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1、物理化学学~(WuliHuaxueXuebao1JulyActaP·Chim.Sin.2011,27(7),1725—17291725【Article】www.whxb.pku.edu.cn离子液体[EMIM][PF6】负载纳米SiOx表面的熔点及结构刘玉胜付海英唐忠锋黄卫’吴国忠(中国科学院上海应用物理研究所,上海210800;徐州工程学院,江苏徐州221000)摘要:制备了离子液体(1一乙基一3-甲綦咪哗八氟磷酸【EMIMI[PF。】)负载量不问的多孔纳米氧化硅(SiO),并采,【}j差式描量热分析(DSC)、×射线衍射(XRD)
2、、激光Raman光谱、傅早叶变换~#I-(FTIR)光谱分析等手段研究离了液体负载纳米氧化硅后的熔点变化及桐行为.研究表明负载J纳米氧化碓表面的离子液体熔点明显下降,}I_负载于同l含量的氧化硅表面熔点下降幅度同.纯离子液体[EMIMI[PF。1熔点为62。C,存纳米氧化硅表面负载量为35%时熔点为52。C,比负载前下降1O。C:负载于另两种不同基含量的纳米氧化砖表面后熔点分别F降2O和17。C.同一种纳米氧化硅(比表面为640m·g-,)负载量小于50%时,熔点下降明显:进一步增人负载,熔点逐渐趋于小体.XRD和Raman光谱分析显
3、示,离子液体负载f氰化硅表面后其衍射峰或吸收峰十f1对强度发q三明显改变.分析负载前后纳米氧化硅的结构变化,推断离子液体熔点下降的主要原是离子液体分子与纳米氧化硅表阳之间存在强烈的界面相瓦作朋,而表面羟基的密度及比衷哳积足影响负载后[EMIM][PF。】离子液体相行为的主要冈素.关键词:纳米SiO;离子液体:熔点:相变中图分类号:0647MeltingPointandStructureofIonicLiquid【EMIM][PF6】ontheSurfaceofNano-SiOParticlesLIUYu—Sheng’-FUHai-Yi
4、ng’TANGZhong-Feng’HUANGWei’WUGuo—Zhong’,tShanghaiIn9tituteAppliedPD3'sicsChineseAcademy0『Scienc’esShanghai210800,PR.China;!XuzhouInstituteofTechlmlogy,Xuzhou221000,JiangsuProvince,R.China1Abstract:The1一ethyl一3一methyIimidazoliumhexafIuorophosphateionicIiquid(rEMlM1『PF4)w
5、asabsorbedontothesurfacesofseveraIkindsofnano.SiOparticlesbymechanicalgrindingusinganagatemortar.ThesampleswereinvestigatedbydiferentiaIscanningcalorimetry(DSC),Ramanspectroscopv.Fouriertransforminfrared(FTIR)spectr0scopy,andX—raydifraction(XRD).Wefoundthatthemeltingpoi
6、ntofthe『EMIM1fPF61adsorbedonthesuceofnano—SiOwassignificantlyIessthanthatofthebulkionicIiquid.Forthepureionicliquid[EMIM】[PF6],themeltingpointwas62。C.AfterabsorptionontoSiOnanoparticlesthemeltingpointdecreasedto52。CandATwas一10。C,Fortheothertwotypesofnano.Si0particlesthe
7、△Twas-20and一17。C.respectivelyTheseresultsindicatethatthemeltingpointdepressionwasdependentonthesurflacepropertiesofthenano—SiOparticles.Furthermore.thecharacteristicsofthesurface.adsorbedIonicIiquidwerealsofoundtobequitedifierentfrOmthatofthebulkionicIiquidbyRamanandXRD
8、analyses.Thediferenceinthedensityofthesudacehydroxylgroupsandthespecificsuceareaofthenano—SiOparticlesmayinduc
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