滚动直线导轨副综合精度的检测.pdf

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时间:2020-03-25

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1、M咖⋯。I测量滚动直线导轨副综合精度的检测广东高新凯特精密机械股份有限公司(江f3529100)杨炫召叶飞原张艳红滚动直线导轨副是一种滚动直线导向部件,由准侧面之间的距离的尺寸偏差。滚动体(钢球、滚柱等)在滑块与导轨之间作无限(5)同一导轨上多个滑块侧面与导轨基准侧面滚动循环,负载平台能沿着导轨轻易地以高精度作之间的距离的尺寸变动量。直线运动。滚动直线导轨副以滚动摩擦代替滑动导2.JB/T7175.4—2006的检测方法轨的滑动摩擦,具有大承载、高精度、高速度和低磨损等优良特性,作为功能部件广泛用于各种机床机械行业标准JB/T7175.4—2o06中还对上述精及电子机械中。度项目的检测

2、方法作了说明。如图1所示,将被测导轨紧固在专用检测平台上,在平台L放置专用表架,1.滚动直线导轨副综合精度表架的一侧平面紧靠在导轨的侧面基准上,在专用滚动直线导轨副作为高精度直线运动导向部件,表架上固定两个千分表等指示器,使其中一测头触其精度要求非常高,2级的运动精度为6i~rrt/m、及滑块顶面中心处,另一测头触及与导轨基准侧面15l~n'w'4m,组合尺寸公差为±12m。我国机械行同侧的滑块侧面中心处。沿专用检测平台和导轨基业标准JB/T7175.4—2006验收技术条件对滚动直线准侧面同步移动滑块和专用表架,在导轨的各个位导轨副的精度项目和要求作了规定。置进行检测。用这种方法对导

3、轨上各件滑块进行检(1)滑块沿导轨运动相对导轨基准面(包括底测,最后通过综合运算就可得到上述5个项目的检面基准、侧面基准)的平行度。测结果。综合运算的计算方法如下:以测量一根配(2)滑块顶面与导轨基准底面高度日的尺寸偏差。有两件滑块的导轨副为例,依照上述检测方法,两(3)同一平面上配对导轨的多个滑块顶面高度个方向指示器在导轨各检测位置测得的各件滑块高日的变动量。度偏差和宽度偏差分别为(4)与导轨基准侧面同侧的滑块侧面与导轨基滑块1高度偏差:HH⋯,H;’¨l’‘¨hl¨

4、_。_l¨⋯‘l¨l-⋯⋯l-。Ihl-。I-’‘Ih¨。¨lI-’‘Ihl一。¨l¨‘¨lI-“‘¨lI._¨I“

5、¨hJ‘P¨l滑块l宽度偏差:IV1V.,⋯,;侧安装的千分表显示测量结果。⑤配重块可保证微滑块2高度偏差:H2,Hz,⋯,H;分头测杆与三针及丝锥的紧密接触。滑块2宽度偏差:。,:,⋯,。8.检测仪使用效果(1)任意装配人员只需要简单培训即可操作检测。(2)检测结果可准确显示。(3)奇、偶数槽丝锥可在同一测量仪上检测。(4)采用对比法检测,无需复杂计算即可得到图1结果。MW(收稿日期:20140313)20。14薹,....磊工。冷加工M⋯I测量根据上述测量得到的偏差值,可以计算出导轨如图2所示,在专用平台上安装一龙门架,龙门架可副的各项精度:沿专用平台两边的高精度导向机构运动。5个

6、非接触G1=max(Hll,式测头通过夹头和调整机构安装在龙门架的横梁上,日。:,⋯,),或夹头和调整机构用于调整测头在高度和宽度两方向G1=max(j,⋯,,)一min(,的位置,以适应不同型号规格导轨副的测量。侧面:,⋯,);测头与定位杆组成的机构用于测量导轨副宽度方向G1h=max(⋯12,⋯,W1)一rain(W⋯的偏差,包括滑块与导轨基准侧面之间尺寸的极限⋯,W.),或偏差和各滑块之间的尺寸变动量、滑块基准侧面相G1h=max(1,2,⋯,)一rain(1,对导轨基准侧面的运动平行度等。顶面测头用于测:,⋯,);量导轨副的高度方向的偏差,包括导轨副高度的极G2=max[ABS

7、(H11),ABS(日I2),⋯,ABS限偏差、滑块之间的高度变动量、滑块顶面相对导(H。),ABS(//2。),ABS(:),⋯,ABS()];轨底面的运动平行度以及滑块沿导轨在全长运动时G3=ABS(H。.一.),(i:n/2);的偏摆等。基准测头用于高度方向动态系统误差的G4=max[ABS(.),ABS(W1:),⋯,ABS补偿,达到高精度的测量。编码器通过连接机构固(W),ABS(),ABS(),⋯,ABS定在龙门架上,并通过齿轮与固定在测量平台侧面(W2)];下部的同步带啮合,用于实时监控龙门架的移动位G5=ABS(Wi一i),(i=n/2)。置。测量时同步移动龙门架及被测

8、滑块在导轨的各测量位置采集数据,对采集数据进行综合计算就可3.常规检测方法的困难与不足以得出导轨副的各项综合精度,从而实现导轨副综滚动直线导轨副属于高精度的机械产品,因此合精度的测量。导轨副综合精度的测量要求也很高。目前国内大多数导轨生产厂家使用行业标准中所述的检测方法进行检测,这是一种常规的检测方法。这种检测方法如果用手T方式并用接触式指示表进行,对少量导轨副进行综合精度的判定验收是可以的。但如果用于大批量导轨副的检测显然是难以满足要求的,不

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