无损检测之射线检测ppt课件.ppt

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1、第二章射线检测(一)射线照相法定义射线的种类很多，其中易穿透物质的X射线、γ射线、中子射线三种。这三种射线都被用于无损检测，其中X射线和γ射线广泛用于锅炉压力容器压力管道焊缝和其他工业产品、结构材料的缺陷检测，而中子射线仅用于一些特殊场合。通常所说的射线照相法是指X射线或γ射线穿透试件，以胶片作为记录信息的无损检测方法，是最基本、应用最广泛的一种射线检测方法。射线检测是工业无损检测的一个重要专业。最主要的应用是探测试件内部的宏观几何缺陷（探伤）。按照不同特征可将射线检测分为许多种不同的方法，例如使用的射线种类、记录的器材、探伤工艺和技术特点等。1X射线是从X射线管中产生的，X射线管是一种二极电

2、子管，将阴极灯丝通电，使之白炽，电子就在真空中放出，如果两极之间加几十千伏以至几百千伏的电压（管电压）时，电子就从阴极向阳极方向加速飞行，获得很大的动能，（电子的动能一部分转变为X射线能，其中大部分都转变为热能。）当这些高速电子撞击阳极时，放出X射线。X射线管所发出的波长分布是连续的，能谱为连续谱。2γ射线是从放射性同位素的原子核中放射出来的。γ射线的光谱为线状谱。γ射线的能量随着同位素的种类的不同而不同。因为同位素时刻不停的衰变并放出射线，所以射线源的放射强度随着时间的推延而逐渐减弱，强度减到初始强度一半的时间叫做半衰期。在无损检测中常用的同位素有Co60（钴60）、Cs137（铯137）、

3、Ir192（铱192）、Se75（硒75）等。31、谱线分布不同：X射线是X射线管所产生的是连续谱，γ射线是γ源所产生的是线状谱；2、产生的原理（机理）不同：X射线是在X射线管中,在高压电场作用下使电子高速撞击阳极靶而激发出来的,γ射线是某些放射性元素的原子核自然裂变而辐射出来的。问题讨论：X射线与γ射线有何不同？43、射线能量的取决因素不同：X射线的最短波长λmin（能量）与管电压千伏值（KVP）有关：λmin=1.24/Kvp，γ射线的波长（能量）只与放射源本身有关；4、射线强度的取决因素不同：X射线的强度与射线管管电压和管电流有关；5、检测时间（曝光时间）不同：一般情况下，X射线曝光时间

4、较短、γ射线曝光时间较长。5(三)射线照相检验法的原理射线照相法是利用射线透过物质时，会发生吸收和散射这一特征，通过测量材料中因缺陷存在影响射线的吸收来探测缺陷的。X射线和γ射线通过物质时，其强度逐渐减弱。一般认为是由光电效应引起的吸收、康普顿效应引起的散射和电子对效应引起的吸收三种原因造成的。射线还有一个重要性质，就是能使胶片感光，当X射线或γ射线照射胶片时，与普通光线一样，能使胶片乳剂层中的卤化银感光，经过显影和定影后就黑化，接收射线越多的部位黑化程度越高，这个作用叫做射线的照相作用。因为X射线或γ射线使卤化银感光作用比普通光线小得多，所以必须使用特殊的X射线胶片，还使用一种能加强感光作用

5、的增感屏。6厚度为T毫米的物体中有厚度为ΔT毫米的缺陷时，x射线透过无缺陷部位的底片的黑度为D，而x射线透过有缺陷部位的底片黑度应为D+ΔD。把这种曝过光的胶片在暗室中经过显影、定影、水洗和干燥。再将底片在观片灯上观察，根据底片上有缺陷部位与无缺陷部位的黑度图象不一样，就可判断出缺陷的种类、数量、大小等结构内部的信息。这就是射线照相探伤的原理。射线照相的探伤原理7(四)射线检测法中几个名词术语①公称厚度Tnominalthickness：受检工件名义厚度，不考虑材料偏差和加工减薄；⑵透照厚度Wpenetratedthickness：射线照射方向上材料的公称厚度；多层透照时，透照厚度为通过的各层

6、材料公称厚度之和；③工件至胶片距离bobject-to-filmdistance：沿射线束中心测定的工件受检部位射线源侧表面与胶片之间的距离；④射线源至工件距离fsource-to-objectdistance：沿射线束中心测定的工件受检部位射线源与受检工件近源侧表面之间的距离；⑤焦距Ffocaldistance：沿射线束中心测定的射线源与胶片之间的距离；⑥射线源尺寸dsourcesize：射线源的有效焦点尺寸。⑦管子直径D0externaldiameterofthepipe：管子外径。8(四)射线检测法中几个名词术语⑧圆形缺陷roundflaw：长宽比不大于3的气孔、夹渣和夹钨等缺陷。⑨条形

7、缺陷stripyflaw：长宽比大于3的气孔、夹渣和夹钨等缺陷。⑩小径管smalldiametertube：外直径D0小于或等于100mm的管子。9(五)射线检测法中主要事项1、射线检测技术射线检测技术：在JB/T4730-2005《承压设备无损检测》中分为三级：A级-低灵敏度技术、AB级-中灵敏度技术、B-高灵敏度技术，A级一般用于特种设备支撑件对接焊接接头的检测，B级一般用于重要设备、结构、特