《电子文件归档光盘技术要求和应用规范》解读.ppt

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1、《电子文件归档光盘技术要求和应用规范》（DA/T38-2008）解读清华大学光盘国家工程研究中心光盘保护技术联合实验室2010年12月1内容提要历史回顾和创新对“规范”的技术参数解读对光盘刻录质量的解读对“抽检”方法的解读对“规范”的三级预警制度理解对实施“规范”的系统工程解读23历史联系与光盘存档有关联的有二个标准，它们对存储介质维护的要求如下：GB/T17678.1-1999《CAD电子文件光盘存储、归档与档案管理要求》1999年10月1日实施要求：“电子档案应每5年进行一次有效性、安全性检查，如发现光盘损坏或出现问题，应及时拷贝”GB/T18894-2002《电子文件

2、归档与管理规范》2003年5月1日实施要求：“对磁性载体每满2年、光盘每满4年进行一次抽样机读检验，抽样率不低于百分之十，如发现问题应及时采取恢复措施。”4存在的问题2个标准都认识到通过数据迁移（“拷贝”和“及时恢复”）来保证数据的可靠性，但却是以“损坏”或“出现问题”为判据来确定迁移时刻，可实施性不强，也不符合档案存储要求的“100%”可靠性。99年标准以5年为周期全检，实践中会造成工作量过大，因此03标准则改为用4年、不低于10%的抽检量来代替。改进的依据是什么呢？为什么是10%的抽检率？抽检的基础是什么？5发展创新一、在保证数据安全前提下，给出了评价档案光盘质量的技术

3、参数指标（BLER/PIE等）；二、定义了归档光盘的质量是光盘经过刻录加工后的结果，因此“归档前检测”就是一个必不可少的重要检测环节；三、借鉴可靠性系统工程理论，采用以“批次”为基础的“抽检”质量判定方法；四、强调归档光盘寿命是一个动态变化过程，三级预警是归档光盘数据迁移策略的重要手段；6一、技术参数解读参数BLER（块错误率）、PIE（奇偶校验内码错误）反映了光盘刻录后读出信号的质量状态，被称为初始误码率；光盘对称度和抖晃Jitter反映了光盘刻录标记的质量状态，该指标直接影响前2个参数的大小；参数E32和POF则是代表编码纠错状态，如果它们大于0则表示已经无法正确恢复数

4、据。归档光盘的初始误码率越低，光盘的数据存档寿命就越长参数要求BLERPIE备注归档光盘<50（E32=0）<80（POF=0）归档前能读出光盘<220（E32=0）<280（POF=0）“损坏”标志7一、技术参数解读运用主要技术参数在档案光盘空白盘、刻录后的2个阶段的质量评价时有所侧重。评价指标指标空白盘刻录后说明TE<0.45跟踪错误FE<0.5聚焦错误JITTER<35nsBLER<150<50耐候实验PIE<180<80耐候实验8一、技术参数解读从可靠性系统工程的理论和实践来看，对单个盘的检测只能证明该张盘的质量好坏，整批盘的合格评价还需要考查其它因素。档案光盘（空

5、白盘）的品质不是检测出来的，是生产质量控制体系保障出来的；质量是可追溯的。所以生产企业必须是在中国合法注册的，取得生产许可证的，具有国家认可的质量管理体系证书；生产工艺需要报备，不能擅自更改；生产过程是可定期检查和检测的。如此才能保证我们使用的光盘符合档案光盘的要求9二、刻录质量解读光盘刻录的不合格率=光盘的不合格率+刻录机的不合格率合格率取决于质量+一致性（品质）DA/T38标准定义和保证了档案光盘的品质。刻录机目前的问题刻录机可修正适应光盘的品质（制造商识别码-MID），但目前中国市场光盘品质却很杂乱；光盘品质杂乱是因为消费者对品质基本还处于”能刻能读“的低水平要求上，

6、当然也还在于获取品质检验的难易度上。10二、刻录质量解读为适应中国市场光盘”兼容性“要求，刻录机厂商的产品设计理念就无法保证”一致性“。刻录机的不一致表现为同一型号不同批次生产的不一致，以及同批次生产的不一致（与生产选用的零部件品质有关）。“盘机匹配”是目前解决归档光盘合格率的可行途径，即选用经过挑选、实践证实刻录品质合格的刻录机，未来则应选用定制刻录机。应当注意：如果频繁使用则最好每年更新刻录机，因为即使是合格的刻录机其主要部件-刻录光头-也是有寿命限制的，约为3000小时。因此“归档前检测”成为归档光盘最重要的检测环节，是确保归档光盘存储寿命的起始点！11二、检测设备产

7、品名称归档光盘检测仪产品类别CD-R/DVD-R驱动器类型工业测试级高精度驱动器设备品质检测级产品尺寸标准机架450X430X173（LxWxH）研究机构国家档案科学技术研究所、清华大学光盘国家工程研究中心共同研发系统环境WindowsXP“归档光盘检测仪”是为配合本规范要求、对归档光盘主要技术参数做重点检测而设计制造的专业设备，使用简便快捷，可与更高精度光盘检测设备进行相互标定，保障了测试的准确性和一致性。“归档光盘检测仪”在档案光盘全部生命周期的检测评价中都要使用，是实施该“规范”的基础保障设备。12二、检测设