DB34∕T 2980-2017 铝及铝合金 铬、铅、锡含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法.pdf

《DB34∕T 2980-2017 铝及铝合金 铬、铅、锡含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法.pdf》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在行业资料-天天文库。

1、ICS77.120.10H12DB34安徽省地方标准DB34/T2980—2017铝及铝合金铬、铅、锡含量的测定波长色散X射线荧光光谱法Aluminumandaluminumalloys—Determinationofchromium，lead，tincontents—WavelengthdispersiveX-rayfluorescencespectrometry文稿版次选择2017-11-15发布2017-12-15实施安徽省质量技术监督局发布DB34/T2980—2017前言本标准按照GB/T

2、1.1—2009给出的规则起草。本标准由阜阳市产品质量监督检验所提出。本标准由安徽省再生材料标准化技术委员会归口。本标准起草单位：阜阳市产品质量监督检验所、国家再生有色金属橡塑材料质量监督检验中心（安徽）。本标准主要起草人：梁永明、鲁仕梅、谭波涛、贺诗词、邓敏、罗怀帮、薛艳、聂煜、郭骁、王伟。IDB34/T2980—2017铝及铝合金铬、铅、锡含量的测定波长色散X射线荧光光谱法1范围本标准规定了铝及铝合金中铬、铅、锡含量的波长色散X射线荧光光谱法测定方法。本标准适用于铝及铝合金中铬、铅、锡的测定，测

3、定范围见表1。表1元素及测定范围测定范围（质量分数）分析元素/％Cr0.010～1.00Pb0.010～0.50Sn0.010～0.502规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅所注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T16597冶金产品分析方法X射线荧光光谱法通则3原理X射线管产生的初级X射线照射到平整、光洁的样品表面，产生的特征X射线经晶体分光后，探测器在选择的特征波长相对应的2θ角处测量X射线荧光

4、强度。根据校准曲线和测量的X射线荧光强度，计算出样品中铬、铅、锡的质量分数。4试剂与材料4.1P10气体（90％的氩和10％甲烷的混合气体）。4.2有证铝及铝合金标准物质：光谱用标准试块。各元素至少应有5块标准样品，其含量应有一定的梯度，并覆盖待测元素的测定范围。5仪器与设备5.1波长色散X射线荧光光谱仪，应符合GB/T16597的规定。5.2试验加工设备：车床或铣床。5.3熔样机。5.4石墨铸模：上端内径36mm,下端内径33mm，深3mm，底部厚1mm～1.5mm。1DB34/T2980—201

5、76标准物质和试样制备6.1所有试样及标准物质分析面应为平面，且有效待测面直径大于光谱仪所选测量区域或直径。一般要求有效待测面直径为30mm～50mm。6.2标准物质和样品分析面用车床或铣床加工成平面，并保证在制样过程中试样不氧化。6.3标准物质和试样的加工方法以及加工后的表面粗糙度应基本一致，轮廓的最大高度Rz≤6.3μm。待测面应均匀，清洁，没有裂纹、空洞和疏松等缺陷。必要时可以在测量前用超声波清洗。试样应及时测量，如果试样暴露于空气中24h，测量前应重新加工待测面。6.4对于无法保证足够大待测

6、面的细小样品，可以先用熔样机熔铸成块状，再按上述方法加工待测面。7试验步骤7.1测量条件各元素测定的特征谱线以及特征谱线的测量条件通过优化获得，X射线荧光光谱仪的测量条件参见附录A。7.2标准曲线的绘制选取不少于5块铝及铝合金标准物质按照6进行制备，并按7.1确定的测量条件测定各元素特征谱线的X射线荧光强度，选择合适的方法进行基体效应校正和谱线干扰校正，制作标准曲线。7.3测定7.3.1校正选择合适的校正样品进行仪器的校正。可采用单点校正或两点校正，校正的间隔时间可根据仪器的稳定性决定。当更换流气计

7、数器的气体后，必须进行仪器校正。7.3.2试样测定仪器预热并稳定后，按选定的测量条件测定样品中待测元素特征谱线的X射线荧光强度。8试验数据处理根据测出的试样中各元素特征谱线的X射线荧光强度，按标准曲线计算出各元素的含量。元素含量在0.10％及以上时，计算结果表示到小数点后2位；元素含量在0.10％以下时，计算结果表示到2位有效数字。9精密度在重复性条件下获得的两次独立测定结果的绝对差值不超过算术平均值10％。10试验报告试验报告应包括下列内容：——试验对象；2DB34/T2980—2017——所使用

8、的标准（包括发布或出版年号）；——所使用的方法（如果标准中包括几个方法）；——结果；——观察到的异常现象；——试验日期。3DB34/T2980—2017AA附录A（资料性附录）X射线荧光光谱仪测量条件A.1X射线荧光光谱仪条件推荐X射线荧光光谱仪条件见表A.1。表A.1X射线荧光光谱仪条件准直器管流管压元素分析线分光晶体检测器2θ角可能的干扰元素/μm/mA/kVHiperCrKαPX10150508069.348Si、Cu、Mg、Fe、ZnScint.HiperPb