实验指导4-验证型.ppt

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1、实验四中规模集成电路功能测试及应用一、实验目的1．熟悉数据选择器和译码器的逻辑功能。2．实现数据选择器和译码器的扩展应用。二、实验器件与设备仪器1．双4选1数据选择器74LS1531片2．双2:4线译码器74LS1392片3．6反相器74LS041片4．双4输入与非门74LS201片5.数字信号显示仪6．数字万用表UT561台7.TDS－4数字系统综合实验平台芯片引脚图其中NC无用的空端子三、实验内容1.验证译码器的逻辑功能（1）静态测试方法测试验证74LS139中一个2:4线译码器的逻辑功能。验证步骤：①G、B、A端信号的接实验台逻辑电平开关，4个译码输

2、出引脚Y0~Y3接逻辑电平指示灯。②G、B、A改变引脚、产生8种组合，观测指示灯的显示状态，自拟表格记录测试结果。③对照74LS139逻辑真值表，验证芯片74LS139功能。（2）动态测试方法测试验证74LS139中一个2:4线译码器的逻辑功能。测试提示：地址控制信号和使能输入信号可直接从可编辑数字波形发生器BCD码中选择合适的测试输入信号或者可由编辑数字波形发生器编辑产生8种不同的地址控制信号和使能输入信号组合，选择频率为50KHz，由数字逻辑信号仪测出全部输入和输出信号波形图，记录分析其时序图。2.逻辑部件的扩展将74LS139双2:4线译码器器扩展为

3、3:8线译码器。①画出扩展3:8线译码器逻辑图，连接组装逻辑电路。②测试电路功能。测试方法提示：方法一，静态测试：地址控制信号可采用用逻辑电平（即手控），输出用逻辑电平指示灯显示，记录分析测试结果。方法二，动态测试：地址控制信号和使能输入信号可直接从编辑数字波形发生器BCD码中选择合适的测试输入信号或者可由编辑数字波形发生器编辑产生8种不同的地址控制信号和使能输入信号组合，选择频率为50KHz，由数字逻辑信号仪测出全部输入和输出信号波形图，记录分析其时序图。③根据测试结果，分析得出电路功能是否的正确的结论，如果电路逻辑功能不正确，查找原因并解决存在的问题。

4、3.用译码器设计实现测试1:8线数据分配器①画出用74LS139译码器芯片设计的1:8线数据分配器（可参考教材p201页图7.9）。②根据1:8线数据分配器电路逻辑图逻路组装电路，用静态测试方法对电路进行测试。③仿照教材p44页74LS155功能表表格格式，记录整理测试结果写出设计的1:8线数据分配器功能表。④根据测试所得1:8线数据分配器功能表，判断设计电路功能是否的正确的结论，如果电路逻辑功能不正确，查找原因并解决存在的问题。4.测试验证数据选择器逻辑功能采用动态测试方法测试74LS153中一个4选1数据选择器的逻辑功能。测试验证步骤：①4个数据输入引

5、脚D3～D0分别接实验台上的2MHz、1MHz、500kHz、l00kHz脉冲源。②使能端ST电平和地址输入端B、A信号可直接从编辑数字波形发生器BCD码中选择合适的测试输入信号或者可由编辑数字波形发生器编辑产生8种不同的地址控制信号和使能输入信号组合，选择频率为50KHz，由数字逻辑信号仪测出全部输入和输出信号波形图，记录分析其时序图。③用数字信号显示仪同时观察、记录和分析数据选择器输入、使能端ST电平和地址输入端B、A信号与输出波形逻辑关系，分析判断集成芯片是否具有4选1数据选择器的逻辑功能。四、实验预习要求1.复习数据选择器和译码器的逻辑功能。2.利

6、用本实验提供的芯片74LS139将双2:4线译码器扩展为3:8线译码器，画出逻辑图，并参照实验内容1和2的验证测试方法，设计测试电路方法和步骤。3.试用本实验提供的芯片译码器74LS139设计的1:8线数据分配器（可参考教材p201页图7.9）。在实验报告中画出逻辑电路图，并设计测试方法和步骤。五、问题回答1.三态缓冲器不仅能组成的单向总线，而且还能构成双向总线，数据选择器能组成怎样的总线电路?2.列举出中规模集成电路中输入使能端的作用？3.用测试功能的方法判断芯片好坏，具体测试方法有哪两种？4.数字电路实验难免出现问题，你认为产生问题的主要原因有哪几种？

7、你怎样避免此类问题的发生。5.记录实验中出现的问题，分析原因，写出解决方法。