欢迎来到天天文库
浏览记录
ID:52222908
大小:1.16 MB
页数:5页
时间:2020-03-25
《非极化中子超镜用NiC薄膜制作技术研究.pdf》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在行业资料-天天文库。
1、第39卷第4期2017年8月光学仪器OPTICALINSTRUMENTSVoL39,No.4August,2017文章编号:1005—5630(2017)04—0085—05非极化中子超镜用NiC薄膜制作技术研究靳鑫,张众(同济大学物理科学与工程学院先进微结构材料教育部重点实验室,上海200092)摘要:NiC/Ti中子超镜是一种高性能的中子多层膜光学元件,NiC纳米薄膜的制作是实现NiC/Ti多层膜的关键技术。基于Ni和C的直流磁控溅射方法,提出了一种NiC联合溅射靶材的实现方法,并制作了Ni
2、C单层膜样品。X射线光电子能谱的测量结果表明:用联合溅射靶材制作的NiC薄膜中Ni和C的原子数比与理论预期相吻合;基于X射线光电子能谱测试得到的Ni、C原子数比,通过构建Ni。。C,。的模型,可以很好地对掠入射X射线反射测试结果进行理论拟合。该研究可为进一步开展NiC/Ti中子超镜的制作提供参考。关键词:联合溅射;NiC薄膜;原子数比;X射线光电子能谱;X射线反射中图分类号:O434文献标志码:Adoi:10.3969/j.issrL1005—5630.2017.04.014TheinVesti
3、gationoffabricatedtechniqueofNiClayerfbrunpOrlarizedneutronsupermirrorJINXin,ZHANGZhong(MOEKeyhboratoryofAdvancedMicro_structuredMaterials,SchoolofPhysicsScienceandEngineering,Ton西iUIliversity,shaIlghai200092,China)Abst均ct:NiC/Tineutronsupe渤irrorasak
4、indofmultilayeredopticalelementspresentshigh-performance.ThemanufacturedtechniqueofNiCnano-meterfilmsisextremelyimportanttorealizethefabricationofNiC/Timultilayers.BasedonthedirectcurrentmagnetronsputteredtechniqueofNiandC,aco_sputteringtechniqueisre
5、portedinthispaper.TheNiCmonolayerwasfabricatedfromNiCtargetsuccessfully.ThemeasuredresultofX—rayphotoelectronspectroscopy(XPS)indicatesthattheatomicratioofNiandCfromNiC1ayermadebyNiCtargetagreeswiththetheoreticalexpectedresult.TheNi86C14modelbasedont
6、heatomicratiomeasuredbyXPSwasusedtofitthecurvemeasuredbygrazingincidence)(一rayreflectivity.Thefittedcurveisingenerallyconsistentwiththemeasuredresult.ThisinvestigationcangivedirectiontodevelopthefabricatedtechniqueofNiC/Tineutronsupermirror.K唧rds:co—
7、sputtering;NiCmonolayer;atomicratio;x-一rayphotoelectronspectroscopy;X-rayreflectivity收稿日期基金项目作者简介通信作者2017一02-25国家自然科学基金委员会一中国工程物理研究院NSAF联合基金项目(u1430131)靳鑫(1994一),男,硕士研究生,主要从事中子多层膜方面研究。E-mail:1_jin)【in@ton西i.edu.cn张众(1977一),男,教授,主要从事中子及X射线多层膜方面研究。E-ma
8、il:zhangzhongcc@ton自i.edu.c“·86·光学仪器第39卷引言中子是开展物质的物理、化学、机械等特性研究的理想探针,尤其是中子散射和衍射技术,是研究物质内部结构和动力学特性的有效技术方法[1≈]。在中子检测实验过程中,中子通量决定着测试实验的效率和测量数据的信噪比[3]。中子超镜作为传输中子束线的导管的内镀层,其性能决定了中子束线的传输效率[4],是国际上中子光学技术研究的热点之一[51]。中子检测实验所使用的中子一般分为极化中子和非极化中子两种,对于前者,经常使用Fe/S
此文档下载收益归作者所有