射频同轴连接器射频泄漏测量中使用的专用装置.pdf

《射频同轴连接器射频泄漏测量中使用的专用装置.pdf》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在行业资料-天天文库。

1、第2期2014年4月机电元件ELECTROMECHANICALCOlMPONENT$VoL34No．2Apr,2014射频同轴连接器射频泄漏测量中使用的专用装置张志谦(西安精为电子技术有限公司，陕西西安710068)摘要：自上世纪八十年代起，我国射频连接器行业等同采用美军标和国际电工委员会IEC的多项标准，编制了国标、lit军标。在这些标准中，对射频同轴连接器的“射频泄漏”测量作了明确的规定。关于射频连接器的“射频泄漏”的测量，国内多家单位对这一技术进行了研究，但关于射频连接器的“射频泄漏”的测量的方法、手段一直没有得到有效

2、的解决。我公司按照国际标准的规定，以微波技术传输线理论为基础，开发了系列三同轴测试装置和波导组件装置，填补了该测试领域的空白，将原来的l一3GHz测试频率提高到500rdHz一18GHz。关键词：射频同轴连接器；射频泄漏；微波技术传输线理论；测试装置Doi：10．3969／j．issn．1000—6133．2014．02．012中图分类号：TN784文献标识码：A文章编号：1000—6133(2014)02—0055—021引言上世纪八十年代，射频连接器行业等同采用美军标MIL—C一39012及国际电工委员会IEC一169标

3、准编制了多项国标及国军标，在这些标准中对连接器“射频泄漏”电参数的测量作了明确的规定，但是该行业在“射频泄漏”的测量方法和手段上虽经多家单位的努力，但这一问题一直没有得到有效的解决，致使三十多年来在这项测量上出现了一个尴尬的局面。从新版标准来看对射频同轴连接器的“射频泄漏”参数测量频率大大提高。关于这项参数的测量，从当时的MIL—C一39012B(1976)年版本来看，这项参数的测量一般在1—3GHz内的测试频率进行。但从国军标GJBl217A一2009版本来看，对这项参数的测量提出了“混响室法”，而且测量频率为1—10GH

4、z，这就说明了对测试频率的要求提高了。我们依据MIL—C一39012B标准和IEC61169—1：1992版本的技术规定，以微波技术传输线理论为基牧藕日期：2014—02—27础，几年来开发了系列“三同轴测试装置”和“波导组件测试装置”推向市场。2新型“射频泄漏"测量装置简介“三同轴测试装置7’和“波导组件测试装置”是射频同轴连接器“射频泄漏”测量中的一个关键部件。这些装置在“射频泄漏”测量中是用来收集被测连接器产品周围射频泄漏信号的专用装置。“三同轴测试装置”和“波导组件测试装置”是按照国家标准GBl2270—90版本中附

5、录A“二端口吸收型三同轴”和“波导组件”装置蓝以微波技术传输线理论为基础设计制作的。这些装置的各项电性能指标均符合MIL—C一39012B标准和IEC61169—1：1992标准版本的全部技术规定。不同型号有不同的测试频段。这些装置总覆盖频率范围为：500—18GHz。射频泄漏测试装置型号及其测试频率如下：053一B三同轴测试装置测试频率500MHz一3GHz；56机电元件2014年055一B三同轴测试装置测试频率500MHz一5GI-Iz；58一B波导组件测试装置测试频率5—8GI-Iz；812一B波导组件测试装置测试频率

6、8—12GHz；1218一B波导组件测试装置测试频率12—18GHz。图1812一B型产品包装盒3三同轴和波导组件测量与混响室法比较用“三同轴和波导组件”测量和用“混响室法”进行测量之间区别和相同点：这两种方法都是用来测试被测连接器的转移阻抗Zt(测量射频泄漏的实质就是测量转移阻抗Zt)的，只是测量的形式有差异；混响室法是用随机信号测试的，而“三同轴和波导组件”测量是用正常传输工作信号测量的，不是随机信号。两者的测试结果对于同一对被测连接上述每一个(套)测试装置本身的剩余泄漏我们要求必须做到100dB以上，该分贝数值愈大即泄

7、漏愈小。这些测试装置及其一些精密配套附件的研发成功，在国内、国际上属于首创。在国内填补了这一领域多年没有测试方法手段的空白。是高新技术创新产品。每个(套)测试装置各装一箱提供给用户例如812一B测试装置(见产品箱及其内部产品照)。图2812一B型产品包装箱内装产品照器来说应该是基本一致的。参考文献：[1]美军标MIL—C一39012B．[2]国际电工委员会IEC61169—1：1992标准．[3]国军标GJBl217A-2009．[4]国际电工委员会IEC60169标准．[5]国家标准GBl2270—90．[6]微波技术基础

8、西安电子科技大学廖承恩编．