TTL与非门参数测试ppt课件.ppt

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1、数电实验箱面包板Led灯电源IC底座脉冲源74ls00拨开关1集成块、集成块（IC）底座三角形、圆形标志开始逆时针数。从第1个管脚到第n个管脚。DIP（daulin-linepackage）双列直插式封装。BGA（Bsllgridarraypackage）球栅阵列封装。例：cup，赛扬366。前图，反面；后图，正面。2拨开关位置“1”接5V电源的“+”；位置“2”接5V电源的“-”；位置“3”接各种“输入”小拨杆位置1、2、33稳压源、导线最右边两个接线柱，左“+”，右“﹣”。粗导线，连接电源和实验箱。细导线，连接箱子里面的接线柱。4模拟万用表5表头和表盘6实验一TTL与非门参数测

2、试1．熟悉TTL与非门外形和管脚引线排列。2．通过测试了解与非门的直流参数。一、实验目的：7实验一TTL与非门参数测试集成电路的二大系列：(1)TTL—Transistor-transistorLogic三极管-三极管逻辑电路。74LS系列集成电路(低功耗肖特基TTL电路)是一种比较理想的和使用最广的器件。(2)CMOS—Complementary-SymmeteryMetal-Oxide-SemiconductorCircuit互补对称式金属-氧化物-半导体电路。二、实验原理：8实物接线图9实物接线图10实物接线图11实验一TTL与非门参数测试Ui(V)00.50.70.91.0

3、1.11.21.31.41.51.82.03.5Uo(V)表4.1电压传输特性测量表三、实验内容及步骤：图4.10电压传输特性曲线电压输入（V）ABY电压输出（V）0010-1.00114.0-3.81011.1-4.01100.1612实验一TTL与非门参数测试TTL与非门直流参数的定义在教材中已有介绍。现将测试电路绘出：图4.1是低电平输出电源电流ICCL测试电路（当输入端全为高电平时，流入电源端的电流）；图4.2是低电平输入电流IIL测试电路（当某一输入端接低电平、其余输入端接高电平时，从该输入端流出的电流）；图4.2IIL测试电路二、实验原理：1．TTL与非门直流参数的测量

4、图4.1ICCL测试电路13实验一TTL与非门参数测试图4.3是高电平输入电流IIH测试电路（当某一输入端接高电平、其余输入端接低电平时，流入该输入端的电流）；图4.4是测量电压传输特性的电路（输出电压UO与输入电压Ui之间的关系，将某一输入端的电压从零逐渐增大,而将其它输入端接高电平）。图4.4电压传输特性测试电路二、实验原理：1．TTL与非门直流参数的测量图4.3IIH测试电路14实验一TTL与非门参数测试图4.7平均传输延迟时间tpd2．测平均传输延迟时间在与非门输入端加上一个脉冲电压，则输出电压将有一定的时间延迟，表明延迟时间的输入、输出电压波形如图4.7所示。从输入脉冲上

5、升沿的50%处起到输出脉冲下降沿的50%处的时间称为上升延迟时间tpd1；从输入脉冲下降沿的50%处起到输出脉冲上升沿的50%处的时间称为下降延迟时间tpd2。tpd1与tpd2的平均值称为平均传输延迟时间tpd，此值愈小愈好。二、实验原理：15实验一TTL与非门参数测试由图4.6所示的环形振荡器测出平均传输延迟时间tpd，如果每个与非门的tpd都相等，则振荡信号的周期T=6tpd，于是：tpd=T/62．测平均传输延迟时间二、实验原理：图4.6环形振荡器电路16实验一TTL与非门参数测试2．测平均传输延迟时间二、实验原理：为了证明上述自激振荡过程，将图4.6中的反馈线AD断开，如

6、图4.8所示，然后在门1的输入端加入一个频率合适的方波Vi，同时观察Vi、Vo和VF波形(以Vi作同步信号)，如图4.9所示，Vo是Vi反相后右移tpd波形，如果Vi的频率符合振荡所需的相移条件，即Vi比Vo恰好右移2tpd，则3tpd=tp。式中tp为Vi的脉冲宽度，则图4.6将输出周期为Ｔ的方波，显然Ｔ＝2×3tpd=6tpd故得：tpd=T/6电路依靠合闸时的扰动电压起振。17图4.8断开反馈线的环形振荡器图4.9Vi、VO和VF波形实验一TTL与非门参数测试2．测平均传输延迟时间二、实验原理：18实验一TTL与非门参数测试1．根据与非门的逻辑功能检查与非门是否良好。2．测量

7、下列各直流参数（1）低电平输出电源电流ICCL(图4.1)。（2）低电平输入电流IIL(图4.2)。（3）高电平输入电流IIH(图4.3)。（4）电压传输特性(图4.4)，完成表4.1，并画出电压传输特性曲线(完成图4.10)。（5）扇出系数NO(图4.5)。（6）平均传输延迟时间tpd(图4.6)。三、实验内容及步骤：19实验一TTL与非门参数测试1．阅读所用与非门（74LS00）的说明书，了解其线路、引线排列逻辑功能和参数。2．与非门什么情况下输出高电平？什么情况