AMC1023测厚仪说明书.doc

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1、目录一、概述3二、主要技术指标和特点3三、工作原理5四、AMC1023测厚仪系统组成7五、组成部分简介81.C型扫描架部分82.X射线发生和检测部分103.主控机柜系统114.安装在现场的操作箱部分135.LED大显示器部分14六．测厚仪检测软件使用说明14七、现场安装说明22八、现场运行说明23九、安全须知25附录1：功能测量板内板说明28附录2：X射线控制板内板说明29一、概述AMC1023型X射线测厚仪是采用X射线作为放射源的核辐射穿透式检测仪表，利用物质厚度不同对X射线吸收量不同的原理制成的。它是我公司生产的采用同位素放射源测厚仪的基础上，又自主

2、开发成功的新一代的测厚仪，现场使用表明，它具有精度高，反应速度快，实时性好，高可靠性，使用安全，低成本和维护方便等特点。在X射线测厚仪生产中，为保证产品的稳定性和可靠性所有关键零部件均采用进口，核心测量软件根据现场需要，结合多家测厚仪的特点编制而成，达到了预期的目的，取得了令人滿意的结果。AMC1023型X射线测厚仪可对板材、带材进行非接触、连续、快速在线测量。适用于冷轧带钢、铜、铝和其他金属材质的带材、箔材及玻璃、橡胶等非金属板材厚度测量。并可输出厚差信号，参予闭环调节，实现厚度的自动控制。本公司生产多种型号和规格的测厚仪，本着质量第一﹑用户至上的原则

3、,对产品一律上门安装、调试、直到正常运行,提供有关技术资料,培训操作人员。并对售出产品实行质量保修,在保修期内,因质量问题本公司人员将及时到现场负责维修,保修期后也将长期提供有偿技术服务。二、主要技术指标和特点主要技术指标:1、测量范围：0.10-5.00mm带钢（可扩大）。2、时间常数：10-50毫秒，可调。3、气隙高度：250mm(可以在定货时商定)。4、吼口深度：1000mm(可以在定货时商定)。5、驱动方式：电动或气动（C型架）；6、测量精度(带钢﹑10ms﹑1.65σ时)：0～1mm：≤±1µm；1mm～2mm：≤±(0.1%被测厚度)。大于2

4、mm：7、稳定性：≤±1µm/24hr（100µm）（带钢）。8、重复性：≤±1.0µm9、测量位置：带材中心至带宽1/3处，或全部覆盖。10、信号接口：实时绝对厚度：BCD码（24V共源）（从测厚仪到AGC），厚差模拟量：两路独立±10V—±100μm（从测厚仪到AGC）。主要特点：1、显示方式:CRT界面数字显示厚度的绝对值﹑偏差值﹑厚度设定值﹑合金牌号﹑轧制卷号﹑设定存取以及道次的工艺参数等多个参数;2、精度高，响应时间快，参予AGC控制，而且响应时间可按AGC控制的要求，进行适度调整；3、X射线源的高压﹑电流实行闭环控制﹑自动调节，射线发射高度稳

5、定，安全可靠。量程范围内的带钢厚度变化无需调整X射线源的高压值和电流值，实行一段式控制，达到当前国际上先进的X射线控制技术水平；4、现场同步厚度显示器,可选一个或几个,数字传输同步显示厚度的绝对值或偏差值;5、提供自动厚度校正和手动校正方式，设有标准厚度片，可根椐需要隨时进行厚度校正，无特殊原因造成系统错误的情况下，不需要经常性标定和人工反复调校；6、合金修正：系统允许采用两种方式保证因合金成份改变状况下的精度；7、X射线源部分整体冷却，冷却系统温控精度高，维护简单方便；8、C型测量架:标准型移动距离0-1000㎜,可按现场要求设计，电动或手动进出测量位

6、（也可其它方式传动）。9、测量间隙冷热轧不同，在热轧时加有冷却措施；冷轧时，加有消除油雾影响等措施。三、工作原理AMC1023型测厚仪测量原理如图(1)所示。图中：1.X放射源2.屏蔽准直器（源盒）3.被测量材料4.探测器（电离室）5.前置放大器51234图1探测器原理示意图放射源1发出射线在穿透被测物质3时，一部分射线被吸收和散射，另一部分射线透过物质，由探测器4检测出其透过强度I，并符合下列关系式:式中:──放射源与核探测器之间只有空气时，核探测器处的射线强度。e──自然对数的底(e＝2.718…)──被测材质的质量吸收系数ρ──被测材质的密度上式也

7、可改写为:射线测厚仪就是利用上式关系用探测器测量出射线强度I后，求出对应d值，实现对厚度的连续自动测量。四、AMC1023测厚仪系统组成整套系统由以下部分组成：1.安装在轧机现场的C型扫描架部分(一次仪表)；2.X射线发生和检测部分、冷却系统；3.安装在控制间的主机柜（二次仪表）系统；4.安装在现场的操作箱部分；5.LED大显示器部分（可选件）；6.测厚仪检测软件系统；7.连接电缆等。系统示意图如图2，此图表示连轧机和可逆轧机使用两台或多台测厚仪情况，并且同一台HAGC相连接。测厚仪组成系统框图如图3所示。。图2系统示意图图3测厚仪组成系统框图下面对测厚

8、仪的几个主要组成部分作以简介。五.组成部分简介1．C型扫描架部分(一次仪表)：见