耳机检验标准.doc

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1、耳机检验标准1、目的为确保耳机的生产、检验工作有序开展,为过程质量控制、例行检验及承认封样提供依据。2、适用范围2本标准适用于各种手机耳机。3、定义4、结构件检验项目:缺陷:AQL=1.0;4、外观检验判定标准及包装要求4.1检验条件:距离:人眼与被测物表面的距离为25~35Cm。检验时间:每件检查总时间不超过3-5Sec。位置:检视面与桌面成45°夹角,视线与被检物表面角度在45到90度范围内旋转。光源和距离:40W*2日光灯下1.5m距离内或40W*1日光灯下1m距离内条件下,目测可见的不良现象认

2、为是缺陷。4.2手机产品测量面定义O级面:手机上显示信息的重要区域,如镜片的透明区和LCD的透明区。I级面:暴露在外,且正常使用时可直接看到的主要表面,如镜片的非信息显示区、键盘的正面、前壳的正面、后壳的正面、电池盖的正面、翻盖的正反两面。II级面:暴露在外,且正常使用时并不直接看到的次要表面及手机配件的外表面,如前壳、后壳、电池组件的侧面、侧向按键的正面,天线的外表面,以及手机其它配件(如充电器、耳机等)的外表面。III级面:打开后能看到的面(如电池组件的背面、后壳上与电池组件接触面,SIM卡盒的表

3、面)。IV级面:拆卸后才能看到的面(零部件的内表面)4.3外形尺寸参考特定项目要求4.4包装及外观检验4.4.1包装检验项目规格检验方法目视目视目视目视目视目视判定√√√√√√厂商检查厂商与BOM不一致包装方式外包装无LCTPASS检验章,厂商描述内包装无法确保材料不受损,未采用封口包装,小包装的PE袋无LCT料号,品名,规格,数量,QCPASS检验章,厂商描述内包装损坏,潮湿(或被雨水淋湿),赃污外包装卡通箱强度不足保证运输中内包装物品不致损坏目视目视√√Plug生锈,腐蚀,电镀不良"有箭头、"TO

4、P"、USB符号标示(如"等)的一面必须对应手机正面能顺利插入,不损坏插头4.4.2外观检验(耳机检验适用于Ⅱ级测量面)序号不良项目I级测量面II级测量面N≤当D≤0.30mm(S≤0.10mm),2Ⅲ级测量面有颜色对比的点缺陷1点缺陷无颜色对比的点缺陷D≤0.25mm(S≤0.07mm2),1;N≤1,且当D≤0.25mm(S≤0.05mm)DS≥15mmN≤2当D≤0.30mm(S≤22D≤1.0mm(S≤0.8mm),N≤2;20.1mm),N≤1;当D≤0.25mm(S≤0.05mm),且N≤

5、22当D≤0.35mm(S≤0.13mm2),N≤1;,且当D≤0.30mm(S≤0.07mm)DS≥15mmN≤22注:当点缺陷的直径≤0.10mm且DS≥2mm时可忽略不计。D≤0.35mm(S≤0.1mm2),N≤1;2硬划痕(碰伤)L≤0.5mm,W≤0.2mm,N≤1(S≤0.1mm)22D≤1.0mm(S≤D≤0.4mm(S≤0.13mm),N≤1;0.80mm),N≤2;L≤4mm,W≤0.2mm,N≤2(S≤0.8mm)L≤10mm,W≤0.1mm,N≤2(S≤1.0mm)H≤0.20

6、mm且不影响装配不限不限不限不限不限不限不影响装配和功能时不限不限222L≤0.8mm,W≤0.2mm,N≤1(S≤0.16mm2)3细划痕L≤3mm,W≤0.1mm,N≤1(S≤0.3mm)不允许参照限度样品参照限度样品参照限度样品参照图纸要求不允许不允许不允许2L≤5mm,W≤0.1mm,N≤1(S≤0.5mm2)H≤0.10mm且不影响装配参照限度样品参照限度样品参照限度样品参照图纸要求不允许不允许不允许456789101112飞边缩水熔接线边拖花翘曲色差顶白/顶凸填充不足银条/流纹/烧焦等参照

7、限度样品或ΔE≤1时合格注:点缺陷包括异色点、杂质、亮斑(点)等呈现点形状的缺陷。5、电气性能参数参考承认书或《免提耳机电气规范》6、可靠性要求耳机可靠性测试要求判定标准结构、功能、外观正常功能正常功能正常功能和外观正常功能正常通话及播放音质正常功能正常外露金属部分不允许生锈、腐蚀,功能正常功能正常功能正常功能正常印刷完整,无退色百格:脱落面积≦10%不露底材Item测试项目12345678910111213插座插拔测试导线疲劳弯曲强度测试导线抗急拉伸强度测试跌落测试振动测试烧机测试按键寿命(咪壳)盐

8、雾测试高温储存低温储存高温高湿印刷测试表面镀层测试测试条件与规格5000次,20-30/min,每1000次检查功能和外观300g的负重,测试周期为5000次,摇摆角度为120度,每分钟40次25N的突然拉力10次次检查功能和外观(各连接部位均要求测试)1.5m高度自由跌落到水泥地上,共跌落10次线材;PhonePlug与线材振幅1.5mm,扫频范10Hz~55Hz~10Hz,扫频率1分钟1倍频振动2H音量设置为最大,循环播放MP3,测试48小时后350

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