TTL集成门电路逻辑变换.docx

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1、数字逻辑实验一TTL集成门电路逻辑变换一.实验目的1、熟悉TTL集成门电路的外形、引脚排列规律及使用注意事项;2、掌握TTL逻辑门电路的功能,并能熟练运用实现一定的逻辑功能;3、掌握基本逻辑门电路的逻辑功能及其测试方法;4、了解74LS00芯片的内部构造及其功能。二.实验设备1、数字电路实验箱;2、集成电路:74LS00;3、数字双踪示波器。三.实验内容1.测试与非门逻辑功能。2.用与非门实现“与”逻辑。3.用与非门实现“或”逻辑。4用与非门实现“异或”逻辑。四.实验原理本实验将对TTL集成逻辑与非门74LS00的逻辑功能进行测试4附:74LS00引脚图当输

2、入端有一个或一个以上是低电平时,输出是高电平;只有当输入全为高电平时,输出端才是低电平。逻辑表达式为五.实验结果与门4或门异或4六.实验心得本次实验是第一次使用集成门电路进行试验。试验用的74LS00集成了四个与非门电路,所以要实现表达式,需要对其进行变换。特别是做“异或”表达式时,需要注意与非门的使用数量。4

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