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1、《组成原理汇编和接口技术》实验指导书济源职业技术学院计算机系实验一:ALU单元实验1.1实验目的(1)了解运算器的组成结构。(2)掌握运算器的工作原理。(3)学习运算器的设计方法。(4)掌握简单运算器的数据传输通路。(5)验证运算功能发牛器74LS181的组成功能。1.2实验设备TDN-CM++教学实验系统一套。1.3实验原理魏据显亦灯实验中的运算器数据通路图如图1-1所示。图中所示的是由两片74LS181芯片以并/串形式构成的8位字长的运算器。右方为低4位运算芯片,左方为高4位运算芯片。低位芯片的进位输
2、出端C(n+4)与高位芯片的进位输入端Cn相连,使低4位运算产牛:的进位送高4位运算中。低位芯片的进位输入端Cn可与外来进位相连,高位芯片的进位输出引至外部。两个芯片的控制端S0-S3和M各自相连,其控制电平由表1-1给出。B7A7B0A0巴CN74LS245ALU-BCC1rCmF3-FOALU(181)CNMA3...AOB3...B0八八丿、八八八八八0Cm~1OF3...FBCNCmALU(181)nMA3...ADB3...B0、八八八八八IJ■Q0DOBULDDR1GT4LDDR2T4SW-B
3、GDR1D7三态门245Q7...Q403...Q0DR2(273)八D7...DO□dF-数据开关1-1运乳器通路图表1-1DR2DR1S3S2S1SOM=0(算术运算)M=1(逻辑运算)Cn=l无进位Cn=0有进位65A70010F=(65)F=(66)F=(9A)65A70001F=(E7)F=(E8)F=(⑻65A70010F=(7D)F=(7E)F=(82)0011F=()F=()F=()0100F=()F=()F=()0101F=()P=()F=()0110F=()F=()F=()0111F=
4、()P=()F=()1000F=()F=()F=()1001F=()P=()F=()1010F=()F=()F=()1011F=()P=()F=()1100F=()F=()F=()1101F=()F=()F=()1110F=()F=()F=()1111F=()F=()F=()为进行双操作数运算,运算器的两个数据输入端分别由两个数据暂存器DR1、DR2(用锁存器74LS273实现)來锁存数据。要将内总线上的数据锁存到DR1或DR2中,则锁存器74LS273的控制端LDDR1或LDDR2须为高电平。当T4脉冲
5、到来时,总线上的数据就被锁存进DR1或DR2中了。为控制运算器向内总线上输出运算结果,在其输出端连接了一个三态门(用741S245实现)。若耍将运算结果输出到总线上,则耍将三态门74LS245的控制端ALU-B置低电平。否则输出高阻态。数据输入单元(实验板上印有INPUTDEVICE)用以给出参与运算的数据。其屮,输入开关经过一个三态门(74LS245)和内总线相连,该三态门的控制信号SW-B取低电平时,开关上的数据就通过三态门而送入内总线中。总线数据显示灯(在BUSUNIT单元中)已与内总线相连,用来显
6、示内总线上的数据。控制信号中除T4为脉冲信号外,其他均为电平信号。由于实验电路中的时序信号均已连至“W/RUNIT”单元屮的相应时序信号引出端,因此,需要将“W/RUNIT”单元中的T4接至“STATEUNIT”单元中的微动开关KK2的输出端。在进行实验时,按动微动开关,即町获得实验所需耍的单脉冲。S3、S2、SI、SO、Cn、M、LDDR1、LDDR2、ALU・B、SW-B各电平控制信号使用“SWITCHUNIT”单元屮的二进制数据开关来模拟,其屮Cn>ALU-B.SW-B为低电平有效,LDDR1、LD
7、DR2为高电平有效。对于单总线数据通路,做实验吋就要分吋控制总线,即当向DR1、DR2工作暂存器打入数据时,数据开关三态门打开,这时应保证运算器输出三态门关闭;同样,当运算器输出结果至总线时也应保证数据输入三态门是关闭状态。1.4实验步骤(1)按图1-2连接实验电路并检查无误。图中将用户需耍连接的信号线用小圆圈标明(其它实验相同,不再说明)。W/RUNITSTATEUNITT4KK2+□□nOALUUNITAUJ3ALU-BS3...CNLDDR1LDDR2111Q11LXJOB0B700匚□B7•••B
8、OBUSUNITD7DOSWJ3QQINPUTDEVICE11mS3•…CNLDDR1LDDR2SWITCHUNIT图1-2算术逻辑实验连接图(2)打开电源开关。(3)用输入开关向暂存器DR1置数。1)拨动输入开关形成二进制数01100101(或其它数值)。(数据显示:灯亮为0,灭为1)。2)使SWITCHUNIT单元中的开关SW-B=O(打开数据输入三态门)、ALU~B=1(关闭ALU输出三态门)、LDDR1=1>LDDR2
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