3P(1−P)/nP使用小数PP=∑d/∑nP使用%数P+3P(100−P)/nP-3P(100−P)/n值PnnP=d=∑d/knP+3nP(1−P)nP−3nP(1−P)n=1/P〜5PC样本大小相同时使用C=∑C/kC+3CC-3C，n=20~25UU=∑C/∑nU−3U/n样本大小不同时使用U+3U/n(为阶梯界限)n=20~2521X−R控制图（平均值与全距）1.公式：(