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时间:2020-01-12
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1、生产实习报告专业:微电子科学与工程班级:1314012学号:13140120019姓名:刘聪指导教师:李跃进丁瑞雪李娅妮实习时间:2016.12.21-12.24一、工艺原理1.氧化SiO2(氧化层)作用:⑴杂质扩散掩蔽膜和离子注入屏蔽膜;⑵器件表面保护或钝化膜;⑶MOS电容的介质材料;⑷MOSFET的绝缘栅材料;⑸电路隔离介质或绝缘介质。制备氧化层方法:热氧化;热分解淀积;CVD;阳极氧化;蒸发法(溅射法)。热氧化优点:SiO2(氧化层)质量好,掩蔽能力强。热氧化种类:⑴干氧氧化:高温下,氧气与硅片反应生成SiO2特点——速度慢;氧化层致密,掩蔽能力强;
2、均匀性和重复性好;表面与光刻胶的粘附性好,不易浮胶。⑵水汽氧化:高温下,硅片与高纯水蒸气反应生成SiO2特点——氧化速度快;氧化层疏松,质量差;表面是极性的硅烷醇——易吸水、易浮胶。⑶湿氧氧化:高温下,硅片与携带一定量水汽的氧气反应生成SiO2特点——氧化速率介于干氧和水汽之间;氧化层质量介于干氧与水汽之间;影响氧化速率的因素:氧化剂分压;氧化温度;硅表面晶向;杂质;2.扩散扩散目的:将所需的杂质掺入半导体基片规定的区域内,并达到规定的数量和符合要求的分布。扩散定义:将掺杂气体导入放有硅片的高温炉中,从而达到将杂质扩散到硅片内的目的。方法:按掺杂源的形态分
3、类:①固体源扩散:BN;开管扩散、箱法扩散、涂源法扩散;②液态源扩散:POCl3③气态源扩散:PH3,BH3按扩散形式来分类(杂质源→硅片)①气相→固相扩散(三种源都可用)②固相→固相扩散③液相→固相扩散按杂质扩散进入硅片后的分布形式分类:恒定表面源扩散分布(余误差分布)和有限表面源扩散分布(高斯分布)按扩散系统分类:开管和闭管两大类。恒定表面源扩散:在扩散过程中,Si片表面的杂质浓度始终不变;特点——在一定扩散温度下,表面杂质浓度Ns为由扩散温度下的固溶度决定;扩散时间越长,扩散温度越高,扩散进硅片内的杂质数量越多;扩散时间越长,温度越高,扩散深度越大。
4、有限表面源扩散:在扩散过程中,杂质源限定于扩散前淀积在晶片表面极薄层内的杂质总量Q,硅片内的杂质总量保持不变,没有外来杂质补充,也不会减少。特点——扩散时间越长,杂质扩散越深,表面浓度越低;扩散温度越高,杂质扩散得也越深,表面浓度下降得越多;在整个扩散过程中,杂质总量Q保持不变;表面杂质浓度可控。两步扩散工艺:在较低温度(800—900℃)下,短时间得浅结恒定源扩散,即预淀积(预扩散);将预淀积的晶片在较高温度下(1000—1200℃)进行深结扩散,最终达到所要求的表面浓度及结深,即再分布(主扩散)。3.光刻光刻:通过光化学反应,将光刻版(mask)上的图
5、形转移到光刻胶上。刻蚀:通过腐蚀,将光刻胶上图形完整地转移到Si片上。光刻三要素:①光刻机②光刻版(掩膜版)③光刻胶主要步骤:涂胶、前烘、曝光、显影、坚膜、刻蚀、去胶。两种基本工艺类型:负性光刻和正性光刻。涂胶方法:浸涂、喷涂、旋涂。前烘作用:促进胶膜内溶剂充分挥发,使胶膜干燥;增加胶膜与SiO2(Al膜等)的粘附性及耐磨性。曝光方式:接触式(硅片与光刻版紧密接触);接近式(硅片与光刻版保持5—50um间距);投影式(利用光学系统,将光刻版的图形投影在硅片上)。显影作用:将未感光的负胶或感光的正胶溶解去除,显现出所需的图形。坚膜作用:使软化、膨胀的胶膜与硅
6、片粘附更牢;增加胶膜的抗蚀能力。刻蚀方法:干法刻蚀(腐蚀液是活性气体,如等离子体);湿法刻蚀(腐蚀剂是化学溶液)。去胶方法:干法去胶(O2等离子体);湿法去胶(负胶H2SO4、正胶丙酮)4.金属化金属化:金属及金属性材料在IC中的应用。分类:(按功能划分)①MOSFET栅电极材料—MOSFET器件的组成部分;②互连材料—将各个独立的元件连接成为具有一定功能的电路模块;③接触材料—直接与半导体材料接触的材料,以及提供与外部相连的接触点。常用金属材料:Al、Cu、Pt、Au、W、Mo等常用金属性材料:掺杂的poly-Si;金属硅化物——PtSi、CoSi2、W
7、Si2;金属合金——AlSi、AuCu、CuPt、TiB2、SiGe、ZrB2二、二极管制作1.工艺流程N/N+衬底——氧化生长——光刻窗口——P型扩散——光刻接触孔——金属淀积——AL反刻——合金——测试2.工艺条件工艺名称工艺条件工艺结果氧化温度T:1150℃时间t:5(干)+50(湿)+10(干)min流量:80ml/mindox:365nm光刻一t(曝光):3.7st(显影):2.5min腐蚀t():3min16s去胶t:10min硼预淀积温度T:920℃时间t:23min流量:80ml/minR:562~888硼再扩散温度T:1150时间t:15
8、(湿)+10(干)min流量:80ml/min:0R:37.7~5
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