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时间:2020-03-13
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1、統計製程管制(SPC)SPC-統計制程管制內容介紹:一.SPC基本知識介紹二.制程能力分析&評估三.各制程之SPC運用SPC-統計制程管制一.SPC基本知識介紹(一).品質管制的演進(二).SPC起源及定義(三).SPC實施步驟(四).制程能力概念(五).統計用語(六).機率與常態分配SPC-統計制程管制SPC-統計制程管制(三).SPC實施步驟1.定義制程6.制程能力分析2.選定品質特性7.制程效率之研究3.制程作業標準化8.問題解決4.量測儀器分析9.制程管制5.管制圖制作(四).制程能力概念1.制程能力概念處於穩定狀態下的制程實際加
2、工能力2.表現在兩個方面:1)産品質量是否穩定.2)産品質量精度是否足夠.SPC-統計制程管制SPC-統計制程管制68.26%95.46%99.73%SPC-統計制程管制SPC-統計制程管制二.制程能力分析&評估主要參考參數:(一).制程準確度-Ca(二).制程精密度-Cp(三).制程能力綜合指數-CpkSPC-統計制程管制單邊規格:只有規格上限或規格下限雙邊規格:既有規格上限又有規格下限注意:因爲單邊規格無規格中心值,所以不能計算Ca值,Ca值應用在雙邊規格的準確度分析。Ca<0,表示實際平均值X<規格中心值µ;Ca>0,表示實際平均值
3、X>規格中心值µ2)Ca的等級判定SPC-統計制程管制<例題>CARDREADER機種,過錫爐溫度的規格爲235℃,其公差爲5℃,以下爲9/12-9/16所收集資料如下:SPC-統計制程管制計算其Ca,並說明屬於那一級?SPC-統計制程管制SPC-統計制程管制SPC-統計制程管制SPC-統計制程管制SPC-統計制程管制SPC-統計制程管制SPC-統計制程管制SPC-統計制程管制(一).管制圖的種類1)計數值管制圖其所依據之資料,均以單位計數者.如:不良數,缺點數等間斷資料均屬此類.最常用爲下列四種:不良率管制圖(PCHART)不合格品
4、數管制圖(NPCHART)缺點數管制圖(CCHART)平均缺點數管制圖(μCHART)2)計量值管制圖其所依據之資料,均屬由量具實際量測而得知.如:長度,重量,成份等特性均爲連續性者.最常用爲下列四種:平均數與全距管制圖(Xbar-RChart)平均值與標準差管制圖(Xbar-SChart)中位數與全距管制圖(X-SChart)個別數與移動全距管制圖(X-Rm)SPC-統計制程管制SPC-統計制程管制(三).管制圖建立的步驟1.選定管制圖類型6.計算管制界限2.資料收集7.繪入圖點3.資料分組8.制程判定4.計算每組的Xbar
5、﹐R9.管制界限的修訂5.計算全組的Xbbar﹐R(四).管制圖的分析與判讀1.受控狀態1)所有樣本點都在控制界限內2)樣品點均勻分佈,位於中心線兩側的樣品點約各占1/23)靠近中心線的樣品點約占2/34)靠近控制界限的樣品點極少SPC-統計制程管制2.失控狀態1)有7個或7個以上樣品點連續出現在中心線的一側2)連續7點上升或下降3)有較多的邊界點4)樣本點的周期性變化(五).計量值管制圖1.Xbar-R管制圖1)收集資料子組大小:一般爲4-5個資料子組頻率:1-2小時收集一次資料子組數的大小:大於等於25組資料2)計算平均值,極差
6、,管制上下限及中心線SPC-統計制程管制X1+X2+X3+…+Xn平均值Xbar=n全距R=X最大值-X最小值R1+R2+R3+…+RK平均全距Rbar=kXbar1+Xbar2+Xbar3+…+Xbark過程均值Xbbar=k管制上限UCLX=Xbbar+A2RbarUCLR=D4*Rbar中心線線CLX=XbbarCLR=Rbar管制下限LCLX=Xbbar-A2RbarLCLR=D3*Rbar3)描點,分析SPC-統計制程管制(六).計數值管制圖1不良率P管制圖1)産品無法直接測定其特性時,可以分別其良品數與不良品數,並以不良率表示
7、其品質,如ICT測試功能OK與功能不良,終檢處出錫OK與出錫不良2)資料的建立3)平均不良率,管制上下限的計算不良品數總和平均不良率Pa=檢驗數總和管制上限UCL=Pa+3*(Pa*(1-Pa))/n管制下限LCL=Pa-3*(Pa*(1-Pa))/n注:n表示樣本數:當樣本數相等時,n爲它本身;當樣本數不相等時,爲總樣本數的平均值SPC-統計制程管制2)計算平均不合格品數,管制上下限nP1+nP2+nP3+…+nPk平均不合格品數nPa=k平均不良率Pa=nPa/N(N表示樣本數)注:nP1,nP2,nP3…nPk表示每組的不合格品數,
8、k表示不合格品的組數管制上限UCL=nPa+3*nPa*(1-Pa)中心線CL=nPa管制上限LCL=nPa-3*nPa*(1-Pa)SPC-統計制程管制2)平均缺點數﹐管制上下限及中心線的計
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