武器装备测试分析技术研究.pdf

《武器装备测试分析技术研究.pdf》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在行业资料-天天文库。

1、总第192期2010年第6期舰船电子工程ShipElectronicEngineeringVOL30No．6146武器装备测试分析技术研究+余贵水”李秀峰2’魏钟记”(海军工程大学”武汉430033)(海军933办公室2’北京100841)摘要文章介绍了一种基于模型的测试性方法。从测试性建模、测试方案优选、测试序列优化及生成等几个方面进行了阐述，最后基于TEAMS辅助软件对测试性分析结果进行了评估。关键词系统测试；建模；TEAMS软件中图分类号YJ012．1+1ResearchontheKeyTechnologyintheTestabil

2、ityAnalysisofWeaponEquipmentYuGuishui”LiXiufen92’WeiZhongjil’(NavalUniversityofEngineering”，Wuhan430033)(Naval933Office2’，Beijing100841)AbstractThetestabilitymethodbasedonthemodelisproposedinthispaper．Then，thetestabilitymodelisintro—ducedwiththetestabilityschemeselection，

3、testabilitysequenceoptimizationandbuilding．AtlastthetestabilityanalysismethodproposedisevaluatedtheTEAMSaidedsoft．KeyWordssystemtest，modelsetup，TEAMSsoftwareClassNumberTJ012．1+11引言系统测试性分析的目的是为了获得系统的固有测试属性，比如在BIT的情况下，计算系统的检测率、隔离率、模糊组大小和不可测试的元件清单等，同时也能给出系统测试性的改进建议和诊断策略等。过去测

4、试性分析基于人工计算和分析，计算繁琐、周期长、效率低。经过半个世纪的发展，目前基于模型的测试性分析技术已成为主流技术。因此，工程测试性分析过程采用测试性工程和维修系统(TEAMS)软件作为辅助工具，通过构建装备的多信号流模型[1~2]来分析。在建模以前首先根据相关资料分析系统功能流图和子功能信号流图。2测试性建模方法2．1多信号模型定义[211)元(部)件的有限集：F={fi，^，⋯，^)；2)系统的独立信号集：S=(s。，s2，⋯，乳}；·收稿日期：2010年1月3日，修回日期：2010年2月7日作者简介：余贵水，男，讲师，研究方向：雷

5、达信号处理。3)可用测试的有限集：T一{tl，t2，⋯，t。)；4)可用测试点(或探针测试点)的有限集：TP一{TPl，TP2，⋯，TP。)；5)测试点TPp对应的测试集：SP=(TPp)；6)元(部)件^关联的信号集：SC(^)；7)测试tj可检测的信号集：ST(tj)；8)有向图DG=(F，TP，E)，表示系统结构连通性的有向边集。多信号模型中，故障分为两类：功能故障(FunctionalFailure)和完全故障(GeneralFail—ure)。2．2多信号模型建模方法[3]1)构建系统的结构模型、原理图或概念框图。在TEAMS软

6、件中，系统的结构模型能够从VHDL、EDIF模型中自动导人生成，或由图形用户界面直接构建。2010年第6期舰船电子工程1472)添加信号到模块和测试点。信号能够从功能模型或传递函数基本变量中得出识别。3)调整模型以适应特定情形。4)模型有效性验证。根据测试数据与物理模型对多信号模型进行检验。这一步非常关键，因为分析结果要使模型尽可能完善。在TEAMS软件中，用户能交互播种故障来识别被影响的测试，或者反之。2．3多信号模型中的关联矩阵[4]多信号流图由模块节点、测试节点以及连接各节点的有向边构成，它是故障与测试相关性的直观描述。故障一测试关

7、联矩阵描述了故障与测试的相关性信息，记为FT=[ftd]。x。，其中行表示故障源，列表示测试。其元素定义为：．f1，￡f可检测故障，。的信息r”【0，￡，不可检测故障／；的信息用矩阵表示为：tlt2^Iftllft,2，I，，2l，￡21，￡22．：l⋯⋯厶协。。^砣tHftl，ft2。●●●ft。关联矩阵可以很好的表示出测试点与系统状态之间的相互关系，它是一个二值矩阵。文献E5]还建立了扩展的故障一故障关联矩阵和测试-测试关联矩阵来分析系统的反馈回路和测试冗余问题。关联矩阵可以通过可达性算法和或列(行)矢量法L6J得到。对于一个复杂的大

8、型系统来说，建立的关联矩阵往往也是比较庞大的。因此，需要对建立的关联矩阵进行化简，减少不必要的测试，从而节约测试的时间和成本。以下几种情况，需要对其进行化简[7]：1)Ti=L，i：i壬j，即