TTL与非门参数的测试

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1、成绩：教师评语—、实验目的及要求（1）理解TTL集成与非门的逻辑功能。（2）掌握TTL集成逻辑门主要参数的测量方法。（3）掌握集成逻辑电路相互衔接时应遵循的规则和实际衔接方法。二、实验原理与内容实验采用的二输入四与非门74LS00为一块集成块内含有四个相互独立的与非门，每个与非门有两个输入端。其引脚排列与图形符号如图1・1所示。74LSOO匚—)&vcc4B4A4Y3B3x3Y向冋回向冋回囘图1-174LS00外引脚排列图1.与非门的逻辑功能与非门的逻辑功能为：当输入端中有一个或一个以上是低电平时

2、，输出端为高电平；只有当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平，即有“0”得“1”，全“1”得“0”。其逻辑表达式为：Y=ABoTTL集成与非门的主要参数有输出高电平Von、输出低电平V（）l、扇岀系数N（）、电压传输特性和平均传输延迟时I'可tpd等。（1）TTLI'J电路的输出高电平VohVon是与非门有一个或多个输入端接地或接低电平时的输出电压值，此时与非工作管处于截止状态。空载时，Von的典型值为3.4〜3.6V,接有拉电流负载时，V（*下降。（2）TTLH电路的输出低电平VolVol是与

3、非门所有输入端都接高电平时的输出电压值，此时与非工作管处于饱和导通状态。空载时，它的典型值约为0.2V,接有灌电流负载时，Vol将上升。(3)TTL

4、'1电路的电压传输特性门的输出电压V。随输入电压Vi而变化的曲线V尸f(V»称为门的电压传输特性，通过它可读得门电路的一些重要参数，如输出高电平Voh、输出低电平Vol、关门电平Voff＞开门电平V°n等值。测试电路如图1・2所示，采用逐点测试法，即调节R、v，逐点测得"及V。，然后绘成曲线。图1-2电压传输特性测试电路三、实验软硬件环境1、数字逻辑

5、电路实验箱。2、芯片74LS00o3、5」K,100Q,200Q,500Q,1K电阻；IK,10K可调电阻。4、数字万用表。四、实验过程(实验步骤、记录、数据、分析)1、在THD-2型实验箱适当位置选取一个14P插座，按定位标记插好74LS00集成块，插座的第7脚接上实验箱的地(GND),第14脚接上电源(VCC),与非门逻辑功能测试电路按实验电路图4・7接线。注意：接线前先将实验箱左上角的总电源开关断开。门的两个输入端接逻辑开关输出插口，开关向上提供逻辑电平“1”，开关向下提供逻辑电平“0”。门

6、的输出端接由LED发光二极管组成的逻辑电频显示器的显示插口，LED亮为逻辑“1”，不亮为逻辑“0”。与非门真值表输入输出AnBnY

7、000110112、按照实验原理第一、二部分用万用表测出TTLn电路的输出高电平Voh，输出低电平Vol。并记录在表1VOHVol3、按图1・2所示连线，调节电位器Rw，使M从0V向高电平变化，逐点测量Vi和V。,将结果记入下表屮。然后根据表屮数据绘成曲线。Vi00.20.40.60.80.91.01.11.21.52.02.53.0Vo五、测试/调试及实验结果分析4

8、.5六、实验结论与体会实验思考题结合课本第二章，说明TTL芯片的特点?2018年3月13日