jjg 764-1992 立式激光测长仪检定规程.pdf

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1、中华人民共和国国家计量检定规程JJG764-92立式激光测长仪1992年2月15日批准1992年8月1日实施国家技术监督局目录一概述······“···，·········“·”·..⋯⋯”⋯⋯，··，···⋯⋯“··⋯⋯(1)二检定项目和检定条件··················⋯⋯‘·····⋯⋯‘·····一(7)三技术要求和检定方法·...............................................(2)四检定结果处理和检定周期················“，··········，.”·⋯⋯(13)附录关

2、于对测量误差进行“实时综合修正”的调整方法“二“<14)标准分享网www.bzfxw.com免费下载立式激光测长仪检定规程，峥峥峥峥峥峥峥峥、全备VerificationRegulationof霉JJG764-92重t备VerticalLaserMetroscope、hhhhhhhh扩本检定规程经国家技术监督局于1992年2月15日批准，并自1992年8月1日起施行.归口单位:上海市技术监督局起草单位:上海市计量技术研究听本规程技术条文由起t".单位负贵解祥.本规程主要起草人:，沈志泽(上海市计量技术研究所)参加起草人:张学能(上海第二光学仪器厂

3、)于淮平(上海市计量技术研究所》标准分享网www.bzfxw.com免费下载JJG764-92共14页第1页立式激光测长仪检定规程本规程适用于新制造、使用中和修理后的测量范围在0^100mm以内，分辨率为0.1Wm立式激光测长仪的检定。一概述立式激光测长仪(以下简称“仪器”)，是用He-Ne激光波长作为长度基准，应用光波干涉原理，可用来直接测量的长度仪器。主要用于对低等量块、球形、圆柱形和精密零件的厚度，平行度等的测量。具有数字显示，打印记录功能。采用“实时综合修正”方法，提高测量的准确度。仪器外形如图1所示，光学系统如图2所示。二检定项目和检定

4、条件仪器的受检项目及主要检定工具列于表1.图11-底座，2一可调工作合Ig._测轴系统，4-激光光源室，5-激光干涉箱，6--tUvv,了一打印机共14页第2贡打G184-s2图21-HeNe激光管，Z-反射镜，3-准直物镜.4一反射镜，5一分光镜，6一分光镜，7-角锥棱镜，{卜测轴，9一观察屏，10-四相光敏三极管列阵2检定条件2.1被检仪器在检定室内平衡温度的时间不少于24h，检定用的标准器在检定ti)"!的平衡Y"l,0xP时间不少于12h.2.2检定时环境温度为20土20C，每小时变化不大于0.5`C.2.3仪器应在接通电源点亮激光管1h

5、后方可进行检定。三技术要求和检定方法3外观3.1要求3.1.1在仪器各工作面上不应有锈蚀、碰伤、明显的划痕及影响测量的其他缺陷.3.1.2仪器表面的覆盖层不应有脱落、碰伤及影响外观质员的疵病。3.1.3仪器数字显示部分应清晰、完整，仪器上必须标有制造厂名称或厂标、出厂编号。3,1.7使用中和修理后的仪器。应无影响使用准hVS标准分享网www.bzfxw.com免费下载li;I缺陷.JJG764-92共14页第3页裹1类别检定一一修，号一夏f4’飞目新使主要检定工具制用理沽中后il>gg*4Mnj"W10"1n4mamia*NI,_M.MAtm,+

6、-‘示艘的变动性Smmd等最块+++黑摆絮力后引“”面形WA，—一—芬夔宿采买事a.u6Nfhy———fm}9)L7Aiilaff)7装“、‘一二-sfVft}wvrl}可如性3f丝垦k万下，舞000mm31f*MAZ2,犷AA,万一万-一口-tHr}:IT=f}}mr>}a}高,r+lS:1k万一万一厂黑}IwTffffwp`d与测皿””几1f/.$=A[gtk}、刃>eflm,几~丁一万ff二竺152些1d9i$i}}$.secmmifIC2f3ty,g}一*一万一一不一12gA9thSirM*4111XA9hifRdtfi二，二一丁一三二7

7、Gif2fp`d972r-p>r一060mm2级。一了一~不一一不一zT>mT护与Mg%"6mm4V*A兀-一万二一f6一'7}$12tF}i3MJ$1F11$一176--1f}MXAR+一一二一一厂辅助下作合与储形下01}5mm1级刀口形直一—2f}}p'#}}11}r}17礴G7i}12NfiPf:nfl(1}}Tf}l-a5tm4gm4VfA.6i万-;二一兀一1一二%ri}Yr}}-一}_二一卜二一:一{19}不值im差}2等愈块}十一千}共14页第4页JJG764-92续表检定类别一一使男一j一剔一受检项目主要检定工具平而测帽和刃形测帽

8、工专用阶梯轴、I.自准i,i作表面与测帽孔轴心线仪、专用V形铁，I级的垂直度平板平而侧}泪和刃形测帽工专用阶梯轴、工具显微作表面中心线与