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时间:2020-03-23
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1、可靠性寿命试验可靠性寿命试验v第一节术语v第二节寿命试验的目的和分类v第三节指数分布寿命试验v第四节指数分布寿命试验的设计v第五节可靠性试验中的一些技术问题第一节术语质量特性:产品所固有的属性。各种产品的质量特性概括为性能、寿命、可靠性、效能、经济行5个方面。贮存寿命:在规定贮存的条件下,产品从开始贮存到规定失效的时间。等级:将相同功能用途的产品、过程或服务按照不同的需要划分的类型或顺序的标识。环境条件:为了保持产品的适用性,对温度、湿度、压力、振动、加速等方面或几方面的环境特性的要求。置信区间:设总体分布含有一个未知参数Θ,若由样本确定的两个统计量ΘL及ΘU,对于给定值a(02、1),满足P(ΘL<Θ<ΘU)=1—a(03、次样本再进行检验,并根据第一、二次检验的累计结果作出接收或拒收的判断。检验批:为判定产品质量而进行检验的一批单位产品。缺陷:产品质量特性与规定要求不符。平均寿命(平均无故障工作时间MTBF):产品发生故障后,经检查修复后再投入工作,这时在两次故障间的平均工作时间就称为该产品的平均寿命(平均无故障工作时间)。参数的区间估计:是研究怎样用一个数值来估计位置参数的一种方法,这种估计方法简便合理,又避免过大的误差。参数:用于描述总体分布特征的数值。估计:根据观测值确定总体分布参数值或数值范围。置信概率(置信度、置信系数):表示数1—a。其中a称为置信水平。置信限:置信区间的两个界限ΘL及ΘU4、称为未知参数Θ的(1—a)置信限。ΘL称为置信下限,ΘU称为置信上限。置信水平a(显著水平):犯第一类错误的概率,生产方承担的风险。定时截尾试验:试验达到规定的试验时间就停止的试验。定数截尾试验:试验达到规定的失效数就停止的试验。随机现象:在一定条件下,并不总是出现相同结果的现象称为随机现象。随机变量:表示随机现象结果的变量称为随机变量。随机事件:随机现象的某些样本点的集合称为随机事件。第二节寿命试验的目的及分类一、寿命试验目的:可靠性寿命试验的目的是了解产品的寿命特征量、失效规律、平均寿命以及在寿命过程中可能出现的各种失效模式。通过做可靠性寿命试验可以对产品的可靠性水平进行评价,并5、通过试验过程中所获得的数据和相关信息进行分析并反馈到相关部门,及时采取必要的纠正措施,对产品进行改进,以提高产品的可靠性水平。二、寿命试验的分类1.按国家标准:工作寿命试验和贮存寿命试验;2.按数据处理方式:定时截尾试验和定数截尾试验;截尾试验又可分为有替换(试验过程中,每发生一个失效样品,就换上一个好样品继续试验,使样品数量保持不变)试验和无替换(试验过程中,失效样品取下后不再补充样品,剩下的样品继续试验,直到规定试验截止时间时才停止)试验;3.以施加的应力区分:长期寿命试验和加速寿命试验。寿命试验的分类贮存寿命工作寿命室温贮存试验高温贮存试验室温工作间断工作高温工作第三节指数分布6、寿命试验一、指数分布寿命试验的意义1.任何设计合理、工艺成熟、质量控制严格的生产线上(产品生产过程处于稳定状态下)生产出来的产品都具有一定的可靠性指标,这类产品经过严格的筛选剔除掉设计、工艺的早期失效后,产品便进入偶然失效期。在偶然失效期内,其失效率ג近似等于常数,此时该产品的寿命分布接近或服从指数分布。2.指数分布的假设与某些元件的使用和试验结果比较接近。实践证明,即使有些元件的寿命是服从威布尔分布的,但当形状参数m=1时,威布尔分布就变成指数分布了,该元件的寿命近似服从指数分布。3.当产品服从指数分布时,产品的可靠性特征量表达式很简单,只要掌握了产品的失效率ג就可以计算出产品的全7、部可靠性指标。因此,可以利用指数分布近似作为产品的实际分布。二、常用的寿命试验方法(一)贮存寿命试验电子产品在规定的环境条件下,非工作状态的存放试验,称为贮存寿命试验。贮存时间在1000h以上称为长期贮存寿命试验。长期贮存寿命的目的是了解产品在特定的环境下贮存的可靠性。(二)工作寿命试验电子产品在规定条件下施加规定的应力的试验称为工作寿命试验。试验周期在1000h以上称为长期工作寿命试验。1.室温工作寿命试验室温工作寿命试验的目的是为了确定元器件在承受规定
2、1),满足P(ΘL<Θ<ΘU)=1—a(03、次样本再进行检验,并根据第一、二次检验的累计结果作出接收或拒收的判断。检验批:为判定产品质量而进行检验的一批单位产品。缺陷:产品质量特性与规定要求不符。平均寿命(平均无故障工作时间MTBF):产品发生故障后,经检查修复后再投入工作,这时在两次故障间的平均工作时间就称为该产品的平均寿命(平均无故障工作时间)。参数的区间估计:是研究怎样用一个数值来估计位置参数的一种方法,这种估计方法简便合理,又避免过大的误差。参数:用于描述总体分布特征的数值。估计:根据观测值确定总体分布参数值或数值范围。置信概率(置信度、置信系数):表示数1—a。其中a称为置信水平。置信限:置信区间的两个界限ΘL及ΘU4、称为未知参数Θ的(1—a)置信限。ΘL称为置信下限,ΘU称为置信上限。置信水平a(显著水平):犯第一类错误的概率,生产方承担的风险。定时截尾试验:试验达到规定的试验时间就停止的试验。定数截尾试验:试验达到规定的失效数就停止的试验。随机现象:在一定条件下,并不总是出现相同结果的现象称为随机现象。随机变量:表示随机现象结果的变量称为随机变量。随机事件:随机现象的某些样本点的集合称为随机事件。第二节寿命试验的目的及分类一、寿命试验目的:可靠性寿命试验的目的是了解产品的寿命特征量、失效规律、平均寿命以及在寿命过程中可能出现的各种失效模式。通过做可靠性寿命试验可以对产品的可靠性水平进行评价,并5、通过试验过程中所获得的数据和相关信息进行分析并反馈到相关部门,及时采取必要的纠正措施,对产品进行改进,以提高产品的可靠性水平。二、寿命试验的分类1.按国家标准:工作寿命试验和贮存寿命试验;2.按数据处理方式:定时截尾试验和定数截尾试验;截尾试验又可分为有替换(试验过程中,每发生一个失效样品,就换上一个好样品继续试验,使样品数量保持不变)试验和无替换(试验过程中,失效样品取下后不再补充样品,剩下的样品继续试验,直到规定试验截止时间时才停止)试验;3.以施加的应力区分:长期寿命试验和加速寿命试验。寿命试验的分类贮存寿命工作寿命室温贮存试验高温贮存试验室温工作间断工作高温工作第三节指数分布6、寿命试验一、指数分布寿命试验的意义1.任何设计合理、工艺成熟、质量控制严格的生产线上(产品生产过程处于稳定状态下)生产出来的产品都具有一定的可靠性指标,这类产品经过严格的筛选剔除掉设计、工艺的早期失效后,产品便进入偶然失效期。在偶然失效期内,其失效率ג近似等于常数,此时该产品的寿命分布接近或服从指数分布。2.指数分布的假设与某些元件的使用和试验结果比较接近。实践证明,即使有些元件的寿命是服从威布尔分布的,但当形状参数m=1时,威布尔分布就变成指数分布了,该元件的寿命近似服从指数分布。3.当产品服从指数分布时,产品的可靠性特征量表达式很简单,只要掌握了产品的失效率ג就可以计算出产品的全7、部可靠性指标。因此,可以利用指数分布近似作为产品的实际分布。二、常用的寿命试验方法(一)贮存寿命试验电子产品在规定的环境条件下,非工作状态的存放试验,称为贮存寿命试验。贮存时间在1000h以上称为长期贮存寿命试验。长期贮存寿命的目的是了解产品在特定的环境下贮存的可靠性。(二)工作寿命试验电子产品在规定条件下施加规定的应力的试验称为工作寿命试验。试验周期在1000h以上称为长期工作寿命试验。1.室温工作寿命试验室温工作寿命试验的目的是为了确定元器件在承受规定
3、次样本再进行检验,并根据第一、二次检验的累计结果作出接收或拒收的判断。检验批:为判定产品质量而进行检验的一批单位产品。缺陷:产品质量特性与规定要求不符。平均寿命(平均无故障工作时间MTBF):产品发生故障后,经检查修复后再投入工作,这时在两次故障间的平均工作时间就称为该产品的平均寿命(平均无故障工作时间)。参数的区间估计:是研究怎样用一个数值来估计位置参数的一种方法,这种估计方法简便合理,又避免过大的误差。参数:用于描述总体分布特征的数值。估计:根据观测值确定总体分布参数值或数值范围。置信概率(置信度、置信系数):表示数1—a。其中a称为置信水平。置信限:置信区间的两个界限ΘL及ΘU
4、称为未知参数Θ的(1—a)置信限。ΘL称为置信下限,ΘU称为置信上限。置信水平a(显著水平):犯第一类错误的概率,生产方承担的风险。定时截尾试验:试验达到规定的试验时间就停止的试验。定数截尾试验:试验达到规定的失效数就停止的试验。随机现象:在一定条件下,并不总是出现相同结果的现象称为随机现象。随机变量:表示随机现象结果的变量称为随机变量。随机事件:随机现象的某些样本点的集合称为随机事件。第二节寿命试验的目的及分类一、寿命试验目的:可靠性寿命试验的目的是了解产品的寿命特征量、失效规律、平均寿命以及在寿命过程中可能出现的各种失效模式。通过做可靠性寿命试验可以对产品的可靠性水平进行评价,并
5、通过试验过程中所获得的数据和相关信息进行分析并反馈到相关部门,及时采取必要的纠正措施,对产品进行改进,以提高产品的可靠性水平。二、寿命试验的分类1.按国家标准:工作寿命试验和贮存寿命试验;2.按数据处理方式:定时截尾试验和定数截尾试验;截尾试验又可分为有替换(试验过程中,每发生一个失效样品,就换上一个好样品继续试验,使样品数量保持不变)试验和无替换(试验过程中,失效样品取下后不再补充样品,剩下的样品继续试验,直到规定试验截止时间时才停止)试验;3.以施加的应力区分:长期寿命试验和加速寿命试验。寿命试验的分类贮存寿命工作寿命室温贮存试验高温贮存试验室温工作间断工作高温工作第三节指数分布
6、寿命试验一、指数分布寿命试验的意义1.任何设计合理、工艺成熟、质量控制严格的生产线上(产品生产过程处于稳定状态下)生产出来的产品都具有一定的可靠性指标,这类产品经过严格的筛选剔除掉设计、工艺的早期失效后,产品便进入偶然失效期。在偶然失效期内,其失效率ג近似等于常数,此时该产品的寿命分布接近或服从指数分布。2.指数分布的假设与某些元件的使用和试验结果比较接近。实践证明,即使有些元件的寿命是服从威布尔分布的,但当形状参数m=1时,威布尔分布就变成指数分布了,该元件的寿命近似服从指数分布。3.当产品服从指数分布时,产品的可靠性特征量表达式很简单,只要掌握了产品的失效率ג就可以计算出产品的全
7、部可靠性指标。因此,可以利用指数分布近似作为产品的实际分布。二、常用的寿命试验方法(一)贮存寿命试验电子产品在规定的环境条件下,非工作状态的存放试验,称为贮存寿命试验。贮存时间在1000h以上称为长期贮存寿命试验。长期贮存寿命的目的是了解产品在特定的环境下贮存的可靠性。(二)工作寿命试验电子产品在规定条件下施加规定的应力的试验称为工作寿命试验。试验周期在1000h以上称为长期工作寿命试验。1.室温工作寿命试验室温工作寿命试验的目的是为了确定元器件在承受规定
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