元器件失效模式RAC.doc

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1、元器件失效模式及其失效比例元器件名称失效模式比例%元器件名称失效模式比例%二极管电压调整二极管（齐纳）开路45.0普通二极管短路49.0参数变化35.0开路36.0短路20.0参数变化15.0晶体管微波二极管开路60.0双极型晶体管短路73.0参数变化28.0开路27.0短路12.0场效应晶体管短路51.0整流二极管短路51.0输出偏低22.0开路29.0参数变化17.0参数变化20.0开路5.0可控硅整流二极管短路98.0输出偏高5.0开路2.0GaAs场效应晶体管短路61.0小信号二极管参数变化58.0开路26.0开路24.0参数变化13.0短

2、路18.0射频晶体管参数变化50.0开关二极管短路40.9短路40.0不连续22.7开路10.0开路9.1复式晶体管短路61.1烧毁9.1加压不当11.1参数负漂移4.5基极开路5.6游离颗粒4.5发射极开路5.6其它9.1连续损耗5.6半导体闸流管断不开45.0无输出5.6短路40.0结构5.6开路10.0光电子器件闭合失效5.0发光二极管开路70.0三端双向可控硅开关二极管断开失效90.0短路30.0闭合失效10.0光电耦合器退化54.9电压基准二极管（齐纳）参数变化69.0不能切换27.5开路18.0过电应力5.9短路13.0开路5.9接线故

3、障3.911元器件失效模式及其失效比例（表续）元器件名称失效模式比例%元器件名称失效模式比例%光电耦合器（续）污染2.0运算放大器（续）功能失效1.5光电传感器短路50.0电压基准源电学失效34.5开路50.0氧化层缺陷34.5模拟电路参数不符13.8线性电路输出超差77.0电压不当6.9无输出23.0机械故障3.4开关集成电路电学失效56.6破碎3.4输出错误16.8不连续3.4不开关11.5电压调整器电学失效64.9机械损伤10.4电过应力20.5无输出2.5短路4.6漏电2.2接线失效4.3通用放大器开路29.6机械失效4.3电过应力23.2

4、输出错误1.3参数不符21.6比较器电学失效77.9机械过应力16.8机械失效13.9导线故障4.8电过应力2.6增益偏低4.0开路2.5塑封放大器参数不符94.9参数不符2.2低电平不足1.7电压错误0.8短路1.7塑封电压比较器参数不符49.6功能失效1.7电失效35.8陶瓷封装放大器参数不符90.0机械故障8.0输出偏低2.5开路2.9机械失效2.5接线故障2.2电性能失效2.5污染1.5外壳裂缝2.5振荡器漏电40.0运算放大器电性能失效60.0定时失效16.0机械失效19.2污染16.0过电应力9.1电压不当12.0参数失效8.1接线不当

5、8.0开路2.1起泡/脱皮8.011元器件失效模式及其失效比例（表续）元器件名称失效模式比例%元器件名称失效模式比例%控制器短路34.8ROM数据丢失24.4参数不符28.4短路21.5开路20.8解码失效18.2功能失效10.6漏电13.4导线故障3.4行/列失效12.0偶然失效1.9数据溢出10.5微型控制器接线故障38.7陶瓷封装存储器性能退化65.9短路21.3机械损伤26.8封装裂纹14.0短路4.5功能失效12.1开路2.4开路8.3位失效0.2电过应力5.7数据溢出0.2多路复用器输出错误23.5逻辑电路电性能失效22.0阵列短路36

6、.5开路16.5功能失效14.4电过应力14.5导线故障13.6插损过大13.5电失效13.1开裂10.0开路12.2接收/发射器短路58.6微裂纹10.2接线故障17.1寄存器Idd过高26.2功能失效10.0功能失效23.8参数不符5.7电过应力16.7微裂纹5.7漏电13.1漏电2.9金属缺陷10.7存储器电路超出额定值9.5RAM电学失效35.1门电路退化24.5短路29.5晶体管失效22.6功能失效14.7短路18.7数据溢出12.9开路17.3污染4.0Vds过高8.5机械故障3.7漏电8.411元器件失效模式及其失效比例（表续）元器件

7、名称失效模式比例%元器件名称失效模式比例%反相器机械失效27.0缓冲器/变送器/驱动器电失效34.4开路24.0功能失效23.0电过应力21.5机械失效13.1电学失效18.5电过应力11.9参数不符5.6开路11.9功能失效3.4短路5.7触发器高电平不足22.6运算器开路33.3开路20.9漏电25.0低电平不足19.1电压错误8.3电过应力14.8功能失效8.3电学失效12.6短路8.3机械失效10.0气孔8.3塑封触发器机械故障71.3早期失效8.3电失效28.7计时器电学失效61.6解码器电学失效42.2参数不符16.2机械失效26.7开

8、路14.9高电平不足11.2机械失效3.3电过应力9.5功能失效2.0输出不正确6.0短路2.0开路4.3收发器电学失效4