热真空释气标准试验方法探讨.pdf

《热真空释气标准试验方法探讨.pdf》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在行业资料-天天文库。

1、第４期机电元件Ｖｏｌ畅３２Ｎｏ畅４２０１２年８月ELECTROMECHANICALCOMPONENTSＡｕｇ畅２０１２试验与检测有线耳机电连接的可靠性研究吴秀敏，芦娜（北京邮电大学自动化学院电连接和连接器科研室，北京１００８７６）摘要：影响有线耳机可靠性的因素很多，比如接口的物理结构、所选择的接触材料，接触的几何形状，镀层的质量等。本文以三种不同镀层材料的耳机为研究对象，对其进行插拔寿命试验和湿热循环试验，以接触电阻为参数来衡量样品的电接触可靠性能。关键词：耳机；接触电阻；插拔寿命试验；湿热循环试验Ｄｏｉ：１０．３９６９／ｊ．ｉｓｓ

2、ｎ．１０００－６１３３．２０１２．０４．０１０中图分类号：ＴＮ７８４　　　　文献标识码：Ａ文章编号：１０００－６１３３（２０１２）０４－００３９－０５要评价指标，本文亦以此为评价参数，分别对不同镀1前言层材料的原始样品和插拔试验后及湿热循环试验后在通信和电子系统中存在大量的电子连接，连接的样品进行接触电阻的测量。器的可靠接触保证了整个系统的正常运行。影响电测量原始样品的接触电阻，并初步选取合格的接触的接触性能和可靠性的因素主要有两类：（１）由试验样品。依据文献［３］，耳机连接器的接触对包运行环境控制的性能因素；（２）由接触单元的生产

3、制括：ＭＩＣ－麦克风；Ｒ－右声道；Ｌ－左声道；ＧＮＤ－造性能决定的设计－工艺因素。性能因素影响接触（信号）接地。合格样品的ＭＩＣ、Ｒ、Ｌ通道的接触电材料和接触表面膜的性质，接触区域发生的物理和化阻要小于６０ｍΩ，ＧＮＤ通道的接触电阻小于２０ｍΩ。学反应过程，磨粒的构成，进而影响接触表面的状态，样品确定合格后，依次编号。最终影响触点的电阻可靠性。设计－工艺因素对电对样品进行插拔寿命试验。利用插拔寿命试验接触可靠性和质量的影响主要表现为：所选择的接触机实现耳机插头和插座的插拔，以此模拟其正常使［１］材料，接触的几何形状，镀层的质量等等。

4、目前，国内常用的电接触材料主要有铜基触头材料、银基触头［２］材料和节银代银触头材料。本文以有线耳机为研究对象，结合影响电接触性能的两类因素，对样品进行寿命及环境性能试验。反映给定的几种耳机的电连接性能情况。并得出影响其电性能的主要因素，便于以后连接器材料选择及设计。2试验方案制定低而稳定的接触电阻是可靠接触性能的一个重图１　插拔寿命试验安排图收稿日期：２０１２－０６－１６４０机电元件２０１２年用的过程。６组样品分别插拔的次数依次为１０００～表１　试验样品６０００次，如图１所示。插头ＮｉＮｉＮｉ对样品进行湿热循环试验，试验条件：相对湿

5、度插座Ｎｉ／ＡｕＮｉ／ＮｉＰｄＮｉ９３％，温度在２５℃、３０℃、６５℃之间变化，每个周期3．3试验数据及数据处理为期８小时，共循环１８个周期。如图２所示。３．３．１　样品初选及接触电阻初值三种不同材料的样品重复上述过程。对试验后（１）Ｎｉ－Ｎｉ／Ａｕ样品的接触电阻初值如图４所示。的接触电阻数据进行分析，结合相应的理论知识研究试验的可靠性。图２　湿热循环试验条件图４　Ｎｉ－Ｎｉ／Ａｕ样品接触电阻初值3试验研究　　（２）Ｎｉ－Ｎｉ／ＮｉＰｄ样品的接触电阻初值如图５所示。3．1试验原理为了测量一插合对接触件或一接触件与测量规插合的电阻，可

6、以采用毫伏法。通常是测量接触件［４］引出端之间的电压降，从而推算出接触电阻。采用四点毫伏法对耳机连接器四个通道进行测量，原理如图３所示。图５　Ｎｉ－Ｎｉ／ＮｉＰｄ样品接触电阻初值　　（３）Ｎｉ－Ｎｉ／Ｎｉ样品的接触电阻初值如图６所示。图３　四点法测量接触电阻原理图3．2样品选取本试验的样品为标准直径３．５ｍｍ的同心耳机图６　Ｎｉ－Ｎｉ／Ｎｉ样品接触电阻初值连接器。插头材料均为镍，插座材料分别为镍镀金、３．３．２　寿命试验后样品接触电阻镍镀镍－钯合金、镍。如表１所示。数量为每种至经插拔寿命试验后，样品接触电阻的数据处理少７２对。结果如

7、表２－５，图７－１０所示。第３期吴秀敏等：有线耳机电连接的可靠性研究４１表２　ＭＩＣ插拔后的接触电阻均值３插拔（ｘ１０）次后的接触１２３４５６电阻（ｍΩ）Ｎｉ／Ａｕ１７．３２２．３２２．６２５．２２６．７２８．９Ｎｉ／ＮｉＰｄ２５．４２３．５１７．９１４．１１３．５１９．８Ｎｉ／Ｎｉ１６．９１７．３１３．７２２．６１４．６１９．８图９　不同材料Ｌ通道插拔后的接触电阻均值图表５　ＧＮＤ插拔后的接触电阻平均值３插拔（ｘ１０）次后的接触１２３４５６电阻（ｍΩ）Ｎｉ／Ａｕ１８１７．６２２２８．５３１．６３０．６图７　不同材料ＭＩＣ插拔后的接

8、触电阻均值图Ｎｉ／ＮｉＰｄ２７．４１９．５１６．３１３．８１４．１１６．３表３　Ｒ插拔后的接触电阻均值３Ｎｉ／Ｎｉ１３．４２０１４．６１８．８１４．６１１．１插拔（ｘ１０）次后的接触１２３４５６电阻（ｍΩ）Ｎｉ／Ａｕ２０．７２４．５３