COC微流控芯片注塑成型微结构复制度研究.pdf

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1、塑料工业第43卷第3期·72·CHINAPLASTICSINDUSTRY2015年3月COC微流控芯片注塑成型微结构复制度研究水刘莹,李昊宇,李立刚,高杨,宋满仓(大连理工大学模塑制品教育部工程研究中心,辽宁大连116023)摘要:环烯烃共聚物(COC)材料具有比聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)更加优良的光学性能、尺寸稳定性与极低的吸水性。以具有微结构的塑件——微流控芯片为研究对象,利用单因素和正交试验研究COC材料注塑成型过程工艺参数对微结构复制度的影响规律并加以分析。结果表明:熔体温度对其微通道的复制度影响

2、最大,是影响微通道复制不完全的主要因素;注射压力和模具温度次之;保压压力和注射速度的影响较小。关键词:微流控芯片;微结构塑件;环烯烃共聚物;复制度;注塑成型DOI:10.3969/j.issn.1005—5770.2015.03.009中图分类号:TQ320文献标识码:A文章编号:1005—5770(2015)03—0072—04ResearchonMicro-structureReplicationFidelityofInjectionMoldingforCoCMicrofluidicChipLIUYin

3、g,LIHao-yu,LILi-gang,GAOYang,SONGMan—cang(EngineeringResearchCenterforMoldingProductofMinistryofEducation,DalianUniversityofTechnology,Dalian116023,China)Abstract:Comparedwiththepolymethylmethaerylate(PMMA),cyclicolefincopolymer(COC)hasmoreexcellentoptical

4、properties,bettergeometricalstabilityandverylowhygroscopicity.Withamicrostructrueplasticpart—themicro—structure—microfluidicchipasaresearchsubject,theeffectsofinjectionmoldingprocessparametersonmicro—structurereplicationfidelitywerecarriedoutbythesinglefac

5、tortestandorthogonalitydesignexperiment.Theresuhsshowedthatthemehtemperaturemostimpactedonmicro-structurereplicationfidelity,whichwastheprincipalfactoraffectingtheincompleteduplication.Besides,theinjectionpressureandmoldtemperaturewerestillbutlessimportant

6、forthequalityofthemoldingproduction,andthepackingpressureaswellasinjectionrateplayedasmallroleintheprocesses.Keywords:MicrofluidicChip;Micro—structurePlasticPart;CyclicOlefinCopolymer;ReplicationFidelity;InjectionMolding近年来聚合物材料由于成本低、种类多、可批量环烯烃共聚物(COC)具有比聚

7、甲基丙烯酸甲加工以及具有良好的生物相容性等优点,正日益成为酯(PMMA)更加优良的光学性能、尺寸稳定性与极微流控芯片的主要材料⋯。目前,成型微流控芯片低的吸水性,且有改善气密性,增加刚性、耐热性等较为成熟和常用的方法是热压成型_2J。与热压成型优点J。Luo⋯对环烯烃聚合物(COP)材料微流控相比,注塑成型方法可以制造尺寸精确、带精细结构芯片热压成型过程进行了研究,并通过与PMMA材的微结构制品,生产效率高,更适合大批量生产,但料的对比,发现COP芯片具有更高的信噪比,更高成型过程复杂,影响因素较多,在较大

8、的温度变化区的电泳效率以及更低的峰面积相对标准偏差,表明间对微结构模具型腔及聚合物材料的要求更高,芯片COP材料在生化分析领域具有更为广阔的发展前景。制品质量控制较为困难J。前期利用聚甲基丙烯酸本论文利用基片与盖片一体化注塑模具,试验研甲酯(PMMA)材料进行微流控芯片注塑成型研究结究COC材料微流控芯片注塑成型过程中,各工艺参果表明J,芯片注塑成型缺陷主要表现在微通道处复制不完全,如图1所示,即在微通道开口两侧

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