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1、測量系統分析MeasurementSystemsAnalysis(MSA)1測量以确定量值為目的的一組操作.那些用預設的標准比較實物有多少單位的過程.測量結果由一個數位和一個標準的測量單位構成。測量結果是測量過程的輸出。2測量數據的品質測量數據的品質與在穩定的作業狀況下，由一個測量系統獲得的多個測量值的統計特性有關。參考值（ReferenceValue）—一個作為比較參考的被認同的值如果某一特性的測量值[接近]它的標準值，則稱此一數據的品質為[高]。如果某一特性的測量值[遠離]它的標準值，則稱此一數據品質為[低]。3測量系統用來對被測特性賦值的操作、程序、量具、設備、
2、軟件以及操作人員的集合;用來獲得測量結果的整個過程.簡單說來,就是与測量有關的一組相關的資源,活動和影響.4顧客顧客管理職責資源管理輸入實現產品輸出測量在質量管理体系中的地位量度、分析、改進持續改善質量管理體系滿意要求產品5測量在質量管理体系中的地位6制程控制7測量數据分辨率:測量系統檢出並如實指示被測特性中最小變化的能力一般的(ISO9000)要求是:分辨率需達到公差帶的十分之一到三分之一.8准确:數據的中心与標准值相近.精确:數据的變差小,集中于某點附近.測量數据好的測量數据:零偏倚零錯誤分類率9測量系統應有特性:處于統計控制中系統的變异比待測物的變异小系統的變异
3、比待測物的公差小系統精度(分辨率)高于待測物變异或公差精度統計特性可能隨待測項目的變化而變化10測量系統統計控制示意11測量系統分辨率要求:識別產品的好坏識別制程的變異,不斷改善是過程變異的十分之一考慮一個產品,其規格為10±0.5,而產品測量使用直尺,其讀數為10,10,10,…..,這樣的測量系統有問題嗎?1213測量系統變異類型与位置有關:偏倚穩定性線性与寬度有關:再現性再生性14偏倚(Bias)是測量結果的觀測平均值与基准值的差值(基准是采用更高級別的檢測設備得到的一致認可的數据)15偏倚1)首先用較高准确度的設備對基准件進行測量十次,計算平均值,得到基准值X
4、r.2)再讓評价人用待評价設備測量基准件至少十次以上,得到平均值Xbar.3)偏倚Bias＝Xbar－Xr4)偏倚%Bias%＝[Bias/過程變差]*100%16穩定性(Stability)是測量系統在某持續時間內測量同一基准或零件的單一特性時獲得的測量值總變差17穩定性1)選擇基准件(1-3件)2)定時(每天/星期)測量基准件(3/5次)3)根据測量數据制定Xbar-R圖4)觀察數据是否處于統計制程控制5)計算標准偏差Sigma=Rbar/d26)將標准偏差与過程變化標准偏差比較.18線性(Linearity)是在量具預期的工作范圍內,偏倚值的差值.19線性1)選
5、擇處于測量系統工作范圍的部分零件,例如5~10件2)利用高准确度設備測量其基准值Xir.3)評价人使用待評价設備對每個零件測量12次(隨机抽取),得出零件平均值Xibar4)計算每個測量點的偏倚Biasi=Xibar-Xir5)劃出Xir-Xibar線性相關圖,計算線性斜率20線性y=b+axx---基准值y---Biasa---斜率a={Sum(xy)-Sum(x)*Sum(y)/n}/{Sum(x2)-[Sum(x)]2/n}b=Sum(y/n)-a*Sum(x/n)線性=斜率*過程變差擬合优度R2={Sum(xy)-Sum(x)Sum(y)/n}2/{[Sum(
6、x2)-Sum(x)2/n]*[Sum(y2)-Sum(y)2/n]}21再現性(Repeatability)是由一個評价人,采用一种測量儀器,多次測量同一零件的同一特性時獲得的測量值變差22再生性(Reproducibility)是由不同的評价人,采用相同的測量儀器,測量同一零件的同一特性時測量平均值的變差23R&R极差法(Range法)1)采用兩個評价者測量數個零件(一般5個零件以上),得到Xa,Xb2)計算每個零件的測量极差Ri=Xa-Xb3)計算平均极差Rbar=Sum(Ri)/n4)計算測量變差GR&R=5.15*Rbar/d25)計算%GR&R=[GR&R
7、/過程變差]*100%(見學員教材P.25)24R&R均值和极差法(Average&Range法)1)采用多個評价者測量數個零件(一般5個零件以上)2)讓評价者多次測量每個零件(不知編號),記錄結果.3)對數据進行再生性和再現性分析.(見學員教材P.26-43)25R&R均值和极差法(Average&Range法)再現性(Repeatability)-原理:評价者多次測量同一物品的差距即再現性實際上是設備的變异引起-用多個人多個產品統計平均值代表性更高EV=(Rbar)bar*K1(K1是常數)26R&R均值和极差法(Average&Range法)再
