一种测量真空开关灭弧室真空度新方法

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1、维普资讯http://www.cqvip.com第26卷第l6期中国电机工程学报Vo1.26No.16Aug.20062006年8月ProceedingsoftheCSEE02006Chin.Soc.forElec.Eng文章编号:0258—8013(2006)16—0144—06中图分类号:TM561.2文献标识码:A学科分类号:470.40一种测量真空开关灭弧室真空度的新方法赵子玉,宋焕生2,江秀臣,马乃祥,罗利文,季严松,李曼(1.上海交通大学电气系,上海市徐汇区200030;2.长安大学信息学院,陕西省西安市710064)StudyonNewMeth

2、odforMeasurementofInternalPressureofVacuumInterruptersZHAOZi.yu,SONGHuan.sheng2,JIANGXiu.chen,MANai.xiang,LUOLi.wen,JIYan.song,LIMan(1.ShanghaiJiaotongUniversity,XuhuiDistrict,Shanghai200030,China;2.Chang’anUniversity,Xi’an710064,ShaanxiProvince,China)ABSTRAC’I’:AnewmethodiSpresent

3、edformeasurementof关键词:真空灭弧室;真空度;发射电流internalpressureofvacuuminterrupters,havingnouseof0引言magneticfieldsbutusingdecayvelocityofemissioncurrent.Firstly,500gAemissioncurentisusedtobombardthesurface真空开关在中压领域(6kV、10kV、35kV)的应ofcontacts,whichremovesuperfluousabsorbedlayersof用已有30年的历史,真空灭

4、弧室做为真空开关中moleculesfromcontactssurfaces、Secondly,35gAemission的一个主要部件,对其研究主要集中在优化电curentisusedtoionizetheresidualgasinthespacebetween场[1-3]以提高击穿电压,改善磁场I4./_以提高大电流contacts,whichyieldsioncurent.Strikingsurfacesofcontacts开断能力上。实际上,真空度的降低也将影响真空theioncurentiscapturedandbecomesnewabsorbedl

5、ayersof开关的击穿电压与电流开断能力。现在注意到:随molecules,whichenlargestheworkfunctionofcontacts着开关服役时间的延长,供用电部门开始担心真空materialanddecreasestheemissioncurent.Thedecayvelocityofemissioncurentisvariedwithinternalpressureofvacuum灭弧室的真空度状况,需要一种简单、准确、具有interupters.Sowithcertaindecayquantity,internalpressure

6、较高分辨力的测试仪器来检测服役中的灭弧室的canbedeterminedbymeasuringdecaytimeofemission真空度]。真空灭弧室真空度的测试方法主要有工curent.Therelationshipofinternalpressurewithdecaytimeof频耐压法及磁控放电法。工频耐压法只能测出严重emissioncurentisdeducedintheoryandvalidatedby漏气的灭弧室,而对处于半真空状态的灭弧室experiment.(0.1~lPa),虽然击穿电压没有降低,但真空管已不KEYWORDS:vacuu

7、minterrupters;internalpressure;能开断额定的短路电流(一般来说,真空管内压强的emjssjoncurent出厂标准为小于10-3pa,对于使用中的真空管,其摘要:提出了一种无需施加磁场、利用发射电流衰减速度测标准可放宽到10~Pa)。目前,定量测量真空开关灭量真空开关灭弧室真空度的新方法。首先利用500gA发射弧室真空度较好的方法是在灭弧室外围加上磁场电流对触头表面轰击,除去触头表面上多余的分子吸附层。线圈的磁控放电法。但这种测试方法有以下2方面然后利用35gA发射电流与触头间残余气体分子的碰撞电的缺点:离,形成离子流。离子流又

8、撞击触头表面,被表面捕获,形(1)需要使用磁场线圈。

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